Flächenhafte Rauheitsmessung
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Erfahren Sie, warum Sie mit optischer Messtechnik Ihre Oberflächendetails deutlich besser beschreiben können als mit herkömmlichen taktilen Messverfahren – und wie genau Sie von schnellen, flächenhaften Rauheitsauswertungen in 3D profitieren.
Optische vs. taktile Rauheitsmessung
Die Prüfung einer Oberfläche und insbesondere deren detaillierte Oberflächenbeschaffenheit wie Rauheit und Oberflächenparameter erfolgt üblicherweise mithilfe abtastender Messspitzen oder Tastschnittgeräten, wobei die Tastspitze über die Bauteiloberfläche geführt und dabei durch die Oberflächentextur vertikal ausgelenkt wird. Bei diesem Verfahren wird die Information über die Oberfläche entlang eines Profils (2D) gewonnen. Inwieweit die Reduzierung der Oberfläche auf einen Profilschnitt brauchbare Ergebnisse liefert, hängt maßgeblich von der Oberflächenbeschaffenheit und den funktionsrelevanten Anforderungen ab.
Weist die Oberfläche zufällig verteilte Strukturelemente auf, so wird das Ergebnis für den Rauheitskennwert stark von der gewählten Messposition beeinflusst. Die Beschreibung der Oberflächenbeschaffenheit als Profilschnitt genügt dann oftmals nicht mehr. Profilhafte Auswertungen erlauben nur eine begrenzte Aussage über die Ursache mangelnder Funktionsfähigkeit und beinhalten nur wenig Informationen für die Fertigungssteuerung.
Rauheitsmessung und Auswertung nach ISO 25178 schnell und flächenhaft
Dieses Video zeigt wie schnell Sie die Oberflächenrauheit an mechanischen Bauteilen, z.B. polierten Oberflächen, mit optischen Profilern wie den TopMap Weißlicht-Interferometern durchführen. Einfach Vergrößerung wählen, und der motorisierte Revolver sowie automatischer Focus Finder unterstützen bei der schnellen und flächenhaften 3D-Rauheitsmessung und -auswertung. Verwalten und laden Sie individuelle und vordefinierte Messrezepte für vereinfachte Schnellstarts zur Rauheitsauswertung und erstellen Sie per Mouseklick Berichte und teilen Sie Ihre Erkenntnisse über die Rauheitsauswertung z.B. hinsichtlich ISO 25178 und mehr.
Individuelle Rauheitsmessung und Auswertung?
Flächenhafte 3D-Rauheitsmessdaten
Die dreidimensionale Rauheitsmessung weist diese Einschränkungen nicht auf. Sie liefert nicht nur ein für die menschliche Auffassungsgabe leichter greifbares Abbild der Oberfläche, sondern erlaubt auch eine funktions- und strukturorientierte Auswertung. Aus den flächenhaft vorliegenden Messdaten können wiederum mühelos auch Linienprofile extrahiert und nach den klassischen Regeln der profilhaften Rauheitsauswertung bewertet werden. Im Unterschied zur taktilen Rauheitsmessung erfolgt die optische 3D-Rauheitsmessung berührungslos und rückwirkungsfrei, wodurch empfindliche Oberflächen nicht durch die Messung beeinträchtigt und beschädigt werden.
Flächenhaft ermittelte Rauheitsmessdaten geben ein vollständiges und leicht erfassbares Bild der gesamten Oberfläche wieder. Dagegen enthält ein Messprofil immer nur einen kleinen Ausschnitt des gesamten Bildes und ist zudem weniger intuitiv zu erfassen.
ISO-Richtlinien für flächenhafte und profilhafte Auswertung
Die Messketten für die flächen- bzw. profilhafte Auswertung werden in den jeweiligen Normenreihen ISO 25178 bzw. ISO 4287 beschrieben und unterscheiden sich im Detail voneinander.
Zugehörige Produkte
TopMap Micro.View
Micro.View® ist das Kompaktsystem der TopMap-Profilometer Serie als Einstieg in die optische Messung von Rauheit und Mikrostrukturen - für die kosteneffiziente Qualitätskontrolle von Toleranzen und Oberflächendetails an Präzisionsbauteilen.
TopMap Micro.View+
Micro.View®+ ist die neue Generation optischer 3D-Profilometer. Die modulare Messstation bietet Konfigurationsmöglichkeiten für die verlässliche, hochgenaue Prüfung feinster Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Focus Finder und Focus Tracker halten den optimalen Fokuspunkt, während es die vollmotorisierte Positioniereinheit ermöglicht auch automatisch und in-line Bauteile zu prüfen.
TopMap Pro.Surf+
Das neue All-in-one System von Polytec: Die Präzision eines Weisslicht-Interferometers ergänzt um chromatisch-konfokale Sensoren, um Formabweichungen und Rauheitsermittlungen mit einem Gerät zu meistern. Das TopMap Pro.Surf+ ermittelt großflächig und charakterisiert dabei Strukturen mit Nanometer-Auflösung.
