TopMap Oberflächenmessgeräte

Polytec bietet Oberflächenmessgeräte als Komplettlösungen zur hochpräzisen Prüfung technischer Oberflächen und Topografie an – ob Ebenheit oder Stufenhöhe an CNC-Präzisionsbauteilen, Form oder Welligkeit glatter Optiken sowie die Oberflächentextur, Rauheit oder MEMS- und Mikrostrukturanalyse. 

Wir bauen die zuverlässigsten Weißlicht-Interferometer, gestützt durch Anwendungsservice und Know-how, 4 Jahre Garantie und lebenslang kostenlosen Software-Updates. TopMap Profiler messen berührungslos mit interferometrischer Genauigkeit und versprechen präzise, wiederholgenaue Messergebnisse.

Profitieren Sie vom großen vertikalen Messbereich mit hoher Z-Auflösung, dem außergewöhnlich großen Bildfeld (Field-of-View, FOV) für noch schnelleres Scanning und Multi-Sample-Messungen in einem Schuss. Ob große Proben schneller messen oder tiefergehende Textur- und Rauheitsanalysen mit sub-nm-Auflösung – fordern Sie die TopMap-Profiler heraus und testen Sie kostenlos!

Kostenlose Machbarkeit und Demo, online wie vor Ort

Leitfaden: Grundlagen der Messsystemanalyse

Jede Messung - egal ob taktile oder optische Topografiemessung - ist mit einer Unsicherheit behaftet. Die gewonnenen Messwerte bilden die Basis für eine qualitätsgesteuerte Produktion und sind damit wichtiger Bestandteil der Qualitätssicherung. Die Richtigkeit eines durch die Messung getroffenen Rückschlusses hängt jedoch nicht nur von der Eignung der Kenngröße ab, sondern auch davon, wie genau und zuverlässig die Messwerte die realen Verhältnisse wiedergeben. Nur wenn der Messwert mit ausreichend geringer Unsicherheit bezogen auf die Merkmaltoleranz bestimmt werden kann, ist der Prüfprozess für die Prüfaufgabe geeignet. Dieser Leitfaden fasst die Kernpunkte und hilfreiche Ansätze der Messsystemanalyse (MSA) zusammen. 

Lesen Sie im Leitfaden, wie die Qualitätssicherung mit Messunsicherheit umgeht!

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