利用光学测量表面粗糙度
如今，光学轮廓仪正加速取代接触式测量系统。预计在不久的将来，二维参数仅会在信息承载量足以满足需求的特定场景中使用。借助 TopMap 白光干涉仪等光学表面测量设备，对样品表面开展全面的三维表征，不仅能让测量数据可视化，极大提升数据的直观性，还提供多元评估功能。借助这些功能，用户能对生产过程进行深入分析，并基于分析结果进行针对性优化。
欢迎即刻注册，获取白皮书全文。在这份资料中，您将系统了解表面粗糙度相关知识，学习如何显著提升表面测量的速度与效率 。
光学与接触式：表面粗糙度及纹理评估的差异剖析
如果表面有随机分布的特征，对于粗糙度参数的结果会受到测量位置的影响很大。在许多情况下，基于轮廓的表面描述不足以提供关于表面功能特性的信息。基于轮廓的表面特征描述只允许提供关于功能性不佳的原因的有限信息，因此包括用于质量控制目的的有限信息。
一旦物体表面特征呈现随机分布状态，测量位置便会对粗糙度参数的测量结果造成显著影响。在大量实际应用场景中，基于轮廓对表面进行描述，难以全面、深入地揭示表面功能特性。当产品表面功能出现缺陷时，这种仅基于轮廓的表征方法，对探究缺陷成因所能提供的信息极为有限，因此在质量控制过程中，能发挥的作用也大打折扣 。
如何快速开展三维表面粗糙度测量
在本视频中，你将看到如何对机械工程部件的表面粗糙度进行精准测量与分析。以抛光表面为例，我们会借助 TopMap 白光干涉仪这类非接触式光学表面轮廓仪，演示整个测量过程。
测量时，只需轻松选择合适的放大倍数，就能利用设备的电动转塔与自动聚焦功能，迅速完成面式三维粗糙度的测量和评估。你可以创建个人专属测量方案，也能直接调用预设方案，一键启动三维粗糙度评估流程，大幅提升测量效率。在完成测量后，依照 ISO 25178 等标准，快速生成专业的评估报告，并便捷分享粗糙度测量的分析成果 。
面式三维表面粗糙度测量
面式三维表面粗糙度测量，有效突破了传统测量的局限。通过生成直观的表面图像，极大降低了理解难度，同时，能够从表面功能和结构出发，展开系统性评估。利用这一技术，只需简单操作，就能从面式测量数据中提取二维轮廓，并依据通用评估准则，对其进行粗糙度分析。
与接触式粗糙度测量不同，光学三维粗糙度测量运用非接触式、无干扰的检测方式，在避免测量过程损伤敏感表面的同时，确保数据的准确性和完整性。
凭借面式表面粗糙度测量数据，使用者能迅速、全面地掌握整个表面的情况。与之形成鲜明对比的是，轮廓测量仅捕捉表面的局部信息，缺乏整体视角，难以对表面状况进行直观、全面的把握 。
ISO 面式和轮廓式表面评估标准
ISO 25178 与 ISO 4287 分别阐述了面式和轮廓式表面评估的测量流程，二者在一些细节上存在差异。
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