色彩共焦技术
色散共焦法凭借独特原理，成为光学测量领域测量距离与厚度的成熟技术，广泛应用于工业生产和科研场景。入射的白光经色散透镜成像后，沿 z 轴形成连续分布的单色光，对光轴完成 “颜色编码”。
当物体进入这一彩色光场，其表面会反射特定波长的光，该反射光返回到光学系统中。反向散射光束穿过专门的滤波针孔，由光谱仪进行采集。
通过精确计算光束的波长，就能确定物体表面在测量场中的位置。凭借这一原理，色散共焦技术能够实现分辨率高、可靠性佳、精度出色且重复性好的尺寸测量。
在技術比較中深入了解各種常見表面測量方法的優勢與局限性，涵蓋垂直與橫向解析度、光滑表面或粗糙度測量的應用最佳點，以及是否需要拼接處理。
- 白光干涉測量法
- 共焦顯微鏡
- 焦點變化
- 色差共焦感測器
歡迎瀏覽我們豐富多樣的WLI剖面儀系列產品
微型分析儀
Micro.View systems are optimized for ultra-high-resolution measurements in the sub-nanometer range. With focused optics and high vertical resolution they enable detailed analysis of microstructures, surface finish and material distribution where even the smallest deviations matter.
巨觀分析器
Pro.Surf systems enable fast, area-based 3D topography measurements with telecentric optics. They support reliable inspection of flatness, shape, parallelism and step heights across wide fields of view and in-bore features.
Metro.Lab
Metro.Lab是一款紧凑型广域表面轮廓仪。它将卓越的测量性能与小巧的占地面积完美结合，特别适用于空间或预算受限但仍需可靠3D表面数据的应用场景。
選擇合適的表面處理方案，請放心選用轮廓仪 ——透過我們的「先試用後購買」方案，讓您輕鬆獲益。
相關報導與下載
Interview with Prof. Dr. Albert Weckenmann about optical and tactile surface measurement technology
We talked with Prof. Dr. Albert Weckenmann of the University of Erlangen-Nuremberg, Germany, about the limitations of tactile surface measurement technology and the opportunities of non-contact methods.
Overview of optical methods for surface metrology
For applications where tactile surface measurement techniques have shortcomings, non-contact optical instruments have been developed to overcome these shortcomings. Especially with the development of compu…
相干扫描干涉测量技术（CSI）
了解相干掃描干涉儀（CSI）的光學技術如何分析地形、形狀與粗糙度，並與相關光學表面檢測方法相比，其優勢所在、最佳應用點及實際應用範疇。
