電子、半導體與太陽能技術的表面地形
您可將Polytec在半導體產業的多元化解決方案,靈活應用於電子與太陽能技術領域。以軟體領域為例,您可透過專屬應用介面執行合格/不合格分析。 Polytec提供電子接點檢測解決方案——既能分析BGA(球柵陣列)或「焊球」的高度,亦可檢測IC引腳的共面性。在Polytec,您還能找到適用於封裝高功率雷射二極體的專屬系統。
光學轮廓仪與振動計,適用於電子與半導體產業

大视场3D轮廓仪
Polytec大视场3D轮廓仪Pro.Surf系列,专为生产环境设计。远心光学与真拼接技术实现大面积形状、平面度快速测量,可选配粗糙度测量功能。单次视场44×33mm,70mm Z轴范围,支持自动化。提供四年保修及先试后买服务。

显微式形貌测量仪
Micro.View系列轮廓仪专为亚纳米级分辨率测量而优化。凭借聚焦光学系统与高垂直分辨率,可对微观结构、表面光洁度及材料分布进行精细分析——在最微小的偏差都可能影响性能的场景中,提供可靠的数据支撑。

显微式激光测振仪
随着微机电系统和MEMS快速发展,Polytec推出了高度创新的显微式测量系统产品线。Polytec的MSA系列显微式激光测振仪带宽可达数kHz,数MHz,甚至数GHz,以最高精度可靠地验证微系统的动力学特性和轮廓数据。MSA集多功能于一体,可用于确定传递函数、表征微器件的3D静态和动态特性,甚至可透过封装好的硅帽,获取其在工作条件下的整个层制结构。
放心选择适合您的表面轮廓仪——尽享“先试后买”服务











