探索光学表面测量领域的关键技术与标准。
深入了解精密光学表面分析背后的测量原理、标准及表面参数。本概述将引导您访问关于白光干涉测量、色散共焦技术、ISO 21920 粗糙度评估、形状偏差及表面表征的专门知识页面。
介绍白光干涉测量技术及其在非接触式面形测量中的优势
对工件表面进行全域表征,计算相关参数,并基于检测距离参数精准确定表面的峰谷特征。
ISO 21920 是面向机械工程、设计与粗糙度规范的新标准。
Chromatic共聚焦技术能够以高分辨率实现可靠、准确且可重复的尺寸测量。
了解有关表面粗糙度、平整度、台阶高度和层厚度的更多信息。
表面纹理指材料的表面形态,包括粗糙度、波纹度和纹理方向。
了解什么是表面粗糙度,Ra 、Rz 、Sa 和Sq 是如何定义的,以及在何种情况下应适用哪些标准。
根据 ISO 1101 和 ISO 12781 标准,测量表面平整度,并根据表面平整度公差对工件表面形貌进行表征
轮廓测量法通过分析面数据,可客观地测定层厚/刻蚀深度及均匀性,支持符合ISO标准的报告编制和生产统计过程控制(SPC)。
测量表面参数以控制涂层厚度,并优化涂覆工艺,从而最大限度地降低质量成本。
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