可靠測量高功率雷射二極體

單次掃描捕捉高密度積體電路

為確保高功率雷射二極體（HPLD）能穩定運作，必須驗證其封裝外殼具備正確的平面度與階梯高度規格。為達成此目標，應採用經實證技術，該技術能捕捉最微小的高度差異，並提供快速可靠的測量結果。此處所指的正是Polytec的表面測量系統。

TopMap 光學3D表面測量系統能在大視野與大面積範圍內對雷射陣列中的二極體進行特性分析，直接在半導體表面解析「微笑曲率」與階梯高度。其大視野特性可於單次測量中捕捉所有細節，實現便捷、全面且高效的雷射二極體封裝檢測，同時維持高解析度表現。

Micro.View系列针对亚纳米级的超高分辨率测量进行优化。凭借聚焦光学与高纵向分辨率，可对微结构、表面光洁度与材料分布进行精细分析，即便是细微的偏差也能精准捕捉。

Pro.Surf凭借区域形貌扫描技术，可更快地确定形状与平面度。其大Z轴范围的同轴光学系统可探测孔洞与凹陷表面，大视场与真实拼接功能可轻松应对大型样品及多样品测量。升级至Pro.Surf+，更可实现粗糙度分析的一体化操作。

Metro.Lab是一款紧凑型广域表面轮廓仪，将出色的测量性能与小巧的占地面积相结合，特别适用于空间或预算受限、但仍需可靠3D表面数据的应用场景。

两份简明指南将带您完成关键决策：一份帮助您选择合适的测量技术，另一份帮助您选择合适的测量尺度——微观还是宏观。此外，通过我们的先试后买服务，您可以用自己的工件实际验证您的选择。

让我们先简短沟通您的零件、公差要求与工作流程；如有需要，后续可灵活追加可行性研究、PolyMeasure合约测量服务或PolyRent试用方案。