Optische 3D-Oberflächenmessgeräte
Optische 3D-Oberflächenmessgeräte der TopMap Familie sind Präzisionswerkzeuge für die Qualitätskontrolle funktionaler Oberflächen. TopMap 3D-Oberflächenmessgeräte messen Formparameter wie Stufen, Höhe, Parallelität, Welligkeit sowie Rauheit und Mikrostrukturen berührungsfrei - ob im Forschungslabor, in der Fertigung und integriert in der Produktionslinie.
TopMap Micro.View
Micro.View® ist das Kompaktsystem der TopMap-Profilometer Serie als Einstieg in die optische Messung von Rauheit und Mikrostrukturen - für die kosteneffiziente Qualitätskontrolle von Toleranzen und Oberflächendetails an Präzisionsbauteilen.
TopMap Micro.View+
Micro.View®+ ist die neue Generation optischer 3D-Profilometer. Die modulare Messstation bietet Konfigurationsmöglichkeiten für die verlässliche, hochgenaue Prüfung feinster Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Focus Finder und Focus Tracker halten den optimalen Fokuspunkt, während es die vollmotorisierte Positioniereinheit ermöglicht auch automatisch und in-line Bauteile zu prüfen.
TopMap Pro.Surf
Die schnelle und professionelle 3D-Charakterisierung Ihrer Oberflächen. Flächenhaft 2Mio Messpunkte binnen Sekunden erfassen, um kein Detail zu übersehen. Pro.Surf meistert anspruchsvolle Taktungen in der Produktion danke sehr kurzen Messzeiten. Es besticht durch sein großes Einzelbildfeld bis 33x44 mm, kann gleich mehrere Prüflinge auf einal aufnehmen, mit Stitching sogar bis 230x220 mm und 70 mm Z Achse.
TopMap Pro.Surf+
Das neue All-in-one System von Polytec: Die Präzision eines Weisslicht-Interferometers ergänzt um chromatisch-konfokale Sensoren, um Formabweichungen und Rauheitsermittlungen mit einem Gerät zu meistern. Das TopMap Pro.Surf+ ermittelt großflächig und charakterisiert dabei Strukturen mit Nanometer-Auflösung.
TopMap Metro.Lab
Als komplette Messstation eignet sich das TopMap Metro.Lab ideal für die Messung großflächiger Topographien nahezu aller Oberflächen. Das sehr gute Preis-/Leistungsverhältnis macht es auch für kleinere Firmen mit geringerem Aufgabenvolumen attraktiv.
Kostenlose Machbarkeit und Demo, online wie vor Ort
Leitfaden: Grundlagen der Messsystemanalyse
Jede Messung - egal ob taktile oder optische Topografiemessung - ist mit einer Unsicherheit behaftet. Die gewonnenen Messwerte bilden die Basis für eine qualitätsgesteuerte Produktion und sind damit wichtiger Bestandteil der Qualitätssicherung. Die Richtigkeit eines durch die Messung getroffenen Rückschlusses hängt jedoch nicht nur von der Eignung der Kenngröße ab, sondern auch davon, wie genau und zuverlässig die Messwerte die realen Verhältnisse wiedergeben. Nur wenn der Messwert mit ausreichend geringer Unsicherheit bezogen auf die Merkmaltoleranz bestimmt werden kann, ist der Prüfprozess für die Prüfaufgabe geeignet. Dieser Leitfaden fasst die Kernpunkte und hilfreiche Ansätze der Messsystemanalyse (MSA) zusammen.
Lesen Sie im Leitfaden, wie die Qualitätssicherung mit Messunsicherheit umgeht!
