QTec® - 振动测试技术的革新
QTec®技术的问世，对光学振动测试的发展具有重要意义。从原理层面出发，它消除了散斑噪声，具备出色的光学灵敏度，可对各类具有挑战性的表面采集到高质量的动态特性数据。
其原因在于：QTec创新地采用多通道探测技术，凭借出色的信号质量保障试验结果真实可信。这项专利技术与成熟的红外Xtra光学头相结合，显著提升振动测试的效率，让测试过程更快速、更简便，测试结果也更贴近真实情况。
工作原理 - QTec® 多通道探测技术
被测表面特性
激光测振的信号质量取决于反射光强度。被测表面特性决定了反射光的空间分布，进而决定了光电探测器从空间位置上获取的信息。
QTec®技术
Polytec研发的全新专利QTec®技术能显著提高信噪比（SNR），可获取测试信号中的细节信息，为数据后处理带来便利。
QTec®可改善各类被测表面的测试结果，尤其适用于横向移动或旋转等具有挑战性的工程表面。
在保证信噪比的前提下，大幅减少数据平均运算的需求。
工程表面的散斑效应
对于光滑表面，反射光可无损地返回光探测器。而在实际场景中，测试常常是在光学粗糙的表面上进行。此时，光不再是被反射，而是发生散射，包含暗斑与亮斑，呈现颗粒状，并会随观察者的视角变化而变化。这就导致部分光无法返回光探测器，从而引入宽带噪声和信号失真。
解决方案：改变视角
QTec®外差多通道探测仪使用多个探测器，避免出现光探测器探测不到反射信号的情况。
每个探测器代表一个具有独特视角的观察者，对应独特的散斑图样。由于散斑图样具有随机性，多个探测器的信号组合可确保稳定的信号水平。
这种"多通道探测"使各类被测表面均能受益。
光学头内置的高速电子元器件可实时评估所探测到的信号质量，仅输出高质量信号，使QTec®光学头可兼容现有所有单通道控制器内置的解码器。
QTec®的测试不受被测表面性质限制，可应用到广泛的振动测试领域，提供更快速、更简单、更可靠的测试结果。
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