Oberflächeninspektion an Glas, Optiken und transparenten Elementen

Effiziente Mess- und Prüflösungen für die Qualitätskontrolle von Optiken, Glas und transparenten Materialien gesucht? TopMap optische Oberflächenmesstechnik sind flexible und einfach zu bedienende 3D-Profilometer zur Bestimmung von Formparametern wie Ebenheit, Stufenhöhe oder Parallelität, zur Schichtdickenmessung transparenter Layer - schnell, flächenhaft und mit Nanometer-Auflösung. Zudem ermöglicht Polytec kundenspezifische Lösungen, je nach Anforderungen an Rauheit, Geometrie oder Dicke. Profitieren Sie von hoher Präzision mit Datenqualität im (Sub-)Nanometerbereich sowie von großflächigem Scannen selbst größerer Prüflinge oder gar mehrerer Proben in einer einzigen Aufnahme. Messeffizienz trifft auf hohe Wiederholbarkeit: Inline, im Produktionkontext oder im Labor.

  • Messen von Linsen und Spiegeln
  • Design von Freiformoptiken
  • Prüfen von diffraktiven optischen Elementen (DOE)
  • Prüfem von Laser- und optischem Equipment usw.
Fast and complete 3D topography measurement of optics, lenses, freeform optics providing large area and high resolution data
Fast and complete 3D topography measurement of optics, lenses, freeform optics providing large area and high resolution data
3D characterization of polynomial freeform
3D characterization of polynomial freeform
High resolution topography data of optics, here of a micro prism array
High resolution topography data of optics, here of a micro prism array
Scratch and defect detection on optics and lenses, evaluating areal roughness Sa, Sq, Sz instead of Ra, Rq, Rz
Scratch and defect detection on optics and lenses, evaluating areal roughness Sa, Sq, Sz instead of Ra, Rq, Rz
Characterizing small details and microstructures with sub-nanometer resolution; sample data of an optical polished surface
Characterizing small details and microstructures with sub-nanometer resolution; sample data of an optical polished surface
Detailed analysis of a DOE Diffractive Optical Element in a 3D profile
Detailed analysis of a DOE Diffractive Optical Element in a 3D profile
Flatness evaluation of multiple layers of glass
Flatness evaluation of multiple layers of glass
Topography measurement result of a glass surface evaluating flatness
Topography measurement result of a glass surface evaluating flatness
Surface profilers deliver in-process feedback of machining, such as grinding, polishing of optics/ lenses and precision mechanics
Surface profilers deliver in-process feedback of machining, such as grinding, polishing of optics/ lenses and precision mechanics
Surface flatness evaluation of precision mechanics for optical instruments
Surface flatness evaluation of precision mechanics for optical instruments
Fast and complete 3D topography measurement of optics, lenses, freeform optics providing large area and high resolution data
Fast and complete 3D topography measurement of optics, lenses, freeform optics providing large area and high resolution data
3D characterization of polynomial freeform
3D characterization of polynomial freeform
High resolution topography data of optics, here of a micro prism array
High resolution topography data of optics, here of a micro prism array
Scratch and defect detection on optics and lenses, evaluating areal roughness Sa, Sq, Sz instead of Ra, Rq, Rz
Scratch and defect detection on optics and lenses, evaluating areal roughness Sa, Sq, Sz instead of Ra, Rq, Rz
Characterizing small details and microstructures with sub-nanometer resolution; sample data of an optical polished surface
Characterizing small details and microstructures with sub-nanometer resolution; sample data of an optical polished surface
Detailed analysis of a DOE Diffractive Optical Element in a 3D profile
Detailed analysis of a DOE Diffractive Optical Element in a 3D profile
Flatness evaluation of multiple layers of glass
Flatness evaluation of multiple layers of glass
Topography measurement result of a glass surface evaluating flatness
Topography measurement result of a glass surface evaluating flatness
Surface profilers deliver in-process feedback of machining, such as grinding, polishing of optics/ lenses and precision mechanics
Surface profilers deliver in-process feedback of machining, such as grinding, polishing of optics/ lenses and precision mechanics
Surface flatness evaluation of precision mechanics for optical instruments
Surface flatness evaluation of precision mechanics for optical instruments

Formabweichung, Ebenheit und Textur an (Freiform)Optiken, Linsen und Spiegeln messen

Messen Sie Oberflächenformparameter, werten Sie Ebenheit oder Stufenhöhe auf optischen Komponenten, Glas und transparenten Komponenten aus. TopMap-Oberflächenmesstechnik ermöglicht vollständige und schnelle Inspektionen von Linsen, Optiken, Freiformoptiken oder Spiegeln zur Designoptimierung und Qualitätskontrolle in der Fertigung. Transparente Materialien wie Optiken, Spiegel oder Linsen sind aufgrund ihrer Empfindlichkeit gegenüber Kratzern oder Defekten (taktile Messung) und ihres Reflexionsvermögens (optische Messung) eine Herausforderung beim Messen. TopMap optische Messtechnik vermeidet Kratzer oder Einflüsse und misst/ scannt großflächig die reale 3D-Topografie ganzer Werkstücke oder größerer Bereiche in einer einzigen Aufnahme. Die SST Smart Scanning Technology meistert auch das Messen auf unterschiedlichen und anspruchsvollen Oberflächen für eine zuverlässige Messperformance selbst auf stumpfen, matten, beschichteten und glänzenden Oberflächen.

Typische Optik-Prüfungen für TopMap Profilometer sind:

  • Ebenheitsmessung an Spiegeln
  • Vollständige 3D Topografie an Linsen und Freiformoptiken
  • Verzug und Ebenheit mehrerer Schichten
  • Schichtdickenmessung bei transparenenten Materialien
  • Differenzierte Auswertung von Form, Welligkeit und Oberflächentextur
  • Rauheit und Mikrostrukturanalyse im sub-nanometer Bereich
  • Defekterkennung und Artefakt-Dokumentation, u.a. bei Kratztests
  • Stufenhöhenmessung an Präzisionsmechanik & Halterungen optischer Geräte für Spiegel & Linsen
  • Formtoleranz messen an optischen Technologien (Laser, Interferometer etc.)
  • Kombinierte Erhebung von Ebenheit- Dicke- Parallelität von Ober- und Unterseite in einer Aufnahme
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Surface topography measurement as a service and equipment rental

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