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依据 ISO 21920 的粗糙度测量

网络研讨会:轻松实现粗糙度测量 

研讨会内容:从基于 ISO 21920 线粗糙度参数 Ra、Rq、Rz,到基于 ISO 25178 面粗糙度参数 Sa、Sq、Sz,更有实用技巧与方法…… 没时间参会?没关系 —— 立即注册观看回放!

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Web session "3D Characterization of Ultra Precision Machined & Sealing Surfaces"

ISO 21920:该标准对粗糙度测量的意义

ISO 21920 是机械工程、设计与粗糙度测量规范领域的新标准。Polytec 将带您了解这项新标准的制定动机、它对日常粗糙度和形状测量的影响、ISO 21920 三个部分的含义,以及在质量控制中的应用方法。

ISO 21920 是粗糙度测量轮廓测定的核心规范,取代并现代化了数十年前制定的部分标准,实现了标准的整体迭代升级。

不同尺度下的粗糙度测量示例(从µm到nm)

表面粗糙度与光洁度因应用场景而异

机机械加工时,不仅要符合几何规格(如精确控制零部件尺寸)、满足形状和位置公差要求(如确定孔的位置),表面粗糙度对产品功能及长期性能也至关重要。无论是传统机械工程,还是电子、半导体、光学元件领域,均是如此。因应用场景不同,表面粗糙度要求相差几个数量级,范围从小于1 nm到几μm。

High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface
高分辨率粗糙度测量(<1nm);抛光硅片表面的样品数据
Sa, Sz, Sq instead of Ra, Rz, Rq - Areal roughness measurement ISO 21920 - measuring roughness and surface form on precision parts Measuring roughness and surface form on precision parts Surface roughness measurement with cross section on organic material like leather for automotive interior parts Surface roughness measurement with cross section on organic material like leather for automotive interior parts Micro roughness with cross section of a wafer surface Micro roughness with cross section of a wafer surface High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface
Sa、Sz、Sq 取代 Ra、Rz、Rq:表面粗糙度测量 
注:为便于对照国际标准,本文中的关键参数(Ra, Rz, Rq)均保留原文标记。
Measuring roughness and surface form on precision parts
精密零件表面粗糙度与形状测量
Surface roughness measurement with cross section on organic material like leather for automotive interior parts
有机材料(汽车皮革)的表面粗糙度与截面测量
Surface roughness measurement with cross section on organic material like leather for automotive interior parts Micro roughness with cross section of a wafer surface Micro roughness with cross section of a wafer surface High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface
晶圆表面截面的微观粗糙度

下载 ISO 21920 专属指南

阅读完整专属论文(需登录)了解:技术图纸的相关性(取代ISO 1302标准);为何ISO 21920不仅仅是粗糙度Ra(取代ISO 4287及ISO 13565-2/-3标准);以及如何获得有效的测量结果(取代ISO 4288标准)。

ISO 21920 标准的粗糙度理念

如上述案例所示,"粗糙度"是一个抽象概念,不同人基于自身视角和预期,对其理解可能存在差异。欢迎报名或联系我们,参加粗糙度主题网络研讨会。会上,我们将对粗糙度基本概念展开讲解,助力各方达成统一认知。

ISO 21920:构建粗糙度统一规范

ISO 21920 标准化旨在消除粗糙度规范解读的歧义,让设计部门和质量控制部门等沟通更清晰。 ISO 21920 对以下三项做出规定:

  • 如何在图纸上标注
  • 参数如何计算
  • 如何对参数进行测量

下载免费的 ISO 21920 指南

免费 ISO 21920 指南中的表格直观清晰,为您展示:

  • 测量与评估设定:Sc1至Sc5设置类别如何确定粗糙度测量与评估设置,涵盖S滤波器和L滤波器设置、取样长度、评定长度
  • 参数详情:各设置类别的具体参数
  • 术语对照:ISO 21920术语、被替代的旧术语,以及相应的翻译术语

如何使用 Polytec白光干涉仪测量表面粗糙度

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