電子、半導體與太陽能技術的表面地形
您可將Polytec在半導體產業的多元化解決方案，靈活應用於電子與太陽能技術領域。以軟體領域為例，您可透過專屬應用介面執行合格/不合格分析。 Polytec提供電子接點檢測解決方案——既能分析BGA（球柵陣列）或「焊球」的高度，亦可檢測IC引腳的共面性。在Polytec，您還能找到適用於封裝高功率雷射二極體的專屬系統。
光學轮廓仪與振動計，適用於電子與半導體產業
宏观分析仪
Pro.Surf凭借区域形貌扫描技术，可更快地确定形状与平面度。其大Z轴范围的同轴光学系统可探测孔洞与凹陷表面，大视场与真实拼接功能可轻松应对大型样品及多样品测量。升级至Pro.Surf+，更可实现粗糙度分析的一体化操作。
微观分析仪
Micro.View系列针对亚纳米级的超高分辨率测量进行优化。凭借聚焦光学与高纵向分辨率，可对微结构、表面光洁度与材料分布进行精细分析，即便是细微的偏差也能精准捕捉。
显微式激光测振仪
随着微机电系统和MEMS快速发展，Polytec推出了高度创新的显微式测量系统产品线。Polytec的MSA系列显微式激光测振仪带宽可达数kHz，数MHz，甚至数GHz，以最高精度可靠地验证微系统的动力学特性和轮廓数据。MSA集多功能于一体，可用于确定传递函数、表征微器件的3D静态和动态特性，甚至可透过封装好的硅帽，获取其在工作条件下的整个层制结构。
选择合适的表面处理方案，请放心选用轮廓仪 ——透过我们的「先试用后购买」方案，让您轻松获益。
