ISO 21920:该标准对粗糙度测量的意义
ISO 21920 是机械工程、设计与粗糙度测量规范领域的新标准。Polytec 将带您了解这项新标准的制定动机、它对日常粗糙度和形状测量的影响、ISO 21920 三个部分的含义,以及在质量控制中的应用方法。
ISO 21920 是粗糙度测量轮廓测定的核心规范,取代并现代化了数十年前制定的部分标准,实现了标准的整体迭代升级。

表面粗糙度与光洁度因应用场景而异
机机械加工时,不仅要符合几何规格(如精确控制零部件尺寸)、满足形状和位置公差要求(如确定孔的位置),表面粗糙度对产品功能及长期性能也至关重要。无论是传统机械工程,还是电子、半导体、光学元件领域,均是如此。因应用场景不同,表面粗糙度要求相差几个数量级,范围从小于1 nm到几μm。


注:为便于对照国际标准,本文中的关键参数(Ra, Rz, Rq)均保留原文标记。



下载 ISO 21920 专属指南
阅读完整专属论文(需登录)了解:技术图纸的相关性(取代ISO 1302标准);为何ISO 21920不仅仅是粗糙度Ra(取代ISO 4287及ISO 13565-2/-3标准);以及如何获得有效的测量结果(取代ISO 4288标准)。

ISO 21920 标准的粗糙度理念
如上述案例所示,"粗糙度"是一个抽象概念,不同人基于自身视角和预期,对其理解可能存在差异。欢迎报名或联系我们,参加粗糙度主题网络研讨会。会上,我们将对粗糙度基本概念展开讲解,助力各方达成统一认知。

ISO 21920:构建粗糙度统一规范
ISO 21920 标准化旨在消除粗糙度规范解读的歧义,让设计部门和质量控制部门等沟通更清晰。 ISO 21920 对以下三项做出规定:
- 如何在图纸上标注
- 参数如何计算
- 如何对参数进行测量

下载免费的 ISO 21920 指南
免费 ISO 21920 指南中的表格直观清晰,为您展示:
- 测量与评估设定:Sc1至Sc5设置类别如何确定粗糙度测量与评估设置,涵盖S滤波器和L滤波器设置、取样长度、评定长度
- 参数详情:各设置类别的具体参数
- 术语对照:ISO 21920术语、被替代的旧术语,以及相应的翻译术语

如何使用 Polytec白光干涉仪测量表面粗糙度
白光干涉轮廓仪(WLI) —— 符合ISO标准的表面测量解决方案

表面粗糙度仪
Polytec表面粗糙度测量仪是迈入3D表面计量的入门级光学轮廓仪,Micro.View系列专为触针式用户升级打造。高性价比预配置,支持R参数与S参数评估,符合ISO标准。非接触式测量,亚纳米分辨率,可选电动载物台与以旧换新升级保障。

Micro.View
TopMap Micro.View® 是一款紧凑型台式光学轮廓仪,操作简便。作为高性价比的检测工具,它可对精密加工表面进行亚纳米级分辨率的检测,适用于粗糙度、微观结构及其他表面细节的评估。

Micro.View+
Micro.View+ 是一款基于显微镜平台的高端表面轮廓仪,支持自动化操作与彩色成像。其能够实现与操作人员无关的、高重复性的粗糙度与纹理分析,可同时满足实验室研发与生产现场的质量控制需求。
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