為何選擇Polytec進行光學表面測量技術
Polytec光學轮廓仪系列儀器結合先進白光干涉技術與堅固的光學設計,無論在實驗室或生產現場,皆能提供可靠的3D表面數據。您將獲得以下優勢:
- 寬廣樣品適應性:具備大視野範圍與寬廣Z軸測量範圍
- 透過真實拼接技術、相關圖評估及穩健光學設計實現高精度與穩定性
- 直覺化軟體、配方工作流程及實用配件,實現簡易操作與自動化
- 低噪音設計與環境補償技術,適用於實驗室及生產現場
- 提供線上演示、可行性研究、租賃方案及合約式量測服務等多元入門途徑
- 長期合作夥伴:具備客製化專業技術、全球服務網絡及四年保固期
What this means for your surface metrology tasks:
Optical profilometers designed for real applications — from microscope-based systems for microstructures to telecentric solutions for large-area form measurement
Proven measurement expertise through feasibility studies and contractual measurements on customer samples
Reliable results beyond the lab, supported by robust system design, environmental compensation, and automation-ready concepts
Global service and long-term partnership, including training, customization, modernization, and a 4-year warranty
Flexible access models, from demos and feasibility checks to rental, leasing, and measurement-as-a-service via PolyFlex

光學表面測量技術:從顯微鏡式到同軸系統
選擇符合您量尺、工作流程及精度需求的轮廓仪 型號。無論您處理的是微觀結構或大型機械部件,Polytec皆能提供適用的光學技術,實現可靠的3D地形測量。

微型分析儀
Micro.View systems are optimized for ultra-high-resolution measurements in the sub-nanometer range. With focused optics and high vertical resolution they enable detailed analysis of microstructures, surface finish and material distribution where even the smallest deviations matter.

巨觀分析器
Pro.Surf凭借其区域地形扫描技术,能更快地确定形状与平整度。其大Z轴范围的同轴光学系统可探测孔洞与凹陷表面,最大视场与真实拼接功能轻松应对大型样品及多样品测量。升级至Pro.Surf+,更可实现粗糙度分析一体化操作。

Metro.Lab
Metro.Lab是一款紧凑型广域表面轮廓仪。它将卓越的测量性能与小巧的占地面积完美结合,特别适用于空间或预算受限但仍需可靠3D表面数据的应用场景。
選擇合適的表面處理方案,請放心選用轮廓仪 ——透過我們的「先試用後購買」方案,讓您輕鬆獲益。

執行您的量測任務——輕鬆、精準、可重複
光學表面測量涵蓋廣泛的功能參數——從粗糙度與紋理到平面度、台階高度、厚度及摩擦學特性。以下介紹部分由客戶執行或於應用實驗室承接的合約測量服務案例。






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讓您的量測系統持續運轉的服務與支援
您的量測結果唯有在系統每日穩定運作時才具意義。Polytec 將全程支援您走過整個生命週期——從最初的可行性驗證,到長期維護、系統升級,以及透過 PolyFlex 實現的靈活系統存取。
- 可行性評估與諮詢服務,助您在投資前確立最佳配置方案
- 合約量測服務(PolyMeasure)提供快速專業成果
- 啟用、培訓與能力建構,確保順暢無虞的啟動體驗
- 校準、維護與維修服務,確保長期精準度
- 現代化升級服務,讓系統具備未來適應力
- PolyFlex彈性方案(租賃、租購、量測即服務)實現最大靈活性

轮廓仪 選擇合適的表面處理方案,請放心委託我們——讓我們為您的樣品執行可行性研究。

深化您在光學表面測量技術的專業知識
探索實用指南、標準解說與技術洞察,助您理解、比較並應用光學表面測量技術——無論您是評估系統或優化製程。

表面參數
Learn more about roughness, flatness, step-height and layer thickness.

ISO 21920 粗糙度
ISO 21920 is the new standard for mechanical engineering, design and roughness specifications

試用再購買優惠
Measure, rent, decide - on your terms. Make a confident decision about which surface profiler fits to your metrology strategy and safeguard your capital investment

