Micro.View compact 3D surface roughness profiler

Polytec表面粗糙度测量仪 —— 迈入3D表面计量的入门级光学轮廓仪

专为触针式系统用户打造,这款紧凑且经济的光学表面轮廓仪,助您轻松实现技术升级,全面评估3D粗糙度参数。

高性价比的3D表面粗糙度测量仪 

粗糙度测量仪是Micro.View系列的预配置版本——专为追求高性价比的入门级用户而设计。它采用与高端型号相同的高精度光学传感器测头,可对从哑光到高反光的各类工件进行可靠的3D粗糙度与纹理分析。

  • 符合ISO标准的粗糙度评估:轮廓线R参数 + 全表面S参数
  • 紧凑型台式设计
  • 可选配电动 XY 载物平台
  • 升级无忧保障:当您需要更多自动化功能时,提供极具吸引力的以旧换新方案
Surface Roughness measurement with optical profiler

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让我们先简短沟通您的零件、公差要求与工作流程;如有需要,后续可灵活追加可行性研究、PolyMeasure合约测量服务或PolyRent试用方案。

亮点概览

一款扎实可靠、高品质的粗糙度轮廓仪——是非接触式面阵粗糙度测量的理想入门之选。

应用领域

何时从触针式粗糙度仪升级到光学轮廓仪?

数十年来,触针式仪器以高效的方式测量单条轮廓线,实现对R参数(如Ra、Rz等)的快速检测。然而,与传统表面粗糙度仪相比,现代光学轮廓仪能够评估整个区域的面阵数据。这类面阵S参数已被ISO 25178等最新标准所采纳。

越来越多的客户正在向光学表面特性测量升级,其主要原因包括:

  • 无损伤测量:轻松应对敏感或软质表面
  • 更全面的纹理信息:获取完整表面形貌,而非单条迹线
  • 更早、更可靠地发现功能缺陷
  • 节省时间:通过更快的面阵扫描提升效率
  • 符合最新工业标准:满足ISO 25178等规范要求
Stylus and optical surface roughness measurement
技术特性

Polytec 3D表面粗糙度测量仪系统配置

粗糙度测量仪拥有 100 mm Z轴测量范围,并具有连续扫描技术,能够以亚纳米级分辨率测量复杂形貌。该设备采用紧凑型台式设计,电子部件高度集成,安装简便,易于操作。

粗糙度测量仪以预配置方案交付,在优化的入门级价格下提供卓越性能。两种配置均涵盖典型粗糙度评估所需的所有功能:

  • 光学头:具备亚纳米级分辨率能力,配5孔位物镜转塔
  • 紧凑型基座:集成隔振系统
  • 物镜配置:标配10倍物镜(更多物镜可选)
  • 专业软件:支持符合行业标准的粗糙度评估(ISO 25178、ISO 4287、ISO 4288、ISO 21920 及 ASME B46.1)
Micro.View Roughness Testers

有哪些选配方案?

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Use our try before buy offer for surface profiler
技术数据

表面粗糙度测量仪规格

表面形貌垂直范围(定位+测量)100 mm
测量噪声< 0.6 nm
重复性< 0.2 nm
测量能力样品反射率范围0.05 ~ 100 %
单次测量视场 ¹0.79 mm x 0.58 mm
采用拼接技术的最大测量面积 ¹171 mm2
测量点间距 ¹0.59 µm
有效数据点数135.2万(有效像素)
样品定位样品台尺寸140 mm x 140 mm
xy载物台

基础版:无

进阶版:75 mm电动行程(X/Y 轴)

倾斜 / 旋转载物台手动
软件功能符合行业标准的评价参数ISO 25178, ISO 4287, ISO 13565, ISO 21920, ASME B46.1
自动化功能测量与评估配方,支持真拼接(需搭配电动 XY 移动台)

配 10倍 物镜

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表面粗糙度测量常见问题解答

什么是光学表面粗糙度测量仪?

光学表面粗糙度测量仪采用白光干涉等光学技术,在不接触样品的前提下测量表面形貌。与沿单条轨迹扫描二维轮廓的触针式仪器不同,光学测量仪单次测量即可获取完整的三维表面数据,并同时输出符合 ISO 25178 标准的 R 参数(如 Ra、Rz)和面阵 S 参数(如 Sa、Sz)。

Ra 与 Sa 粗糙度参数有何区别?

Ra(算术平均粗糙度)是在单条二维轮廓线上测量得到的数值。而Sa是与之对应的三维参数,基于整个表面区域计算得出。根据 ISO 25178标准的定义,Sa 能够更全面、更具统计可靠性地表征表面粗糙度特征。

为什么选择非接触式光学测量而非触针式粗糙度测量?

非接触式光学测量消除了表面损伤的风险,支持完整的3D面阵分析而非单条轮廓线,实现亚纳米级垂直分辨率,单次扫描即可获取超过100万个数据点。它是精密表面、质量控制及研发应用的理想之选。

对比项探针式光学式
测量原理接触式,单条2D轮廓非接触式,面阵3D形貌
输出参数仅 R 参数(Ra, Rz等)R 参数+S 参数(Ra, Sa, Sz等)
分辨率微米级亚纳米级
ISO 25178认证合规
ISO 4278认证, 13565认证, 21920认证
磨损与维护触针存在磨损,需定期更换测量无接触磨损
重复性良好,但受触针磨损影响极高,稳定可靠
Polytec粗糙度测量仪符合哪些ISO标准?

Polytec粗糙度测量仪支持依据以下标准进行评估:ISO 25178认证(面阵表面纹理)、ISO 4287认证(轮廓法粗糙度)、ISO 13565认证(支承率)、ISO 21920认证(轮廓法)、ASME B46.1(表面纹理)

粗糙度测量仪适用于哪些用户?
  • 质量控制实验室——需要符合最新国际标准的检测要求
  • 高品质制造业——对精密表面处理与工艺过程有严苛需求
  • 高校与教学实验室——满足教学与基础研究中的表面测量需求
  • 研发部门——需要深入解析表面特性(如摩擦学分析等)

预约会议,与计量专家探讨您的检测需求

与我们的应用专家深入交流您的测量需求,共同探索最适合您检测任务的最佳方案——无论是初次技术交流、免费可行性研究,还是通过 PolyRent 租赁服务灵活获取设备。

需要更多功能?

如果您需要更强大的功能与扩展能力,Micro.View+ 将是您的理想选择:

  • 更大尺寸、全电动载物台
  • 高样品测量能力(最高 370 mm)
  • 电动物镜转塔
  • 闭环控制 + 聚焦追踪
  • 彩色视图:增强可视化效果与缺陷检测能力
  • 支持测头独立集成(在线集成)

欢迎了解我们的Micro.View系列,提供模块化配置方案与进阶自动化功能。如果您不确定哪款配置最适合,可通过以下方式获取支持:与专家交流、发起免费可行性研究,或通过PolyRent租赁系统先行试用。

Micro.View for surface roughness measurement and more

表面粗糙度相关信息