测量MEMS微机构的动态特性和形貌

在微机电系统(MEMS)等微结构的测试与研发进程中,表面形貌分析以及动态特性解析与可视化发挥着极为关键的作用。这些技术对于验证有限元计算结果、判定串扰效应以及精准测量表面变形而言,堪称不可或缺的重要手段。MSA-600 显微式激光测振仪作为一款集多功能于一体的光学测量工作站,能够精准表征表面形貌以及面内和面外振动特性。

MSA-600-M/V 的测量频率可达 25MHz,特别适配于微机电系统、微机电系统麦克风及其他各类微系统。而 MSA-600-X/U 的测量频率可达2.5 GHz,对于高频微机电系统谐振器、声表面波(SAW)、体声波(BAW)等微声学器件以及更多相关器件的评估工作,无疑是理想之选。

首演:
MSA-600-S 作为一款专业级光学测量工作站,专用于高达 8 GHz的微器件的实时振动分析以及表面形貌测量。它堪称测试薄膜体声波谐振器(FBAR)、体声波(BAW)滤波器、表面声波(SAW)器件等 GHz 级微机电系统(MEMS)的理想之选 。

亮点

  • 专用于显微结构的一体化光学测量工作站
  • 真正的实时测量(无需数据后处理)
  • MSA-600-M/V 型测试频率高达25 MHz
  • MSA-600-X/U 型测试频率高达2.5 GHz
  • 新的 MSA-600-S 型测试频率高达8 GHz
  • 亚pm级的位移分辨率
  • 快速测量,振型可视化
  • 操作简便、直观
  • 自动化测试系统,易于集成至探针台
  • 用于FE模型验证的导入/导出功能(选配)

基于MEMS系统的一体化光学测量解决方案

基于MEMS系统的MSA-600显微式激光测振仪,集多种测量功能于一体,极大地提升了测量的灵活性与精准度,足以从容应对当下以及未来微结构的多样化测量需求。它能够精准输出三维动态及静态响应数据,不仅能显著增强器件性能,还可有效削减开发与制造成本。借助这些优势,它能够优化并大幅缩短设计周期,简化故障排查流程,显著提高良品率。

这款仪器搭载的高性能激光多普勒测振仪,响应速度极快,能够实时进行测量,位移分辨率可达亚 pm 级,其配备的白光干涉仪选件更是表现卓越,短短数秒内就能获取数百万个三维表面形貌数据点。MSA-600 操作流程简洁,用户界面设计直观,在科研、产品开发(R&D)以及质量控制(QC)等诸多领域,都是极具实力的光学测量解决方案。该微系统分析仪可与常见的探针台无缝兼容,在 MEMS 从原型制作到测试、故障排查的整个开发过程中,都能提供有力支持,助力您有效降低生产成本,大幅缩短产品推向市场的时间。

专门针对MEMS的8 GHz测试解决方案

全新推出的专业的光学测试工作站MSA-600-S终于和用户见面啦!MSA-600-S可用于结构振动测试和表面形貌测试,最高频率高达8 GHz!是用于研发GHz设备、质量控制过程中的参数评估、以及测试器件性能和可靠性的不二之选。MSA-600-S可测试高频设备,如FBAR(薄膜体声谐振器),以及其它GHz谐振器和设备。

晶圆级和单模测试

配件和组件

光学配件

Bright field objectives for Polytec Micro System Analyzers
Bright field objectives for Polytec Micro System Analyzers

A-MOB-xxxx 明场物镜

用于面外和面内振动测量:放大倍数可选 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x

三脚架,测试台,定位台

Portal stand for MSA Micro System Analyzer and TopMap 3D surface profiler
Portal stand for MSA Micro System Analyzer and TopMap 3D surface profiler

A-STD-TST-01 测试台

给客户足够的工作空间,z 轴电动控制,行程范围达 200 mm

A-STD-BAS-02 基座台

该设备为光学头提供坚固可靠的支撑。其所配置的手动调焦模块行程可达 100 mm,同时设有粗调与微调两种驱动方式,能满足不同精度要求的调焦操作。此外,该设备还设有接口,可便捷地与市面上常见的光学平台连接 。

Focus block for microscopic observations and measurements of MEMS with a MSA Micro System Analyzer from Polytec
Focus block for microscopic observations and measurements of MEMS with a MSA Micro System Analyzer from Polytec

A-STD-F50 调焦模块

行程范围 50 mm。具备粗调和微调功能,用于手动对传感器头进行 z 轴方向的调节。可与市面上现有的晶圆探针台连接。

隔振台,面包板

Active vibration isolation table
Active vibration isolation table

A-TAB-AIR-01 主动隔振台

配备主动水平调节功能的空气阻尼隔振台。适配于:A-STD-TST-01 测试台、A-STD-BAS-02 基座台。

Active electronically controlled vibration isolation table
Active electronically controlled vibration isolation table

A-TAB-ELC-01 主动隔振台

采用电子控制的音圈稳定装置,具有最高的隔振性能。适配于:适用于 A-STD-TST-01 测试台、A-STD-BAS-02 基座台。

Breadboard for optical testing of MEMS and microstructures with MSA Micro System Analyzers from Polytec
Breadboard for optical testing of MEMS and microstructures with MSA Micro System Analyzers from Polytec

A-BBO-ME02 面包板

带有公制孔位图案的面包板。尺寸规格为 900 mm ×600 mm。适配于 A-STD-BAS-02 基座台。

Breadboard for optical MEMS testing with a MSA Micro System Analyzer from Polytec
Breadboard for optical MEMS testing with a MSA Micro System Analyzer from Polytec

A-AVI-MELA 主动隔振面包板

通过电子控制以实现最高的隔振性能,带有公制孔位图案。尺寸规格为 600 mm ×800 mm。适配于 A-STD-BAS-02 基座台。

其它

Signal generator for microstructure analysis with Polytec MSA Micro System Analyzers
Signal generator for microstructure analysis with Polytec MSA Micro System Analyzers

A-ESG-001 外部信号发生器

用于高频、宽带样品激励。可通过 PSV 软件 进行远程控制。

Probe station for wafer level testing of MEMS and microstructures with a Polytec MSA Micro System Analyzer
Probe station for wafer level testing of MEMS and microstructures with a Polytec MSA Micro System Analyzer

A-SPK-0008 晶圆探针台模块

晶圆探针台模块搭配 A-PST-200P XY 定位台,共同构建起一个电动操作平台。该平台能够针对直径最大可达 200 毫米的晶圆以及基板,实现电气连接操作,并完成高精度测量任务 。

Vacuum chamber for microstructure analysis with Polytec MSA Micro System Analyzers
Vacuum chamber for microstructure analysis with Polytec MSA Micro System Analyzers

A-SPK-0010 真空探测模块

设有真空管道与吹扫管道,搭配可对四根电探针进行精准操控。


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