Verfahren, Technologien und Anwendungen 

Schichtdicken­messung

Die Schichtdickenmessung umfasst verschiedene Verfahren und Technologien – von der optischen Schichtdickenmessung zur direkten Analyse von Schichten bis hin zur Prüfung von Beschichtungen zur Bewertung von Oberfläche, Defekten und Funktion. Polytec unterstützt Sie dabei, für Ihr Schichtsystem den passenden Messansatz auszuwählen und sicher umzusetzen.

Welcher Ansatz passt zu Ihrer Messaufgabe? 

Nicht jede Schichtdickenmessung beantwortet dieselbe Fragestellung. Je nachdem, ob Sie Schichten direkt charakterisieren oder Beschichtungen am Bauteil bewerten möchten, führen unterschiedliche Messtechnologien zum Ziel.

Wenn Material, Schichtaufbau und Schichtdicke im Mittelpunkt stehen, analysieren Sie Schichten mit optischer Schichtdickenmessung aus der Photonik.

Wenn Sie dagegen den Oberflächenzustand, Defekte, Homogenität oder funktionale Eigenschaften von Beschichtungen beurteilen möchten, unterstützt Sie die Oberflächenmesstechnik mit Beschichtungsprüfung und Stufenhöhenanalyse.

Zur Photonik: Wenn Sie Schichten und Mehrschichtsysteme direkt charakterisieren möchten.

Zur Oberflächenmesstechnik: Wenn Sie Beschichtungsqualität, Defekte oder Oberflächenstrukturen bewerten möchten.

Produkte für die Schichtdickenmessung

Je nach Messaufgabe kommen unterschiedliche Verfahren und Technologien zur Schichtdickenmessung zum Einsatz. Polytec kombiniert Verfahren zur direkten Schichtdickenmessung mit Lösungen zur Oberflächen- und Beschichtungsbewertung – für Labor, Atline- und Inline-Anwendungen.

Fotothermische Messsysteme

Das Enovasense-System misst die Dicke von opaken oder transparenten Beschichtungen extrem schnell im Labor und in Inline-Anwendungen auf fast allen Substraten. Der kompakte Messkopf eignet sich für beengte Platzverhältnisse.

Hyperspektrale Bildgebungs-Messsysteme

Diese Systeme nutzen eine einzigartige Kombination aus optischer Spektroskopie und Bildgebung für eine präzise Oberflächenanalyse. Je nach Materialeigenschaften können Schichtdicken in einem beeindruckenden Bereich von 1 nm bis 500 µm zerstörungsfrei gemessen werden.

Terahertz-Dickenmesssysteme

Terahertz-Dickenmessung – schnell, berührungslos, zerstörungsfrei, ideal für Mehrschichtmaterialien in industriellen Anwendungen und zur Qualitätskontrolle von Prozessen.

Micro.View

TopMap Micro.View® ist ein benutzerfreundlicher optischer Profiler im kompakten Tischaufbau. Micro.View® ist die kosteneffiziente Lösung zur Inspektion präzisionsgefertigter Oberflächen bis in den Sub-nm-Bereich und eignet sich für die Untersuchung von Rauheit, Mikrostrukturen und weiteren Oberflächenmerkmalen.

Micro.View+

Micro.View+ ist ein mikroskopbasierter Oberflächenprofiler mit Automatisierung und Farbkamerasystem. Er bietet reproduzierbare, anwenderunabhängige Analysen von Rauheit und Oberflächentextur und eignet sich sowohl für Laboranwendungen als auch für den Einsatz in der Produktion.

Pro.Surf+

Pro.Surf+ vereint Formmessung großer Flächen mit integrierter Rauheitsanalyse in einem Multi-Sensor-Profiler. Für schnelle, rückführbare Form- und Rauheitsergebnisse – bereit für den Einsatz in der Produktion.

Know-how & Anwendungen zur Schichtdickenmessung

Möchten Sie Verfahren vergleichen oder neue Messtechnologien bewerten? Die folgenden vertiefenden Inhalte helfen Ihnen dabei, Schichtdickenmessung schneller einzuordnen und passende Lösungen gezielt auszuwählen.

Häufige Fragen zur Schichtdickenmessung

Welche Schichtdickenmessung passt zu meiner Beschichtung?

Die passende Technologie hängt von Material, Schichtaufbau, Messbereich und Einsatzumgebung ab. Für die direkte Schichtcharakterisierung kommen je nach Anwendung fotothermische Verfahren, Terahertz-Messung oder hyperspektrale Bildgebung in Frage. Für Fragestellungen rund um Beschichtungsqualität, Oberflächenzustand und Stufenhöhe kann die Oberflächenmesstechnik die bessere Wahl sein.

Welche Verfahren zur Schichtdickenmessung gibt es in der Industrie?  

Zu den wichtigsten Verfahren zählen optische Methoden wie Photothermie, Terahertz-Messung und hyperspektrale Bildgebung sowie Verfahren der Oberflächenmesstechnik zur Bewertung von Beschichtungen und Stufenhöhen.

Wann eignet sich optische Schichtdickenmessung?

Optische Schichtdickenmessung eignet sich besonders, wenn Schichten direkt, berührungslos und inline im Produktionsprozess analysiert werden sollen – insbesondere bei industriellen Beschichtungen und Mehrschichtsystemen.

Wann ist Schichtmessung mit Verfahren aus der Oberflächenmesstechnik sinnvoll?

Oberflächenmesstechnik ist dann relevant, wenn nicht die Schicht selbst, sondern deren Qualität, Struktur, Defekte oder funktionale Eigenschaften bewertet werden sollen.

Wie messe ich Mehrschichtsysteme?

Mehrschichtsysteme erfordern spezielle Verfahren wie Terahertz-Messung oder andere optische Technologien, die mehrere Schichten gleichzeitig analysieren können.

Kann Schichtdickenmessung inline erfolgen?

Ja, viele Verfahren lassen sich direkt in den Produktionsprozess integrieren – abhängig von Material, Geschwindigkeit und Umgebungsbedingungen.

Messtechnik für Ihre Schichtdicken-Anwendung

Ob optische Schichtdickenmessung, Schichtprüfung oder die Auswahl der passenden Technologie – Polytec unterstützt Sie dabei, Ihre Aufgabe schnell einzuordnen und die richtige Lösung zu finden.