测量MEMS微机构的动态特性和形貌
在微机电系统(MEMS)等微结构的测试与研发进程中,表面形貌分析以及动态特性解析与可视化发挥着极为关键的作用。这些技术对于验证有限元计算结果、判定串扰效应以及精准测量表面变形而言,堪称不可或缺的重要手段。MSA-600 显微式激光测振仪作为一款集多功能于一体的光学测量工作站,能够精准表征表面形貌以及面内和面外振动特性。
MSA-600-M/V 的测量频率可达 25MHz,特别适配于微机电系统、微机电系统麦克风及其他各类微系统。而 MSA-600-X/U 的测量频率可达2.5 GHz,对于高频微机电系统谐振器、声表面波(SAW)、体声波(BAW)等微声学器件以及更多相关器件的评估工作,无疑是理想之选。
首演:
MSA-600-S 作为一款专业级光学测量工作站,专用于高达 8 GHz的微器件的实时振动分析以及表面形貌测量。它堪称测试薄膜体声波谐振器(FBAR)、体声波(BAW)滤波器、表面声波(SAW)器件等 GHz 级微机电系统(MEMS)的理想之选 。
亮点
- 专用于显微结构的一体化光学测量工作站
- 真正的实时测量(无需数据后处理)
- MSA-600-M/V 型测试频率高达25 MHz
- MSA-600-X/U 型测试频率高达2.5 GHz
- 新的 MSA-600-S 型测试频率高达8 GHz
- 亚pm级的位移分辨率
- 快速测量,振型可视化
- 操作简便、直观
- 自动化测试系统,易于集成至探针台
- 用于FE模型验证的导入/导出功能(选配)
晶圆级和单模测试
配件和组件
光学配件

A-MOB-xxxx 明场物镜
用于面外和面内振动测量:放大倍数可选 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x
三脚架,测试台,定位台

A-STD-TST-01 测试台
给客户足够的工作空间,z 轴电动控制,行程范围达 200 mm

A-STD-BAS-02 基座台
该设备为光学头提供坚固可靠的支撑。其所配置的手动调焦模块行程可达 100 mm,同时设有粗调与微调两种驱动方式,能满足不同精度要求的调焦操作。此外,该设备还设有接口,可便捷地与市面上常见的光学平台连接 。

A-STD-F50 调焦模块
行程范围 50 mm。具备粗调和微调功能,用于手动对传感器头进行 z 轴方向的调节。可与市面上现有的晶圆探针台连接。
隔振台,面包板

A-TAB-AIR-01 主动隔振台
配备主动水平调节功能的空气阻尼隔振台。适配于:A-STD-TST-01 测试台、A-STD-BAS-02 基座台。

A-TAB-ELC-01 主动隔振台
采用电子控制的音圈稳定装置,具有最高的隔振性能。适配于:适用于 A-STD-TST-01 测试台、A-STD-BAS-02 基座台。

A-BBO-ME02 面包板
带有公制孔位图案的面包板。尺寸规格为 900 mm ×600 mm。适配于 A-STD-BAS-02 基座台。

A-AVI-MELA 主动隔振面包板
通过电子控制以实现最高的隔振性能,带有公制孔位图案。尺寸规格为 600 mm ×800 mm。适配于 A-STD-BAS-02 基座台。
其它

A-ESG-001 外部信号发生器
用于高频、宽带样品激励。可通过 PSV 软件 进行远程控制。

A-SPK-0008 晶圆探针台模块
晶圆探针台模块搭配 A-PST-200P XY 定位台,共同构建起一个电动操作平台。该平台能够针对直径最大可达 200 毫米的晶圆以及基板,实现电气连接操作,并完成高精度测量任务 。

A-SPK-0010 真空探测模块
设有真空管道与吹扫管道,搭配可对四根电探针进行精准操控。