Oberflächenparameter

Oft werden in Konstruktionsdesigns für Werkstücke sehr spezifische Vorgaben für definierte Oberlfächenparameter wie Rauheit oder Welligkeit definiert. Weißlicht-Interferometer von Polytec erfassen 3D-Profile von Werkstücken flächenhaft und in Sekundenschnelle, wofür taktile Methoden lange Messzeiten bei linienhafter Information benötigen würden. 3D Oberflächenmesstechnik von Polytec erfasst solche 2D- wie 3D-Parameter (ISO 25178-2, ISO 4287, ISO 4288) schnell und einfach. Bestimmen Sie beispielsweise die Oberflächenrauheit optisch und somit berührungsfrei ohne Einfluss auf die Prüflingsoberfläche und somit gar resultierende Messungenauigkeiten durch Verschleiß. 3D-Oberflächenmesstechnik visualisiert Oberflächendetails und liefert eine sehr präzise numerische Darstellung von Form, Stufen und Höhen. Aufgrund der rückwirkungsfreien und wiederholgenauen Messmethode können die Werte von den Ergebnissen taktiler Messungen abweichen, auf die sich die Zeichnungsmaße und Normen oft beziehen. Neue Richtlinien zur Kalibrierung von Weißlicht-Interferometern geben dem Anwender genau diese Sicherheit, und erlauben rückführbare Messergebnisse auf Kalibrierstandards. Das Feedback der optischen Oberflächenmesstechnik auf Produktionsebene - ob in der Linie oder nah der Linie - ermöglicht eine verlässliche, direkte Prozesssteuerung und hält die Qualität und Konsistenz von Präzisionsmechanik und Funktionsoberflächen hoch.

Icon evaluation of surface form parameters

Formparameter

Wird ein Werkstück produziert, sind immer häufiger äußerst enge Fertigungstoleranzen einzuhalten, insbesondere im Bereich der technischen und funktionalen (Präzisions-) Oberflächen. Hier müssen die Hersteller die vielen verschiedenen Formtoleranzen wie Form, Größe und Textur sowie andere Lagetoleranzen wie Parallelität und Winkel präzise prüfen und quantifizieren, um sicherzustellen, dass alle kritischen Maße den geforderten Spezifikationen entsprechen. Die TopMap-Oberflächenmesstechnik wurde speziell entwickelt, um die anspruchsvollsten Toleranzen von präzisionsgefertigten Komponenten zu erfüllen.

Mehr zu Form- und Lagetolerzanzen

Icon evaluation of parallelism on surfaces

Ebenheit & Parallelität

Bei Funktionsoberflächen ist es für die Einhaltung geforderten Toleranzen häufig von entscheidender Bedeutung, Kenngrößen wie Parallelität und Ebenheit zu messen. Solche Oberflächen müssen unter hohem Druck funktionieren und müssen als integraler Bestandteil des Fertigungsprozesses gleichbleibend hochwertig gefertig und hierfür ständig überprüft werden. TopMap optische 3D-Oberlfächenmessgeräte von Polytec sind speziell für die Automatisierung und einfache Bedienung konzipiert und liefern präzise Messdaten als zuverlässiges Feedback für den Produktionsprozess. TopMap ermöglicht die genaue Charakterisierung von Parallelität und Ebenheit über ein großes Sichtfeld (FoV) direkt in der Produktion und im Qualitätskontrolllabor und ermöglicht so eine schnelle und umfassende Charakterisierung kritischer Komponenten

Mehr zu Ebenheit & Parallelität

Icon steps and height in surface topography

Stufenhöhe

Die 3D-Prüfung der Stufenhöhe und auch von Winkeln zwischen mehreren Flächen erfordert häufig einen großen vertikalen Messbereich. Die Weißlichtinterferometer der TopMap Sensorfamilie bietet einen großen vertikalen Messbereich bis zu 70 mm und mehr, je nach Modell. Dieser große vertikale Bereich ermöglicht die Messung von kleinen und großen Stufenhöhen, auch auf schwer zugänglichen Oberflächen, wie z. B. tief eingelassenen Flächen. Die telezentrische Optik der TopMap vermeidet Abschattungseffekte und ermöglicht die zuverlässige Messung der relevanten Stufenhöhe von Mikrometer- bis Nanometerbereich. Eine automatische Bauteillageerkennung im großen Bildfeld macht eine aufwändige mechanische Fixierung oder gar Einzelmessung von Werkstücke überflüssig und erhöht die Effizienz in der Qualitätskontrolle.

Mehr zu Stufenhöhe

 

Icon surface roughness evaluation

Rauheit

Die exakte und wiederholgenaue Messung der Rauheit von Oberflächen ist in der Forschung, Entwicklung und Produktion oft entscheidend für die Einhaltung geforderter Toleranzen und für störungsfreie Produktionsprozesse. Nicht zuletzt hängt auch die Haltbarkeit, Zuverlässigkeit und Funktionserfüllung der späteren Produkte unmittelbar von der Oberflächenbeschaffenheit der Werkstücke ab. Für die Charakterisierung der Oberflächenbeschaffenheit ist die Ermittlung der Rauheit ausschlaggebend, beispielsweise bei Zahnimplantaten, Dichtflächen oder Oberflächen für bestimmte Lackier- und Beschichtungsverfahren. Manche Anwendungen sind sogar auf eine gleichzeitige Bestimmung von Formabweichung und Rauheit angewiesen.

Mehr zu Rauheitsmessung

Icon 3D surface analysis of microstructures

Mikrostrukturen

Mikrostrukturen sind kleinste Gebilde, die sehr häufig bereits bei kleinsten Beschädigungen in ihrer Funktionalität eingeschränkt sind. Physikalische Einwirkungen auf die mikrosystemtechnischen Messobjekte sollten unterbleiben. Daher ist ein weiterer wichtiger Aspekt bei der Oberflächencharakterisierung im Bereich der Mikrosystemtechnik das berührungslose und damit rückwirkungsfreie Messprinzip. Durch die optische, berührungsfreie Messmethode sind TopMap Weißlichtinterferometer die ideale Wahl für die Inspektion von Mikrostrukturen.

Mehr zur Mikrostrukturanalyse

Icon layer thickness evaluation

Schichtdicke

Überall dort, wo die Schichtdicke bestimmt werden soll, ob im Labor, in der Produktion oder sogar in Fertigungslinien, bietet Polytec Lösungen zur berührungslosen und rückwirkungsfreien Schichtdickenmessung. Die Einsatzgebiete für die Schichtdickenprüfung sind vielfältig und reichen von der Kontrolle Lackierungen, Überprüfung der gleichmäßigen Beschichtung bis hin zur Analyse des Verschleißes an Schraubverbindungen und mehr. Daher werden die optischen Messsysteme auch in zahlreichen Branchen eingesetzt, wie z.B. Automotive, Elektronik, Maschinenbau, Halbleiterindustrie, Forschung und Entwicklung.

Mehr zur Schicktdickenmessung

Ihr PolyXpert für Oberflächenmesstechnik