MSA-100-3D显微式激光测振仪

MEMS和微系统的三维振动测量

MSA-100-3D显微式激光测振仪

MEMS和微系统的三维振动测量

实物振动通常是三维的。虽然确实可以显示主要振动方向,但制造公差和其他因素也会导致其他空间方向上的振动分量。您可以使用MSA-100-3D显微式激光测振仪,以综合方式、在宽带宽范围内实时分析样品的动态行为。三个空间方向上的振动分量均以高分辨率同时记录,并作为集成数据记录进行分析。 无论振动方向如何,您都能获得激光振动计典型的亚皮米级振幅分辨率。

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亮点

实时振动测量,带宽高达 25 MHz
对面外和平面内位移均具有亚皮米级振幅分辨率
单点测量和全场测量
小于 4 μm 的微小激光光斑可实现最高的横向分辨率
38 毫米的大间距
与常见的MEMS探针台兼容

因为现实生活是三维的

凭借微米级激光光斑带来的高横向分辨率以及高达 25 MHz 的频率带宽,Polytec (MSA-100-3D )是表征微机电传感器和执行器(MEMS)、其他微结构以及生物样本的理想测量设备。

为了实现全场表征,MSA-100-3D 通过软件扫描样品,随后以图形方式呈现挠曲形状,从而对样品的整个表面进行分析。

MSA-100-3D 微系统分析仪光学3D测试系统,适用于MEMS与微系统
MSA-100-3D Micro System Analyzer 光学三维测试系统,适用于 MEMS 和微系统
三维空间中微型机械与生物探针的非接触式分析
微型机械和生物探针的三维非接触式分析
Polytec MSA-100-3D 微系统分析仪
Polytec MSA-100-3D 显微式激光测振仪

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