用於精確三維表面測量的光學輪廓儀——從微觀到宏觀

光學輪廓儀是一種非接觸式測量系統，用於捕捉具有高垂直解析度的三維表面形貌。此類儀器通常基於相干掃描干涉技術（CSI），不僅能測量表面粗糙度，還能測量形狀、平面度、階梯高度及微觀結構，適用於廣泛的材料類型。

是的——許多企業在應用需求提升時，會從現有輪廓儀轉向採用Polytec 系統。當系統面臨極限挑戰時（例如：高反射表面等難測材料、樣本尺寸與拼接品質的提升需求，或更高自動化要求），Polytec 系統便能展現卓越優勢——專精於難測表面、大面積測量及可靠精準的拼接技術。

投資表面輪廓儀是重大決策——不僅涉及成本考量，更需評估現場資源投入（培訓、系統整合等）。因此我們建議徹底測試評估潛在系統。Polytec 提供可行性研究、PolyMeasure與PolyRent服務，助您做出具備前瞻性的投資決策。

表面輪廓儀是一項重大投資。自然會思考系統能否滿足您的短期與長期需求，並與您的量測策略相契合。

透過試用後購買方案，我們致力協助您從起點就找到最契合的輪廓儀。此舉讓您能在投資前驗證設備性能、工作流程及投資報酬率。

遠心光學系統（Pro.Surf / Metro.Lab）

...在高度範圍內保持放大倍率恆定，並提供長且安全的工作距離。在Pro.Surf與Metro.Lab系統上，此特性有助於測量近陡邊緣及孔洞內部，同時維持量測精度——特別適用於大型零件的平面度/平行度檢測。

聚焦顯微鏡光學系統（Micro.View ）

....專注於小視野的橫向解析度，實現豐富細節與亞奈米級分析。此類光學系統在微觀特徵與表面粗糙度檢測中表現卓越，但通常工作距離較短，因此對深孔/邊緣的檢測能力可能受限。

憑藉堅固耐用的設計、極少甚至無活動部件，以及SST（智能掃描技術）與ECT（環境補償技術），Pro.Surf系列與Micro.View+ 已具備線上與在線量測能力。而Metro.Lab作為簡易操作的台式解決方案，亦是常用的在線品質控制系統。

另一優勢在於Pro.Surf與Micro.Surf的模組化設計。感測器頭可作為獨立單元使用，輕鬆整合至您的製程中。

因此，Pro.Surf與Micro.View+ 憑藉其堅固的機械結構與穩定的感測技術，確實具備實現線上與旁線整合的完美特質。