您用於深度表面研究與高效生產品質控制的軟體
TMS是Polytec專為TopMap 系列產品開發的表面形貌測量軟體。該軟體能以高吞吐量進行光學粗糙度與形狀參數的獲取、過濾、分析及記錄，並提供開放式架構以支援特定應用介面及例行任務的自動化評估。可透過以下模組擴展TMS功能：
- QC操作員介面——基於配方指引的品質控制，實現可重複檢測
- TMS Viewer – 精簡版檢測結果檢視與共享
- Polytec Update – 簡化更新與版本管理
這些模組共同支援深度研究分析，並在生產過程中實現高效且可追溯的品質控制。
TopMap QC Package 生產過程中的品質檢驗
TopMap 表面測量系統旨在監控製造流程，確保符合生產公差與製程能力要求。品質控制套件配備智慧功能與升級選項，專為品質管控任務設計，尤其適用於實際生產測試。深入瞭解品質控制套件如何支援3D表面檢測，特別是在嚴苛生產環境中的應用。
創新性環境補償技術（ECT）
在工廠生產線現場，振動、氣流及零件移動皆可能降低精密度並引發誤判。QC Verifier 能在生產線上提供可靠的合格/不合格判定，有效減少誤判與廢品率。其環境補償技術（ECT）能將精密測量結果與工廠環境干擾（如振動、噪音及移動）隔離，確保結果穩定且可追溯。
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從表面測量學到全面地形分析
Polytec針對TopMap 系列地形測量系統（TMS）的TMS Software ，提供豐富功能與選項，不僅能快速簡便地執行常規測量，更能滿足您對表面進行全面且細緻分析的需求：
- 干涉定位器可自動偵測待測表面
- 智慧表面掃描技術可實現不同反射與對比特性表面的測量
- 支援遮罩、輪廓與圖層操作
- 依據多種2D與3D表面參數進行評估
- 可依QS-Stat等標準匯出多種特性值
- 透過應用程式專用附加元件建立任務專屬使用者介面
- 提供幾何評估選項，適用於球體匹配及階梯高度、層厚與體積之測定
- 透過快速拼接多項測量結果（縫合技術）擴展最大橫向測量區域
- 擴充報告選項以傳送結果
TopMap 的「量測配方」概念，能大幅簡化特定量測任務中各項設定的定義（例如量測位置、照明設定、相機參數）及其評估參數（後處理步驟、視覺化選項、輸出設定）。尤其在製造環境中，TopMap 配方能將複雜的表面分析轉化為簡單的一鍵式操作。
量身打造，滿足您的需求
將表面測量技術緊密整合至製造流程，能為工業生產帶來顯著效益。唯有如此，檢測反饋方能實現即時且具成本效益的應對措施。
TopMap Polytec 的表面計量系統能協助調整製造參數，確保生產始終符合公差要求，並提升製程能力。
實現高效工作流程的軟體
將表面測量技術緊密整合至製造流程，能為工業生產帶來顯著效益。唯有如此，檢測反饋方能實現即時且具成本效益的應對措施。Polytec 的TopMap 表面測量系統，可協助調整製造參數、確保生產公差符合規範，並提升製程能力。
客製化硬體與系統
Polytec 提供基於您特定需求的個別客製化硬體與軟體解決方案，實現交鑰匙解決方案。例如，可選配玻璃補償功能以穿透透明材料進行測量。
憑藉模組化架構的硬體、先進軟體及整合能力，可針對客戶需求優化線上與離線系統。
