Optisches Kompaktmessgerät für Oberflächendetails
TopMap Micro.View® ist das Kompaktsystem zur optischen Messung von Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Dank integrierter CST Continuous Scanning Technology kann der 100 mm große z-Verfahrweg komplett als Messbereich verwendet werden - das Ganze bei einer vertikalen Auflösung im Nanometerbereich. Der kompakte Tischaufbau mit integrierter Elektronik besticht durch seine Bedienerfreundlichkeit. Der Focus Finder ermöglicht das schnelle und einfache Messen.
Highlights
- Kompaktsystem für Oberflächendetails
- 3D-Topografie, Rauheit und Texturen berührungsfrei messen
- 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology
- Exzellente laterale Auflösung
- Anwendungsspezifische Objektive verfügbar
Kompaktsystem für die Rauheitsmessung
Die optionale ECT Environmental Compensation Technology stellt zuverlässige, reproduzierbare Messergebnisse selbst in rauer Umgebung sicher. Micro.View® ist die kosteneffiziente Art für die Qualitätskontrolle von Präzisionsmechanik und Analyse von Oberflächendetails sowohl in der Forschung als auch im Produktionsumfeld.
Xperts inside! Die neue Generation optischer 3D-Oberflächenmesstechnik
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Auftragsmessungen & Vermietung
Unsere PolyXperts unterstützen Sie gerne mit Auftragsmessungen bei Ihnen vor Ort oder in unseren Messlabors. Wir stehen Ihnen in allen Projektphasen mit fachlichem Rat und Expertenwissen zur Seite. Zur Erweiterung Ihrer Kapazitäten nutzen Sie unser Mietmodell.