Optisches Kompaktmessgerät für Oberflächendetails 

TopMap Micro.View® ist das Kompaktsystem zur optischen Messung von Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Dank integrierter CST Continuous Scanning Technology kann der 100 mm große z-Verfahrweg komplett als Messbereich verwendet werden - das Ganze bei einer vertikalen Auflösung im Nanometerbereich. Der kompakte Tischaufbau mit integrierter Elektronik besticht durch seine Bedienerfreundlichkeit. Der Focus Finder ermöglicht das schnelle und einfache Messen.

Highlights

  • Kompaktsystem für Oberflächendetails
  • 3D-Topografie, Rauheit und Texturen berührungsfrei messen
  • 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology
  • Exzellente laterale Auflösung
  • Anwendungsspezifische Objektive verfügbar

Kompaktsystem für die Rauheitsmessung

Die optionale ECT Environmental Compensation Technology stellt zuverlässige, reproduzierbare Messergebnisse selbst in rauer Umgebung  sicher. Micro.View® ist die kosteneffiziente Art für die Qualitätskontrolle von Präzisionsmechanik und Analyse von Oberflächendetails sowohl in der Forschung als auch im Produktionsumfeld.

 

 

Xperts inside! Die neue Generation optischer 3D-Oberflächenmesstechnik

Bei Qualitätskontrollen geht es um Zuverlässigkeit, Präzision und Erfahrung, und schließlich auch um Experten und Technologien, denen wir vertrauen können. Werfen Sie daher einen Blick hinter die Kulissen, erfahren Sie mehr über die Entwicklung und über die Menschen hinter TopMap. Lernen Sie die PolyXperts kennen und kommen Sie mit auf eine Reise!

Join our journey

Ihr PolyXpert für Oberflächenmesstechnik