光谱共焦测量原理
光谱共焦法作为光学测量技术中用于测量距离与厚度的方法,已成为表面计量领域工业界和学术界成熟的方法之一。入射白光经色散透镜成像后,沿Z轴形成连续分布的单色光,从而对光轴进行“颜色编码”。当物体处于该彩色光场中时,单一波长的光会固定在其表面上,并被反射回光学系统。反向散射光束穿过滤波针孔,随后由光谱仪采集。通过计算光束的特定波长,即可精确确定表面在测量场中的位置。光谱共焦技术能够实现可靠、准确且可重复的高分辨率尺寸测量。

在技术对比中,深入了解各类常见表面测量方法的优势与局限,涵盖垂直与横向分辨率、适用于光滑表面或粗糙度测量的最佳场景,以及是否需要进行图像拼接处理。
- 白光干涉测量法
- 共焦显微镜
- 焦点变化法
- 色差共焦传感器

欢迎浏览我们全系列的WLI(白光干涉仪)轮廓测量仪

三维光学轮廓仪
Micro.View 系列三维光学轮廓仪专为亚纳米级分辨率测量而优化。凭借聚焦光学系统与高垂直分辨率,可对微观结构、表面光洁度及材料分布进行精细分析——在最微小的偏差都可能影响性能的场景中,提供可靠的数据支撑。

大视场三维光学轮廓仪
Pro.Surf 可对大型工件及多样本料盘进行平面度、台阶高度与平行度检测——非接触、数秒完成。防碰撞远心光学系统可深入深孔内部进行测量,满足生产环节对精度与重复性的严苛要求。

表面粗糙度仪
Polytec表面粗糙度测量仪是迈入3D表面计量的入门级光学轮廓仪,Micro.View系列专为触针式用户升级打造。高性价比预配置,支持R参数与S参数评估,符合ISO标准。非接触式测量,亚纳米分辨率,可选电动载物台与以旧换新升级保障。





