電子、半導體與太陽能技術的表面地形
您可將Polytec在半導體產業的多元化解決方案，靈活應用於電子與太陽能技術領域。以軟體領域為例，您可透過專屬應用介面執行合格/不合格分析。 Polytec提供電子接點檢測解決方案——既能分析BGA（球柵陣列）或「焊球」的高度，亦可檢測IC引腳的共面性。在Polytec，您還能找到適用於封裝高功率雷射二極體的專屬系統。
光學轮廓仪與振動計，適用於電子與半導體產業
巨觀分析器
Pro.Surf systems enable fast, area-based 3D topography measurements with telecentric optics. They support reliable inspection of flatness, shape, parallelism and step heights across wide fields of view and in-bore features.
微型分析儀
Micro.View systems are optimized for ultra-high-resolution measurements in the sub-nanometer range. With focused optics and high vertical resolution they enable detailed analysis of microstructures, surface finish and material distribution where even the smallest deviations matter.
显微式激光测振仪
随着微机电系统和MEMS快速发展，Polytec推出了高度创新的显微式测量系统产品线。Polytec的MSA系列显微式激光测振仪带宽可达数kHz，数MHz，甚至数GHz，以最高精度可靠地验证微系统的动力学特性和轮廓数据。MSA集多功能于一体，可用于确定传递函数、表征微器件的3D静态和动态特性，甚至可透过封装好的硅帽，获取其在工作条件下的整个层制结构。
選擇合適的表面處理方案，請放心選用轮廓仪 ——透過我們的「先試用後購買」方案，讓您輕鬆獲益。
