一位戴眼镜的男士微笑面对镜头,背景为多彩工业表面纹理图案,体现科技与专业形象。
高精度非接触式区域三维光学轮廓仪

三维光学轮廓仪

我们致力于简化选型与操作流程,助您轻松匹配适配生产工艺的表面计量系统。从初次咨询到获取稳定可靠的测量结果,专业团队全程为您保驾护航。

为何选择Polytec三维光学轮廓仪方案

Polytec在表面计量与白光干涉仪领域拥有数十年专业积淀。我们的三维光学轮廓仪融合先进白光干涉技术与坚固光学设计,无论在实验室还是在生产现场,均可提供稳定可靠的3D表面数据。

我们为您提供:

  • 追求最高分辨率还是最快 3D 扫描速度?既可实现亚纳米级分辨率的粗糙度测量,也可利用超大视场高效评估平面度
  • 经验丰富、值得信赖的合作伙伴,提供强大的应用支持与服务、4 年质保及终身软件更新
  • 值得信赖的高精度、高重复性测量性能
  • 操作简便,提供丰富的自动化选项,配备直观的软件、工作流程及扩展功能
  • PolyFlex 提供高度灵活的评估方案:包括演示、免费可行性分析、租赁、测量服务、培训及现场支持

 

4年
质保期
>20项
光学技术领域奖项
>1000家
客户信任之选

Free webinar "Optics, Diamond Turning & beyond" 

Short web talk about precision optics, Single-Point Diamond Turning and any form and texture measurements, detection of scratches and defects including measuring mid-spatial frequencies on precision optics. Nov 5th live incl. recording for all subscribers.

Web session "3D Characterization of Ultra Precision Machined & Sealing Surfaces"

精准计量,简单可靠,稳定复现

光学表面计量可检测多项关键参数,涵盖粗糙度、表面纹理、平面度、台阶高度、厚度及摩擦学特性。以下为部分客户应用案例,以及我们应用实验室提供的委托测量项目。

抛光表面的面粗糙度 Sa、Sq、Sz 可补充基于轮廓的线粗糙度 Ra、Rq、Rz,更全面地表征表面质量。
抛光表面的面粗糙度 Sa、Sq、Sz 可补充基于轮廓的线粗糙度 Ra、Rq、Rz,更全面地表征表面质量。
快速、大面积评估形状参数,如平面度、台阶高度和角度。
快速、大面积评估形状参数,如平面度、台阶高度和角度。
晶圆测量及精确台阶高度分析,例如 MEMS 和微系统中蚀刻结构的纳米级台阶。
晶圆测量及精确台阶高度分析,例如 MEMS 和微系统中蚀刻结构的纳米级台阶。
微结构表面检测,例如评估微电子器件引脚的圆度、高度和一致性。
微结构表面检测,例如评估微电子器件引脚的圆度、高度和一致性。
分析具有纳米级定义台阶的 DOE 衍射光学元件。
分析具有纳米级定义台阶的 DOE 衍射光学元件。
通过多种粗糙度参数评估进行摩擦学分析。
通过多种粗糙度参数评估进行摩擦学分析。
通过 3D 表面形貌检测实现 MEMS 压力传感器的质量控制。
通过 3D 表面形貌检测实现 MEMS 压力传感器的质量控制。

放心选用合适的三维光学轮廓仪,即刻体验我们的专业实力。

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专业服务与支持,守护计量稳定运行

系统稳定可靠,测量结果方能精准可信。Polytec提供覆盖设备全生命周期的专业支持:从前期可行性验证,到长期维护与系统升级,再到 PolyFlex灵活解决方案,全程相伴,保障无忧。

  • 投资前,提供可行性评估与专业咨询,量身定制测量方案
  • 委托PolyMeasure测量服务,快速获得专业、可靠的测量结果
  • 设备调试、专业培训与实操指导,助力设备平稳、高效投入使用
  • 校准、维护与维修服务,保障长期测量精度稳定可靠
  • 设备现代化改造与升级,确保系统持续适配未来发展需求
  • PolyFlex灵活方案(租赁、分期、测量服务),满足多样化应用场景
Polytec 总部及服务车辆,展现表面形貌测量的服务与支持

放心选择适合您的三维光学轮廓仪——让我们用您的样品进行可行性测试

Schedule your feasibility study with your sample

常见问题

什么是三维表面形貌测量?

三维表面形貌测量是指以非接触方式对表面特征进行三维测量,包括表面粗糙度、形状、台阶高度、平面度、厚度以及微观形貌等。Polytec 系统采用白光干涉技术采集可靠的三维表面数据,既适用于实验室分析,也适用于生产线上的质量控制。

触针式测量与光学表面测量有何区别?

触针式(接触式)轮廓仪通过物理探针在表面划过来测量单条二维轮廓线,速度较慢,并可能损伤精密工件。光学轮廓仪则以非接触方式测量完整的三维表面,可在数秒内采集数百万个测点。光学白光干涉技术具有更高的测量效率、不磨损样品,并能提供粗糙度、形状和台阶高度的真实面域数据。

三维光学轮廓仪可以测量哪些表面参数?

Polytec三维光学轮廓仪可测量范围广泛的功能性参数,包括表面粗糙度与纹理(依据 ISO 21920)、平面度、台阶高度、平行度、膜层厚度、波纹度以及完整的三维微观形貌。由于采用面域测量而非单条轨迹测量,您可在一次采集中获得完整的表面信息。

什么是白光干涉技术(WLI)?

白光干涉技术是一种光学测量方法,通过分析宽带光源产生的干涉条纹来测量表面高度。它可在整个视场范围内实现亚纳米级的垂直分辨率,因此非常适合对光滑表面和结构化表面进行精密、非接触的三维测量。

如何在显微式轮廓仪与大视场轮廓仪之间做出选择?

选择取决于样品尺寸以及需要分辨的特征尺度。诸如 Micro.View 的显微式轮廓仪针对微结构和精细表面质量进行了优化,具有亚纳米级分辨率;而诸如 Pro.Surf 的宏观轮廓仪则用于测量大型工件和料盘上的平面度、台阶高度与形状。如果您不确定,我们的团队可针对您的工件进行可行性研究,以确认最合适的选择。

欢迎与我们的专家探讨您的需求

让我们先简要讨论您的零件、公差要求与工作流程——如果您认为有帮助,后续可选择性地追加可行性研究、PolyMeasure合约测量服务或PolyRent试用方案作为后续步骤。

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