TopMap Oberflächenmessgeräte
Polytec bietet Oberflächenmessgeräte als Komplettlösungen zur hochpräzisen Prüfung technischer Oberflächen und Topografie an – ob Ebenheit oder Stufenhöhe an CNC-Präzisionsbauteilen, Form oder Welligkeit glatter Optiken sowie die Oberflächentextur, Rauheit oder MEMS- und Mikrostrukturanalyse.
Wir bauen die zuverlässigsten Weißlicht-Interferometer, gestützt durch Anwendungsservice und Know-how, 4 Jahre Garantie und lebenslang kostenlosen Software-Updates. TopMap Profiler messen berührungslos mit interferometrischer Genauigkeit und versprechen präzise, wiederholgenaue Messergebnisse.
Profitieren Sie vom großen vertikalen Messbereich mit hoher Z-Auflösung, dem außergewöhnlich großen Bildfeld (Field-of-View, FOV) für noch schnelleres Scanning und Multi-Sample-Messungen in einem Schuss. Ob große Proben schneller messen oder tiefergehende Textur- und Rauheitsanalysen mit sub-nm-Auflösung – fordern Sie die TopMap-Profilometer heraus und testen Sie kostenlos!
Große & mehrere Prüflinge 33x44mm in einem Schuss? Sub-nm Auflösung? Jetzt konfigurieren
TopMap Metro.Lab
Form und Topografie flächenhaft charaktereiseren auch mit kleinerem Budget? Das TopMap Metro.Lab als kompakte Messstation misst auch Werkstücke mit einem Einzelbildfeld von 37x28 mm schnell und mit wiederholgenauen Messergebnisse für eine zuverlässige Qualitätskontrolle - egal ob an glänzenden oder rauen Oberflächen.
TopMap Pro.Surf
Die schnelle und professionelle 3D-Charakterisierung Ihrer Oberflächen. Flächenhaft 2Mio Messpunkte binnen Sekunden erfassen, um kein Detail zu übersehen. Pro.Surf meistert anspruchsvolle Taktungen der Produktion mit sehr kurzen Messzeiten. Es besticht durch sein großes Einzelbildfeld von 33x44 mm, um große oder gleich mehrere Prüflinge auf einmal zu messen, mit Stitching auf 230x220 mm und mit 70 mm Z Achse für noch mehr Flexibilität.
TopMap Pro.Surf+
Das Multisensor-Profilometer prüft die Werkstücktopografie und Form mit einem außerordentlich großen Bildfeld (bis 230 x 220 mm), wie üblich für die Pro.Surf Linie. Der zusätzliche chromatisch-konfokale Sensor erlaubt weiterführende Auswerttungen von Rauheits-Profillinien. Schnelles Scannen und wiederholbare Messungen für die kombinierte Form- und Rauheitscharakterisierung im nm-Auflösung.
TopMap Micro.View
Micro.View® ist ein intuitives 3D-Profilometer als kompaktes Tischgerät: Die kosteneffiziente Prüflösung zur berührungsfreien Messung präzisionsgefertigter und funktionaler Oberflächen im sub-nm Bereich – ob Rauheitsmessung, Mikrostrukturanalyse, Texturen oder sonstige Oberflächendetails. Objektive von 0,6x bis 111x und weitere Verfahreinheiten erlauben anwendungsspezifische Setups.
TopMap Micro.View+
Micro.View®+ ist die neue Generation optischer 3D-Profiliometer: modularem und flexibel für die anspruchsvolle Oberflächenmessung - Texturen, Rauheit, Finish, Mikrostrukturen oder MEMS mit einer Auflösung im Sub-nm-Bereich erforschen. Focus Finder und Focus Tracker halten den optimalen Fokuspunkt, entlang des außergewöhnlich großen Z-Bereichs von 100 mm, während die vollmotorisierte Positioniereinheit sowohl für effizientere Prüflabore wie automatisierte Inspektionen in der Produktion eignet. Fordern Sie Micro.View+ heraus!
Leitfaden: Grundlagen der Messsystemanalyse
Jede Messung - egal ob taktile oder optische Topografiemessung - ist mit einer Unsicherheit behaftet. Die gewonnenen Messwerte bilden die Basis für eine qualitätsgesteuerte Produktion und sind damit wichtiger Bestandteil der Qualitätssicherung. Die Richtigkeit eines durch die Messung getroffenen Rückschlusses hängt jedoch nicht nur von der Eignung der Kenngröße ab, sondern auch davon, wie genau und zuverlässig die Messwerte die realen Verhältnisse wiedergeben. Nur wenn der Messwert mit ausreichend geringer Unsicherheit bezogen auf die Merkmaltoleranz bestimmt werden kann, ist der Prüfprozess für die Prüfaufgabe geeignet. Dieser Leitfaden fasst die Kernpunkte und hilfreiche Ansätze der Messsystemanalyse (MSA) zusammen.
Lesen Sie im Leitfaden, wie die Qualitätssicherung mit Messunsicherheit umgeht!