形貌测量
测量表面形状和粗糙度
通过非接触式面扫描获取三维形貌数据，数据可溯源且测量重复性高。
拥有大视野范围，Z 向分辨率达亚 nm 级！
Polytec：超越计量的卓越表现。凭借深厚的技术沉淀与持续创新，在精密测量领域树立全新标杆，以超凡性能重新定义计量的价值与边界!
您正在面对哪些表面形貌测量难题？
在对精密加工而成的功能性复杂表面开展全面、细致的三维特性分析时，唯有可靠、高效且精准的测量技术，才能满足严苛要求。通过确保产品功能正常，在早期阶段就精准定位缺陷，企业不仅能有效规避不必要的成本，还能全方位提升产品品质，显著延长产品使用寿命。
Polytec 旗下的 TopMap 系列产品，运用创新型高精度非接触式光学技术，无论是粗糙表面、光滑表面，还是阶梯状表面，均可实现精准测量，轻松应对各类表面测量任务。TopMap 系列传感器中的白光干涉仪技术成熟，在实验室质量管控、生产现场检测，以及流水线在线监测等场景中广泛应用，堪称光学质量检测的不二之选。
无论是大视野下的形状参数与阶跃高度，还是追求亚 nm 级分辨率，完成粗糙度与纹理分析；无论待测对象是精密机械部件、光学元件，亦或是微观结构 ——TopMap 光学表面测量技术，都能以卓越的性能，一站式满足您的全部测量需求，带来前所未有的精准测量体验！
需要测量形状、台阶高度和粗糙度？检测对象是光学元件、密封表面，还是微观结构？
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表面纹理的3D测量
表面纹理或光洁度定义了工件的粗糙度、波浪度和平面参数。精密表面的特定三维纹理会影响其外观、摩擦力、耐腐蚀性等。根据 ISO 4287、ISO 25178 或新的由三部分组成的 ISO 21920 标准，TopMap 表面轮廓仪可在数秒内获取数百万个数据点进行区域评估。
表面粗糙度测量
使用 TopMap 白光干涉仪进行的表面粗糙度测量可在数秒内提供数百万个数据点，从而实现可重复和可靠的粗糙度分析。Ra、Rz......与 Sa Sz？Polytec 提供三维粗糙度轮廓仪，可根据 ISO 25178-1、-2、-3 和 ISO 4287、4288 和 ISO 3274 等标准进行粗糙度评估的等高线和线轮廓测量。请寄送您的样品进行免费的可行性研究，并测试一下等高线和光学粗糙度分析的工作速度。
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TopMap Micro.View®+ 作为新一代光学表面轮廓仪，采用创新模块化设计，能够以超乎寻常的精度，可靠攻克有关表面光洁度与微观结构领域中最为棘手的分析难题。其配备的 “寻焦器” 和 “焦点跟踪器”，时刻确保样品处于精准聚焦状态，搭配全电动定位装置，为实现自动化检测流程提供坚实保障。更多精彩，期待您来深入探究！
表面台阶高度
测量精密表面的阶梯高度，以控制功能工件表面的质量。使用光学表面轮廓仪以非接触方式测量三维阶梯高度。如何计算台阶高度？基于轮廓或线条的阶梯高度测量与基于等高线的阶梯高度测量之间的区别。
FTP：平面度、厚度、平行度
新的 Polytec FTP 平面度、厚度和平行度测量模块是一次性评估平面度、厚度和平行度的快速而全面的测量解决方案。 用于背面和正面测量的 FTP 测量模块可以改变精密机械（如制表业）、密封面、垫圈或光学元件等的质量控制。
TopMap Pro.Surf+
德国 Polytec 匠心打造一体化 3D 光学计量解决方案。这款超精密白光干涉仪，创新性地在多传感器系统内，融合了用于粗糙度轮廓测量的共聚焦色差传感器，以及几何参数与形状偏差的面测量技术。
Pro.Surf + 优势显著，既能凭借大视场实现大尺寸样本大面积形貌的精准测量，又能以nm 级分辨率细致刻画结构细节，无疑是相关测量需求的不二之选 。
请详细说明您的测量需求，并申请免费获取样品检测报告
技术指南：光学表面计量技术方案对比与剖析
想知道不同光学表面计量技术的优劣？这份指南对四种常见的表面测量方法进行了全面对比，助您快速掌握各项技术的优势与局限。从垂直和横向分辨率的差异，到光滑表面测量和粗糙度测量的最佳应用场景，再到拼接测量与否对结果的影响，都给出了详细的分析。帮助您依据实际需求，选择最契合的测量技术方案：
- 白光干涉测量技术
- 共聚焦显微镜技术
- 聚焦变化测量技术
- 色差共焦传感器技术
具有大视场（44×33...230×220 mm）或 Z 向亚分辨率达 nm 级的表面形貌测量仪？
应用领域
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专家！
实现强大的表面计量功能，开展可靠的质量检测工作，不仅需要深厚的专业知识、独到的行业洞察，更离不开专家团队的经验积累。Polytec 全新推出的 Micro.View® 与 Micro.View®+ 系列，作为新一代光学表面轮廓仪，凭借创新设计引领行业变革。
设备搭载的 “寻焦器” 和 “焦点追踪器”，突破了传统限制，无论面对何种复杂检测环境，都能大幅简化操作流程，显著提升使用便捷性。同时，CST 连续扫描技术革新性地将测量行程拓展至 100 mm，极大拓宽了测量范围，满足多样化的检测需求。
在缺陷检测环节，仪器借助最新的彩色信息成像分析技术，能够精准识别各类表面缺陷与视觉变形，并进行详细记录。而其配备的亚 nm 级分辨率技术，可对表面形貌进行高精度量化分析，捕捉每一处细微纹理与结构。
凭借这些前沿技术，Micro.View 系列产品为用户打造出全方位、高精度的表面质量控制解决方案，助力各行业迈向品质管控新高度。