単一パスでのHPLDのキャプチャ
高出力レーザーダイオード（HPLD）の信頼性ある動作を保証するには、筐体の平坦度と段差高さが適正であることを確認することが重要です。そのためには、微小な高さ差を捉え、確実かつ迅速に測定結果を提供する実績ある技術を採用すべきです。ここで言うのは、Polytec の表面測定システムのことです。
TopMap 光学式3D表面計測システムは、広い視野角と広範囲測定によりレーザーアレイ内のダイオード特性を評価可能で、半導体基板上で直接「スマイル」表面曲率と段差高さを分析します。広い視野角により全詳細を1回の測定で捕捉するため、高解像度を損なうことなく、レーザーダイオード筐体の便利で包括的かつ効率的な検査を実現します。
ダイオードおよび電子部品用表面プロファイラー
マイクロプロファイラー
Micro.View systems are optimized for ultra-high-resolution measurements in the sub-nanometer range. With focused optics and high vertical resolution they enable detailed analysis of microstructures, surface finish and material distribution where even the smallest deviations matter.
マクロプロファイラ
Pro.Surf は広範囲をスキャンし、形状と平坦性をより迅速に測定します。Z 範囲の広いテレセントリック光学系は、高い段差や穴などの深い部分も測定可能です。最大の視野と True Stitching 機能により、大きな試験片、トレイ、または複数の部品を 1 回で測定します。Pro.Surf+ は、粗さ評価機能を追加して可能性をさらに広げます。
Metro.Lab
Metro.Lab is a compact, wide-area bench-top surface profiler. It combines high measurement performance with a small footprint — ideal for space- or budget-conscious applications that still require reliable 3D surface data.
自信を持って最適な表面プロファイラーをお選びください——「購入前に試用」という当社のアプローチのメリットを享受いただけます。
