Optisches Kompaktmessgerät für Oberflächendetails 

Micro.View® ist das Kompaktsystem als Einstieg in die optische Messung von Rauheit und Mikrostrukturen. Auf bis zu 100 mm großem z Achse misst Micro.View® mit einer Auflösung im Nanometerbereich und dank integrierter CST Continuous Scanning Technology nutzt es den vertikalen Verfahrweg komplett als Messbereich. Der kompakte Tischaufbau mit integrierter Elektronik besticht durch seine Bedienerfreundlichkeit mit Focus Finder für schnelle und einfache Messvorgänge.

Highlights

  • Kompaktsystem für Oberflächendetails
  • 3D-Topografie, Rauheit und Texturen berührungsfrei messen
  • 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology
  • Exzellente laterale Auflösung
  • Anwendungsspezifische Objektive verfügbar

Kompaktsystem für die Rauheitsmessung

Die optionale ECT Environmental Compensation Technology stellt zuverlässige, reproduzierbare Messergebnisse selbst in rauer Umgebung  sicher. Micro.View® ist die kosteneffiziente Art für die Qualitätskontrolle von Präzisionsmechanik und Analyse von Oberflächendetails sowohl in der Forschung als auch im Produktionsumfeld.

 

Erleben Sie Micro.View

Xperts inside! Die neue Generation optischer 3D-Oberflächenmesstechnik

Ihr PolyXpert für Oberflächenmesstechnik