三維柔性電子元件特性分析
柔性電子技術在穿戴裝置、薄膜太陽能電池、射頻識別裝置，以及應用於汽車儀表板或醫療領域的顯示器等領域，開創了嶄新的應用疆域。對於所有這些應用場景，產品可靠性皆是關鍵品質指標。同時，市場對能協調處理訊號、通訊及能源產生的元件需求日益增長。
針對此類應用，白光干涉測量技術可一次性掃描混合式柔性電子產品的完整表面。這種光學非破壞性測量方法能全面表徵印刷電子元件的形狀參數、粗糙度及結構細節，有助確保電子產品的品質與功能性。
印刷電子元件的成形參數與表面粗糙度
掃描表面並評估三維高度資訊，可實現對印刷與柔性電子元件的快速可靠特性分析。Polytec的三維表面測量解決方案，為電子元件品質與印刷電子製程穩定性提供關鍵數據。其先進的色彩資訊模式有助於缺陷定位與判定。
針對柔性電子產品的線上整合及半自動/全自動製造流程，TopMap 感測器頭可輕鬆整合至生產線，提供客製化線上檢測解決方案。使用者可依需求管理並載入預設量測設定，透過量測配方實現生產層級的一鍵檢測。我們的PolyXpert團隊樂於在各專案階段提供支援，例如運用開放式軟體架構開發客製化流程與評估方案。
微電子特性分析
配合面轮廓仪
微型分析儀
Micro.View systems are optimized for ultra-high-resolution measurements in the sub-nanometer range. With focused optics and high vertical resolution they enable detailed analysis of microstructures, surface finish and material distribution where even the smallest deviations matter.
巨觀分析器
Pro.Surf凭借其区域地形扫描技术，能更快地确定形状与平整度。其大Z轴范围的同轴光学系统可探测孔洞与凹陷表面，最大视场与真实拼接功能轻松应对大型样品及多样品测量。升级至Pro.Surf+，更可实现粗糙度分析一体化操作。
Metro.Lab
Metro.Lab是一款紧凑型广域表面轮廓仪。它将卓越的测量性能与小巧的占地面积完美结合，特别适用于空间或预算受限但仍需可靠3D表面数据的应用场景。
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