為可靠的智慧型手機與行動裝置
智慧型手機、平板電腦及筆記型電腦所使用的製造元件公差,在生產過程中已受到極嚴格的品質管控。唯有透過生產線上的100%檢測(理想情況下應全程實施),才能確保所有生產與分銷的元件及成品行動裝置皆能持久穩定運作。觸控螢幕作為智慧型手機最重要的使用者介面,
您可透過Polytec的TopMap Pro.Surf 檢測其平整度,該設備在量測學角度上特別適合捕捉大面積表面。 Polytec的色差共焦感測技術可近乎即時提供厚度或高度讀數,讓您確信生產過程中的玻璃厚度符合標準。若需檢測微機電系統(MEMS)的極細微結構,則可選用TopMap系列顯微鏡系統。簡言之,Polytec的表面測量系統提供基礎數據保障,確保使用者隨時都能信賴其行動終端設備。
具有最宽视场角(FoV)的表面轮廓仪
在测量组件方面,Pro.Surf系列提供最高效的表面轮廓仪,其在样品材料、尺寸及复杂度方面具备无与伦比的灵活性。
立即体验Pro.Surf的卓越性能——您可观看在线演示或直接租赁系统。

相關應用與測量任務

晶粒鍵合
In epoxy die bonding, the accurate placement & attachment of the die is crucial for quality. Ask for TopMap surface metrology for die bonding process control.

柔性電子學
Polytec optical systems ensure process control and tolerance checks in printed and in-foil hybrid electronics with integrated chips

球柵陣列(BGA)
Optical measurement for ball grid array production & quality control. Precise bump height detection, bga warpage detection, testing of chip & ball tip flatness.

高功率雷射二極體
Reliable and fast 3D measurement results of high power laser diodes (HPLDs). Analyze flatness and step height with surface measurement from Polytec.

表面參數
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