最經濟實惠的 3D 表面粗糙度測量儀
粗糙度測試儀是採用預設配置的Micro.View 輪廓儀，專為提供高性價比的入門級系統而設計。它們採用相同的高精度感測器頭，可對從啞光到高反射性的元件進行精確測量，從而提供可靠的 3D 粗糙度與紋理分析。
- 符合 ISO 標準的粗糙度評估：採用
的 R 參數進行輪廓線分析，以及 S 參數進行全表面評估 - 緊湊型桌面設計
- 自動 XY 工作台（選配）
- 升級保證（若您需要額外的自動化功能，我們提供極具吸引力的以舊換新方案）
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一款堅固耐用、高品質的粗糙度測量儀，適合用於進行大面積、非接觸式粗糙度測量
透過Micro.View 粗糙度測量儀的各種配置，您不僅能獲取經典的粗糙度「線性」參數（Ra 、Rz 等），還能取得真實的面積數據（Sa 、Sq 等）——操作快速、非接觸且重複性高。
此外，光學輪廓儀還具備更多優勢：與探針測量不同，光學表面輪廓儀能完整捕捉三維表面形貌，且完全不會造成樣品表面受損的風險。
許多傳統的光學輪廓儀在測量高反射率、深色、低對比度或透明材料時往往難以應對。Micro.View 透過內建的相關圖與 SST 智慧掃描技術克服了此項挑戰，可於不同擷取設定下進行多次掃描。這使得即使在複雜材料上，也能進行可靠的測量。
結果：即使面對最具挑戰性的表面，也能獲得用於粗糙度、微結構、階梯高度及平整度評估的精密 3D 數據。
憑藉數十年的豐富經驗，我們的工程師將相關圖的相位與包絡線評估技術，與系統固有的低雜訊特性相結合。這使得垂直解析度達到亞奈米級，並呈現出卓越的 3D 數據清晰度。
此等精準度使工程師能夠驗證嚴格的公差、優化生產流程，並確保長期可靠性。
何時應從觸覺式表面粗糙度儀轉為使用光學輪廓儀？
數十年來，觸針式儀器一直以高效的方式測量單一線段，以快速檢測 R 型輪廓參數。相較於傳統的表面粗糙度測量儀，現代光學輪廓儀則能評估整個區域。此類面域 S 型輪廓參數是當前標準（如ISO 25178 ）所要求的。
我們觀察到越來越多客戶開始採用光學方法來測量表面特性。造成此轉變的主要原因包括：
- 無損測量敏感或柔軟表面
- 捕捉完整的表面紋理，而非單一測量軌跡
- 更早且更可靠地偵測功能性問題
- Sa透過更快速的區域測量節省時間
- 符合最新的工業標準
Polytec 3D 表面粗糙度輪廓儀的設置
憑藉 100 毫米的 Z 軸測量範圍及連續掃描技術（CST），此粗糙度測量儀能以亞奈米級解析度測量複雜的表面形貌。這款便捷的桌面型裝置配備整合式電子元件，既易於啟用，操作亦十分簡便。
該粗糙度測試儀以預設配置出貨，旨在以最優化的入門價格提供最佳性能。兩種粗糙度測試儀配置均具備進行典型粗糙度評估所需的所有功能：
- 具備亞奈米解析度能力的感測頭，以及 5 孔物鏡轉盤
- 配備整合式隔震裝置的緊湊型底座
- 10x 物鏡（可選配更多物鏡）
- 符合業界標準
（ISO 25178 、ISO 4287 、ISO 4288、ISO 21920 及ASME B46.1 ）的粗糙度評估軟體
有哪些選項可供選擇？
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表面粗糙度測試儀規格
| 表面形貌性能 | 垂直範圍 （定位與測量） | 100 毫米 |
|---|---|---|
| 測量雜訊 | < 0.6 奈米 | |
| 重複性 | < 0.2 nm | |
| 測量 | Sa樣本反射率 | 0.05 至 100 % |
| 測量區域1 | 0.79 毫米 × 0.58 毫米 | |
| 使用「真實拼接」技術時的最大測量區域1 | 171平方毫米 | |
| 測量點間距1 | 0.59 µm | |
| 數據點 | 1,352,000（有效像素） | |
| Sa簡單定位 | Sa簡單工作台尺寸 | 140 毫米 × 140 毫米 |
| XY 工作台 | 基本型：無 進階型：75 mm 電動行程（x 和 y） | |
| 傾斜/旋轉平台 | 手動 | |
| 軟體 | 符合業界標準的評估參數 | ISO 25178、ISO 4287 、ISO 13565 、ISO 21920 、ASME B46.1 |
| 自動化功能 | 測量與評估配方，True Stitching （配備電動 XY 載物台） |
1 組，配備 10x 物鏡
下載
表面粗糙度測量的問答集
什麼是光學表面粗糙度測量儀？
光學表面粗糙度測量儀採用光學技術（例如白光干涉法），可在不接觸樣品的情況下測量表面形貌。與僅能追蹤單一二維輪廓的探針式儀器不同，光學測量儀能在單次測量中完整捕捉三維表面，並根據ISO 25178 提供的標準，同時提供 R 參數（Ra 、Rz ）及面 S 參數（Sa 、Sz ）。
Ra 與Sa 這兩項粗糙度參數之間有何差異？
Ra (算術平均粗糙度) 是沿單一二維剖面線進行測量。Sa 則是其三維等效指標，是針對整個表面面積進行計算所得。Sa 能提供更全面且在統計上更可靠的表面粗糙度特徵描述，其定義詳見ISO 25178 。
為何要選擇非接觸式粗糙度測量，而非觸針式粗糙度測量？
非接觸式光學測量可消除表面受損的風險，能進行完整的 3D 面域分析（而非單一線性輪廓測量），達到亞奈米級的垂直解析度，並能在每次掃描中測量超過 100 萬個數據點。此技術非常適合用於精密表面、品質控管及研究應用。
| 評準 | 唱針 | 光學 |
|---|---|---|
| 原理 | 接觸式 2D 單線輪廓測量 | 非接觸式三維面積輪廓測量 |
| 參數 | 僅 R 參數 (Ra,Rz) | R 參數與 S 參數（Ra 、Sa 、Sz ……） |
| 解析度 | 微米級 | 亞奈米級 |
| ISO 25178 | 否 | 是 |
| ISO 4278、13565、21920 | 是 | 是 |
| 磨損／維護 | 測針會磨損，需定期更換 | 測量過程中無磨損 |
| 重複性 | 良好，但可能因測針磨損而有所波動 | 重複性極高且穩定 |
Polytec 表面粗糙度測量儀符合哪些 ISO 標準？
Polytec 粗糙度測試儀支援依據ISO 25178 （面積表面紋理）、ISO 4287 （輪廓粗糙度）、ISO 13565 （承載比）、ISO 21920 （輪廓法）以及ASME B46.1 進行評估。
粗糙度測試儀適用於哪些對象？
- 必須符合最新標準的品質控制實驗室
- 高品質的製造需要精確的表面處理與製程
- 大學及教學實驗室
- 需要深入了解表面特性（例如：摩擦學等）的研發部門
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- 更大且完全電動化的樣品載台
- 可測量高達 370 公釐的樣品
- 電動物鏡轉盤
- 閉環操作，Focus Tracker
- Color View 以提升視覺化效果與缺陷檢測能力
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