單次掃描捕捉高密度積體電路
為確保高功率雷射二極體（HPLD）能穩定運作，必須驗證其封裝外殼具備正確的平面度與階梯高度規格。為達成此目標，應採用經實證技術，該技術能捕捉最微小的高度差異，並提供快速可靠的測量結果。此處所指的正是Polytec的表面測量系統。
TopMap 光學3D表面測量系統能在大視野與大面積範圍內對雷射陣列中的二極體進行特性分析，直接在半導體表面解析「微笑曲率」與階梯高度。其大視野特性可於單次測量中捕捉所有細節，實現便捷、全面且高效的雷射二極體封裝檢測，同時維持高解析度表現。
用於二極體與電子元件的表面轮廓仪
微型分析儀
Micro.View systems are optimized for ultra-high-resolution measurements in the sub-nanometer range. With focused optics and high vertical resolution they enable detailed analysis of microstructures, surface finish and material distribution where even the smallest deviations matter.
巨觀分析器
Pro.Surf凭借其区域地形扫描技术，能更快地确定形状与平整度。其大Z轴范围的同轴光学系统可探测孔洞与凹陷表面，最大视场与真实拼接功能轻松应对大型样品及多样品测量。升级至Pro.Surf+，更可实现粗糙度分析一体化操作。
Metro.Lab
Metro.Lab是一款紧凑型广域表面轮廓仪。它将卓越的测量性能与小巧的占地面积完美结合，特别适用于空间或预算受限但仍需可靠3D表面数据的应用场景。
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