単一パスでのHPLDのキャプチャ
高出力レーザーダイオード（HPLD）の信頼性ある動作を保証するには、筐体の平坦度と段差高さが適正であることを確認することが重要です。そのためには、微小な高さ差を捉え、確実かつ迅速に測定結果を提供する実績ある技術を採用すべきです。ここで言うのは、Polytec の表面測定システムのことです。
TopMap 光学式3D表面計測システムは、広い視野角と広範囲測定によりレーザーアレイ内のダイオード特性を評価可能で、半導体基板上で直接「スマイル」表面曲率と段差高さを分析します。広い視野角により全詳細を1回の測定で捕捉するため、高解像度を損なうことなく、レーザーダイオード筐体の便利で包括的かつ効率的な検査を実現します。
ダイオードおよび電子部品用表面プロファイラー
マイクロプロファイラー
Micro.View systems are optimized for ultra-high-resolution measurements in the sub-nanometer range. With focused optics and high vertical resolution they enable detailed analysis of microstructures, surface finish and material distribution where even the smallest deviations matter.
マクロプロファイラ
Pro.Surf は、大型部品やマルチパートトレイの平面度・段差・平行度を非接触でわずか数秒で検査します。衝突を防ぐテレセントリック光学系は穴の内部まで測定でき、生産現場が求める精度と再現性を実現します。
