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粗糙度依據 ISO 21920

ISO 21920:该标准对粗糙度测量的意义

ISO 21920 是机械工程、设计和粗糙度规范方面的新标准。Polytec 将带您了解这项新标准的制定动机,它对日常粗糙度和形状测量的影响,ISO 21920 三个部分的含义,以及在质量控制中的应用方法。

ISO 21920 是粗糙度轮廓测定的核心规则,取代了部分沿用数十年的旧标准,实现了标准的迭代升级 。廓測量核心規範體系,取代並現代化了數十年前制定的部分標準。

Roughness measurement example in different scales from µm to nm

表面粗糙度与光洁度因应用场景而异

机械加工时,不仅要符合几何规格(如精确控制零部件尺寸),满足形状和位置公差要求(如确定孔的位置),表面质量对产品功能及长期性能也极为关键。无论是传统机械工程,还是电子、半导体、光学元件领域,均是如此。因应用场景不同,表面粗糙度要求相差几个数量级,范围从小于 1  nm 到几 μm  。

High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface
High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface
Sa, Sz, Sq instead of Ra, Rz, Rq - Areal roughness measurement ISO 21920 - measuring roughness and surface form on precision parts Measuring roughness and surface form on precision parts Surface roughness measurement with cross section on organic material like leather for automotive interior parts Surface roughness measurement with cross section on organic material like leather for automotive interior parts Micro roughness with cross section of a wafer surface Micro roughness with cross section of a wafer surface High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface
Sa、Sz、Sq 取代 Ra、Rz、Rq - 表面粗糙度測量 (注:根據語境,將原文中的"Ra, Rz, Rq"轉化為"Ra, Rz, Rq",並在括號內保留原始標記,以符合技術文獻的標準寫法)
Measuring roughness and surface form on precision parts
精密零件表面粗糙度與形狀測量
Surface roughness measurement with cross section on organic material like leather for automotive interior parts
有機材料(汽車皮革)之表面粗糙度與橫截面測量
Surface roughness measurement with cross section on organic material like leather for automotive interior parts Micro roughness with cross section of a wafer surface Micro roughness with cross section of a wafer surface High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface High-resolution roughness measurement <1nm; sample data of a polished silicon surface
晶圓表面橫截面的微觀粗糙度

下載 ISO 21920 專屬指南

閱讀完整獨家論文(需登入)了解:技術圖紙的相關性(取代ISO 1302標準)為何ISO 21920不僅僅是粗糙度Ra(取代ISO 4287及ISO 13565-2/-3標準)以及如何獲得有效的測量結果(取代ISO 4288標準)

粗糙度理念 ——ISO 21920 标准

如之前案例所示,“粗糙度” 是一个抽象概念,不同人基于自身视角和预期,对其理解可能存在差异。欢迎报名或联系我们,参加粗糙度主题网络研讨会。会上,我们将对粗糙度基本概念展开讲解,助力大家达成统一认知。

 

ISO 21920:构建粗糙度统一规范

ISO 21920 标准化旨在消除粗糙度规范解读的歧义,让设计部门和质量控制部门等沟通更清晰。 ISO 21920 对以下三项做出规定:

  • 如何在图纸上标注
  • 参数如何计算
  • 如何对参数进行测量

下载免费的 ISO 21920 指南

免费 ISO 21920 指南中的表格直观清晰,为您展示:

  • 测量与评估设定:Sc1 至 Sc5 设置类别如何确定粗糙度测量、评估设置,涵盖 S 滤波器和 L 滤波器设置、取样长度、评定长度
  • 参数详情:各设置类别的具体参数
  • 术语对照:ISO 21920 术语,被替代的旧术语,以及相应的翻译术语

如何使用 Polytec 白光干涉仪测量表面粗糙度 

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