Charakterisierung flexibler Elektronik in 3D-
Gedruckte und flexible Elektronik eröffnet neue Anwendungen in Bereichen wie Wearables, Dünnschicht-Solarzellen, Sensorik, Displays und medizinischer Technik. Gleichzeitig steigen die Anforderungen an Prozessstabilität, Funktionssicherheit und reproduzierbare Qualität der elektronischen Strukturen.
Leiterbahnen, Kontaktflächen, integrierte Chips und funktionale Schichten müssen auch auf flexiblen oder deformierbaren Substraten geometrisch präzise ausgeführt und zuverlässig geprüft werden. Bereits kleinste Abweichungen in Höhe, Struktur oder Materialverteilung können die elektrische Funktion und die Langzeitstabilität beeinträchtigen.
Formparameter und Flächenrauheit gedruckter Elektronik
Die optische 3D-Oberflächenmesstechnik auf Basis der Weißlichtinterferometrie ermöglicht eine flächenhafte, berührungslose Analyse gedruckter und flexibler Elektronik in einem einzigen Messvorgang. Dabei werden Höheninformationen, Formparameter, Flächenrauheit und strukturelle Details mit hoher Auflösung erfasst – zerstörungsfrei und reproduzierbar.
So lassen sich gedruckte Leiterbahnen, Schichtdicken, Übergänge, Kontaktflächen und integrierte Chipstrukturen zuverlässig charakterisieren und prozessrelevante Abweichungen frühzeitig erkennen.
Fertigung & Inline-Integration
Für den Einsatz in der Fertigung lassen sich TopMap-Messköpfe nahtlos in halb- oder vollautomatisierte Produktionslinien integrieren. Vordefinierte Messrezepte ermöglichen reproduzierbare Prüfungen auf Produktionsebene – von der Stichprobe bis zur Inline-Inspektion.
Die offene Softwarearchitektur erlaubt kundenspezifische Auswertungen und Routinen, etwa zur automatischen Fehlererkennung oder zur statistischen Prozessüberwachung. Polytec unterstützt Anwender dabei über alle Projektphasen hinweg – von der Applikationsberatung bis zur Integration in bestehende Fertigungsumgebungen.
Charakterisierung von Mikroelektronik
TopMap Surface Profiler - die passende 3D Messtechnik
Micro Profiler
Micro.View-Systeme wurden für ultrahochauflösende Messungen bis in den Sub-Nanometerbereich entwickelt. Die Kombination aus fokussierter Optik und hoher vertikaler Auflösung erlaubt eine präzise Analyse von Mikrostrukturen, Oberflächenbeschaffenheit und Materialverteilung, insbesondere bei Anwendungen, bei denen selbst minimale Abweichungen relevant sind.
Macro Profiler
Pro.Surf-Systeme liefern schnelle, flächenbasierte 3D-Topografiemessungen mithilfe telezentrischer Optik. Damit lassen sich Ebenheit, Formabweichung, Parallelität und Stufenhöhen zuverlässig prüfen – sowohl über weite Messfelder als auch bei Innenmerkmalen in Bohrungen.
Metro.Lab
Metro.Lab ist ein kompakter Tisch-Oberflächenprofiler für schnelle, großflächige 3D-Messungen. Hohe Messleistung bei geringer Stellfläche – ideal, wenn Platz oder Budget begrenzt sind, aber zuverlässige 3D-Oberflächendaten gebraucht werden.
Überzeugen Sie sich vor dem Kauf von der Leistung eines Profilers – nutzen Sie unseren „Try before buy“ Ansatz.
Verwandte Anwendungen und Messaufgaben
Besprechen Sie Ihre Anforderungen mit unseren Experten
Gerne erfahren wir mehr über Ihre Bauteile, Toleranzen und Herausforderungen. Basierend darauf können wir Empfehlungen zu Technologien und Systemen geben. Oder wir zeigen Ihnen in einer kurzen Demo, wie einfach und effizient Messungen mit dem passenden Polytec Profilometer durchgeführt werden – entweder an unseren Komponenten oder direkt an Ihrem Bauteil.
