Optische 3D-Oberflächenmesstechnik für Hochleistungslaserdioden
Hochleistungslaserdioden (HPLDs) stellen höchste Anforderungen an Ebenheit, Stufenhöhe und Geometrie ihrer Gehäuse. Bereits kleinste Abweichungen können die optische Leistung, thermische Anbindung oder Langzeitstabilität beeinträchtigen.
Die optische 3D-Oberflächenmesstechnik von Polytec ermöglicht eine flächenhafte, berührungslose Analyse von Hochleistungslaserdioden mit hoher Auflösung. Ebenheit, Stufenhöhen und typische Formabweichungen wie der sogenannte „Smile“ lassen sich zuverlässig erfassen, visualisieren und bewerten – in Entwicklung, Prozessoptimierung und Qualitätskontrolle.
Oberflächenprofiler für Dioden und elektronische Bauteile
Micro Profilometer
Micro.View Profilometer messen Rauheit, Textur, Mikrostrukturen und Finish mit sub-nm Auflösung. Mit fokussierter Optik und hoher vertikaler Auflösung ermöglichen sie eine detaillierte Analyse der Oberflächenbeschaffenheit und Materialverteilung und dort, wo kleinste Details den Unterschied ausmachen.
Macro Profilometer
Pro.Surf prüft Ebenheit, Stufenhöhe und Parallelität an großen Bauteilen und Mehrfach-Trays – berührungslos, in Sekunden. Die kollisionsfreie telezentrische Optik misst selbst in Bohrungen, mit der Präzision und Wiederholgenauigkeit, die die Produktion verlangt.
Roughness Deal Days
Sparen Sie 30 % auf den optischen Roughness Tester von Polytec: präzise, berührungslose 3D-Profilometrie mit Sub-nm-Auflösung. Angebot gültig bis 31. Oktober 2026.
Verwandte Anwendungen und Messaufgaben
Besprechen Sie Ihre Anforderungen mit unseren Experten
Gerne erfahren wir mehr über Ihre Bauteile, Toleranzen und Herausforderungen. Basierend darauf können wir Empfehlungen zu Technologien und Systemen geben. Oder wir zeigen Ihnen in einer kurzen Demo, wie einfach und effizient Messungen mit dem passenden Polytec Profilometer durchgeführt werden – entweder an unseren Komponenten oder direkt an Ihrem Bauteil.
