声表面波和体声波

适用于表面声波(SAW)和体声波(BAW)的精密振动测量解决方案

非接触式精准表征声表面波(SAW)

声表面波(SAW)滤波器作为一类依托声表面波实现功能的电子元件,从本质上讲,它属于机械滤波器的范畴。这类滤波器凭借其出色的性能优势,在诸如移动电话通信等高频应用领域中,已然成为不可或缺的关键部件。在新型 SAW 元件的研发进程里,对声表面波表面的微声学特性加以优化,无疑是核心任务之一。

SAW 具备频率高、声程短以及振动幅度微小等特性,这就对表面波的测量以及可视化呈现提出了极为严苛的技术要求。在现有的测量手段中,使用激光测振仪成为能够对这类系统实施振动测量的少数有效解决方案之一。

德国 Polytec 公司所推出的激光多普勒测振仪,堪称一款功能强大的测量设备。它能够在全频率范围内开展非接触式表征作业,即便是在面临复杂的宽带激励情况时,也能够稳定、精准地获取测量数据。该设备能够以极为直观、震撼的方式,将 SAW 的振型可视化呈现,助力研究人员清晰洞察其形态变化。不仅如此,借助这一设备,研究人员还能够深入探究 SAW 的瞬态响应过程以及弛豫行为,全面剖析其动态特性。在实际应用中,该设备的主要成果体现在能够精准确定滤波器的各项关键特性,如滤波特性以及性能损耗(泄漏)等重要参数,为 SAW 元件的性能优化与品质提升提供坚实的数据支撑 。

Download:

Get your download link by email within a few minutes.

高频领域声表面波在研发阶段的测试应用

声表面波(SAWs)的应用范畴极为广泛,其不仅在电子滤波器领域大显身手,在微流体应用方面同样扮演着举足轻重的角色。具体而言,在微流体场景下,SAWs 能够实现对生物材料液滴的精准靶向操控,这一特性为诸多前沿研究与应用奠定了基础,比如在芯片实验室技术中,对生物样品的精确处理就依赖于此。

在研发这类芯片实验室组件的过程中,深入探究组件表面动力学特性是至关重要的环节。德国 Polytec 公司的 MSA 系列高频显微式激光测振仪,凭借其独特优势,成为了这一研究的得力工具。该系列测振仪采用非接触式光学测量方式,避免了对测试样品的物理干扰,确保测量结果的准确性;具备极宽的频率带宽,能够捕捉到不同频率下表面动力学的细微变化;同时,高分辨率特性使得测量数据更加精确,能够呈现出表面动力学的复杂细节。基于这些优势,科研人员能够借助该系列测振仪,对芯片实验室组件开发过程中的表面动力学进行全面、深入的检测与分析,有力推动相关技术的创新与发展 。

Dynamic measurement of a SAW surface acoustic wave filter

显微结构的振动测量

相關產品與服務

MSA-600 显微式激光测振仪

MSA-600 显微式激光测振仪专为 MEMS 及显微结构测量而打造,是一款能够获取三维静态与动态特性的一体化光学测量解决方案。它在加速产品开发流程、优化产品质量控制方面表现卓越,甚至可集成至商用探针台,用于晶圆级测试。目前,该仪器的性能已提升至高达 8 GHz。

MSA-100-3D 显微式激光测振仪

3D显微式激光测振仪同时记录XYZ三个方向的振动分量,测试带宽覆盖DC~25 MHz,每向的振幅分辨率均达到亚皮米级,可用于面内和面外振动测试。

MSA-060显微式激光测振仪

MSA-060显微式激光测振仪是一款紧凑型光学测量系统,用于全面评估MEMS和微系统的振动特性、精密机械动力学和电子产品的可靠性,测试带宽覆盖DC~24MHz。 系统采用激光作为探测手段,以非接触、无损检测方式帮助用户获取被测微型元器件的动力学特性。

MSA-650 IRIS 显微式激光测振仪

Polytec全新的最先进的且已获得专利技术的MSA-650 IRIS显微式激光测振仪,是目前世界上唯一能透过硅封装结构(无需拆除硅帽)获取硅器件面内和面外动态特性的系统,测试带宽覆盖DC~25 MHz。

MSA IRIS 测试服务

这项全新的专利测量技术,能对硅封装微机电系统(MEMS)开展全方位、极具代表性的分析工作,即便隔着硅封盖,也能精准测量其动力学特性。Polytec 的专业团队满怀热忱,期待接收您的封装 MEMS 样品,为您提供模态测试服务,深入进行可行性研究。无论您的封装微结构正处于开发、原型制作,亦或是生产的任一阶段,我们都能全程为您提供专业咨询 。

与Polytec专家进行交流

我們的專家團隊隨時準備為您的專案提供量身訂製的測量解決方案,或協助您測量真正重要的數據——立即與我們聯繫。