一款稳固耐用、高品质的轮廓仪，轻松开启面式非接触粗糙度测量
借助 Micro.View 粗糙度测量仪的标配机型，您既可获取经典的粗糙度线参数（Ra、Rz 等），也能采集真实的面域数据（Sa、Sq 等）——检测快速、非接触式测量、结果重复性好。
光学轮廓仪还具备更多优势：与触针式测量不同，光学表面轮廓仪可采集完整三维形貌，且不会损伤被测样品表面。
许多传统光学轮廓仪难以应对高反光、深色、低对比度及透明材质。Micro.View 凭借内置相关图算法与 SST 智能扫描技术 突破这一局限，可在不同采集参数下进行多次扫描，即便针对复杂材质也能实现稳定可靠的测量。
最终效果：可输出高精度三维数据，用于粗糙度、微结构、台阶高度及平面度评定，即便是极具测量难度的工件表面也可胜任。
凭借数十年行业经验，我们的工程师将相关图相位与包络评估技术和超低系统本底噪声相结合，实现亚纳米级垂直分辨率与极佳的三维数据清晰度。
如此高的测量精度，可助力工程师验证精密公差、优化生产工艺，并保障产品长期使用可靠性。
何时从接触式表面粗糙度仪升级改用光学轮廓仪？
数十年来，触针式仪器以高效方式单线扫描，快速检测轮廓线 R 参数。相较于传统表面粗糙度仪，现代光学轮廓仪可对整个面域进行评测。这类面域 S 参数已被 ISO 25178 等现行标准列为强制要求。
目前已有大量客户升级改用光学方式测量表面性能指标。完成这一升级转型的主要原因如下：
- 可测量易损、软性表面，且不会造成工件损伤
- 获取完整表面纹理，而非单一轨迹线条
- 更早、更可靠地发现功能性缺陷
- 面域测量速度更快，大幅节省检测时间
- 满足最新行业标准合规要求
Polytec 宝利泰粗糙度仪系列配置
这款粗糙度仪拥有100 mm的 Z 轴测量行程，搭载连续扫描技术（CST），可实现亚纳米级分辨率对复杂表面形貌进行测量。整机为便捷的台式一体化结构，电子系统内置集成，调试简单、操作便捷。
粗糙度仪以预配置整机版本出厂，以亲民的入门级售价，提供顶配性能。两款粗糙度仪配置版本，均具备常规粗糙度检测所需的全部功能：
- 搭载亚纳米级分辨率传感探头，配备五孔物镜转塔
- 紧凑型底座机架，内置减震隔振结构
- 标配 10 倍物镜（可选配更多倍率物镜）
- 配套分析软件，支持依据行业标准进行粗糙度评定：ISO 25178、ISO 4287、ISO 4288、ISO 21920 及 ASME B46.1
有哪些选配方案？
基础版
本款基础版粗糙度仪是性价比最高的轮廓测量仪，适用于标准工件及常规粗糙度检测。设备标配一体式手动俯仰倾斜载物台，可将被测样品调校至与光轴垂直。
高级版
若需测量中等尺寸工件且有自动化检测需求，推荐选用本配置机型。标配电动 75mm XY 平移载物台，并自带手动俯仰倾斜调节机构。可轻松完成样品对准，且定位结果可重复；支持自动化测量，并通过真实图像拼接技术拓展整体测量范围。
粗糙度仪技术规格
| 表面形貌性能 | 垂直行程（定位与测量） | 100 mm |
| 测量噪声 | < 0.6 nm | |
| 重复性 | < 0.2 nm | |
| 测量能力 | 样品反射率 | 0.05 ~ 100 % |
| 单次测量视场 ¹ | 0.79 mm x 0.58 mm | |
| 采用 True Stitching 拼接的最大测量面积 ¹ | 171 mm2 | |
| 测量点间距 ¹ | 0.59 µm | |
| 有效数据点数量 | 1.352.000（有效像素） | |
| 样品定位 | 样品台尺寸 | 140 mm x 140 mm |
| xy 移动台 | 基础版：无 高级版：X/Y 向电动行程 75 mm | |
| 倾斜 / 调平台 | 手动 | |
| 软件功能 | 符合行业标准的评价参数 | ISO 25178, ISO 4287, ISO 13565, ISO 21920, ASME B46.1 |
| 自动化功能 | 测量与评价流程配方、True Stitching（需搭配电动 XY 移动台） |
1 配 10x 物镜
下载
表面粗糙度测量常见 Q&A
什么是光学表面粗糙度仪？
光学表面粗糙度仪采用白光干涉等光学原理，实现非接触式表面形貌测量。区别于传统探针式设备仅能采集单条二维轮廓，光学粗糙度仪单次测量即可获取完整的三维表面数据，支持计算并输出符合 ISO 25178 标准的轮廓粗糙度 R 参数（如 Ra、Rz）与面粗糙度 S 参数（如 Sa、Sz）。
粗糙度参数 Ra 和 Sa 有什么区别？
Ra（算术平均粗糙度）是沿单条二维轮廓线定义的参数；而 Sa 是其对应的三维面粗糙度参数，基于整个被测表面区域计算得出。根据 ISO 25178 标准，Sa 能够提供更全面、统计上更可靠的表面粗糙度表征结果。
为什么选择非接触式而非探针式粗糙度测量？
非接触式光学测量可避免样品表面划伤或损伤，突破了传统单条轮廓测量的局限，实现了完整的三维面形分析；同时可提供亚纳米级垂直分辨率，单次扫描即可采集超过 100 万个数据点，是精密易损表面检测、工业质量控制与科研分析的理想选择。
| 对比项 | 探针式 | 光学式 |
|---|---|---|
| 测量原理 | 接触式二维单轮廓测量 | 非接触式三维面形测量 |
| 参数 | 仅支持 R 参数（Ra, Rz） | 支持 R 参数与 S 参数（Ra, Sa, Sz…） |
| 分辨率 | 微米级 | 亚纳米级 |
| ISO 25178 | 不支持 | 支持 |
| ISO 4278, 13565, 21920 | 支持 | 支持 |
| 磨损 / 维护 | 探针会磨损，需定期更换 | 测量无接触磨损 |
| 重复性 | 重复性较好，但会因探针磨损产生偏差 | 重复性极高，性能稳定 |
Polytec 粗糙度仪符合哪些 ISO 标准？
Polytec 粗糙度仪可按照以下主流国际标准执行表面评价：ISO 25178（三维面纹理标准）、ISO 4287（二维轮廓粗糙度标准）、ISO 13565（支承率曲线 / 轴承面积标准）、ISO 21920（轮廓滤波方法标准）及 ASME B46.1（美国表面纹理标准）。
这款粗糙度仪适合哪些用户？
- 需满足最新国际标准的质量控制实验室
- 对表面加工精度与工艺一致性有严苛要求的高端制造企业
- 高校及教学科研实验室
- 需开展表面特性深度研究的研发部门（如摩擦学、材料科学等领域）
Book a meeting to discuss your metrology demands with our metrology experts
Talk to our application experts about your requirements and explore the best options for your metrology task—from a first exchange of know-how to a free feasibility study or our rental options with PolyRent.
更多需求？
如果您需要更丰富的功能与更强的性能，Micro.View+ 是理想的升级之选：
- 更大行程的全自动样品台
- 支持高达 370 mm 高度的大型 / 高型样品测量
- 电动物镜转塔，一键切换不同倍率
- 搭载 Focus Tracker 焦点跟踪系统，实现闭环稳定测量
- 彩色视图功能，强化表面可视化效果，提升缺陷识别能力
- 支持传感器头的在线集成，适配产线自动化检测
Micro.View系列 提供灵活的模块化配置与进阶自动化功能，可根据您的需求定制方案。如果您仍不确定如何选择，可通过我们的渠道咨询技术专家、申请免费可行性研究，或通过 PolyRent 设备租赁服务先行试用。
