Optisches Kompaktmessgerät für Oberflächendetails 

TopMap Micro.View® ist das Kompaktsystem zur optischen Messung von Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Dank integrierter CST Continuous Scanning Technology kann der 100 mm große z-Verfahrweg komplett als Messbereich verwendet werden - das Ganze bei einer vertikalen Auflösung im Nanometerbereich. Der kompakte Tischaufbau mit integrierter Elektronik besticht durch seine Bedienerfreundlichkeit. Der Focus Finder ermöglicht das schnelle und einfache Messen.

Highlights

  • Kompaktsystem für Oberflächendetails
  • 3D-Topografie, Rauheit und Texturen berührungsfrei messen
  • 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology
  • Exzellente laterale Auflösung
  • Anwendungsspezifische Objektive verfügbar

Kompaktsystem für die Rauheitsmessung

Die optionale ECT Environmental Compensation Technology stellt zuverlässige, reproduzierbare Messergebnisse selbst in rauer Umgebung  sicher. Micro.View® ist die kosteneffiziente Art für die Qualitätskontrolle von Präzisionsmechanik und Analyse von Oberflächendetails sowohl in der Forschung als auch im Produktionsumfeld.

 

 

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