Optisches Kompaktmessgerät für Oberflächendetails
Micro.View® ist das Kompaktsystem als Einstieg in die optische Messung von Rauheit und Mikrostrukturen. Auf bis zu 100 mm großem z Achse misst Micro.View® mit einer Auflösung im Nanometerbereich und dank integrierter CST Continuous Scanning Technology nutzt es den vertikalen Verfahrweg komplett als Messbereich. Der kompakte Tischaufbau mit integrierter Elektronik besticht durch seine Bedienerfreundlichkeit mit Focus Finder für schnelle und einfache Messvorgänge.
Highlights
- Kompaktsystem für Oberflächendetails
- 3D-Topografie, Rauheit und Texturen berührungsfrei messen
- 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology
- Exzellente laterale Auflösung
- Anwendungsspezifische Objektive verfügbar
Kompaktsystem für die Rauheitsmessung
Die optionale ECT Environmental Compensation Technology stellt zuverlässige, reproduzierbare Messergebnisse selbst in rauer Umgebung sicher. Micro.View® ist die kosteneffiziente Art für die Qualitätskontrolle von Präzisionsmechanik und Analyse von Oberflächendetails sowohl in der Forschung als auch im Produktionsumfeld.
Xperts inside! Die neue Generation optischer 3D-Oberflächenmesstechnik
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Unsere PolyXperts unterstützen Sie gerne mit Auftragsmessungen bei Ihnen vor Ort oder in unseren Messlabors. Wir stehen Ihnen in allen Projektphasen mit fachlichem Rat und Expertenwissen zur Seite. Zur Erweiterung Ihrer Kapazitäten nutzen Sie unser Mietmodell.