三維柔性電子元件特性分析
柔性電子技術在穿戴裝置、薄膜太陽能電池、射頻識別裝置，以及應用於汽車儀表板或醫療領域的顯示器等領域，開創了嶄新的應用疆域。對於所有這些應用場景，產品可靠性皆是關鍵品質指標。同時，市場對能協調處理訊號、通訊及能源產生的元件需求日益增長。
針對此類應用，白光干涉測量技術可一次性掃描混合式柔性電子產品的完整表面。這種光學非破壞性測量方法能全面表徵印刷電子元件的形狀參數、粗糙度及結構細節，有助確保電子產品的品質與功能性。
印刷電子元件的成形參數與表面粗糙度
掃描表面並評估三維高度資訊，可實現對印刷與柔性電子元件的快速可靠特性分析。Polytec的三維表面測量解決方案，為電子元件品質與印刷電子製程穩定性提供關鍵數據。其先進的色彩資訊模式有助於缺陷定位與判定。
針對柔性電子產品的線上整合及半自動/全自動製造流程，TopMap 感測器頭可輕鬆整合至生產線，提供客製化線上檢測解決方案。使用者可依需求管理並載入預設量測設定，透過量測配方實現生產層級的一鍵檢測。我們的PolyXpert團隊樂於在各專案階段提供支援，例如運用開放式軟體架構開發客製化流程與評估方案。
微電子特性分析
配合面轮廓仪
微型分析儀
Micro.View systems are optimized for ultra-high-resolution measurements in the sub-nanometer range. With focused optics and high vertical resolution they enable detailed analysis of microstructures, surface finish and material distribution where even the smallest deviations matter.
巨觀分析器
Pro.Surf systems enable fast, area-based 3D topography measurements with telecentric optics. They support reliable inspection of flatness, shape, parallelism and step heights across wide fields of view and in-bore features.
Metro.Lab
Metro.Lab是一款紧凑型广域表面轮廓仪。它将卓越的测量性能与小巧的占地面积完美结合，特别适用于空间或预算受限但仍需可靠3D表面数据的应用场景。
選擇合適的表面處理方案，請放心選用轮廓仪 ——透過我們的「先試用後購買」方案，讓您輕鬆獲益。
