Optisches Kompaktmessgerät für Oberflächendetails
Micro.View® ist das Kompaktsystem als Einstieg in die optische Messung von Rauheit und Mikrostrukturen. Auf bis zu 100 mm großem z Achse misst Micro.View® mit einer Auflösung im Nanometerbereich und dank integrierter CST Continuous Scanning Technology nutzt es den vertikalen Verfahrweg komplett als Messbereich. Der kompakte Tischaufbau mit integrierter Elektronik besticht durch seine Bedienerfreundlichkeit mit Focus Finder für schnelle und einfache Messvorgänge.
Highlights
- Kompaktsystem für Oberflächendetails
- 3D-Topografie, Rauheit und Texturen berührungsfrei messen
- 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology
- Exzellente laterale Auflösung
- Anwendungsspezifische Objektive verfügbar