Beschichtete Oberflächen und Beschichtungsprozesse kontrollieren
Wo immer die Schichtdicke bestimmt werden soll, im Labor oder durch Atline- oder Inline-Messungen, die Messtechnologien von Polytec für die Schichtdickenmessung analysieren berührungslos und damit absolut zerstörungsfrei. Die Einsatzgebiete und Anwendungsmöglichkeiten für Schichtdickenmessungen sind so vielfältig wie das Angebot an Messlösungen bei Polytec. Daher sind die optischen Messsysteme auch in zahlreichen Branchen im Einsatz, wie beispielsweise Automotive, Elektronik, Maschinenbau, Halbleiterindustrie, Forschung und Entwicklung.
Schichtdicke auf konstantem Niveau halten
Die Materialdicke transparenter Oberflächen und Schichten ist entscheidend für deren Funktion. Den Produktionsprozess durch Messungen zu überprüfen und ständig auf einem exakt gleichen Level zu halten, ist unerlässlich für eine hohe Qualität und eine geringe Ausschussrate. Besteht Ihr Auftrag darin, die Dicke eines transparenten Messobjekts flächenhaft auszuwerten oder Defekte zu erkennen, dann sind Weißlichtinterferometer von Polytec eine präzise Lösung.
Ein wichtiger Aspekt gerade bei Beschichtungsprozessen ist es,die Beschichtung in definierter sowie kontrollierter Dicke aufzutragen und dies zu kontrollieren. Unabhängig davon, ob es sich bei der Beschichtungstechnologie um Verbundbeschichtungen, Nanobeschichtungen und Dünnschicht-Technologien, Abscheidung (Plasma und ionenbasiertes Vakuum), Schichtwachstum, Sputtertechnologien, sowie Tauch- und Fließ- und Schleuderbeschichtungen handelt. Aber auch beim Sprühen, Lackieren und Walzen, Galvanisieren, stromlosen Beschichten sowie bei gezielter Oberflächenmodifikation.
Schichtdicke im gesamten Beschichtungsprozess beherrschen
Der Kratztest ist ein beliebter Adhäsionstest für dünne, harte und gut haftende Beschichtungen wie TiC (Titancarbid) auf Stahl oder Hartmetallsubstraten. Aber Kratztestproben können auch verwendet werden, um die Schichtdicke nicht transparenter Beschichtungen zu messen. Hierzu wird einfach die Stufenhöhe des Kratzers ausgewertet. Alternativ kann die Schichtdicke auch an der Kante einer Beschichtung gemessen werden. Schichtdicken ab wenigen μm aufwärts können auf transparenten Beschichtungen an jeder beliebigen Stelle detektiert werden.
Zudem kann eine Vielzahl von Oberflächendefekten in Beschichtungen und Metallisierungen optisch detektiert und qualifiziert werden wie Hohlräume, Schlieren, Ratterer, Tropfen, Flecken, Grübchen, Löcher, Kratzer, Beschichtungsstörungen, Verunreinigungen, Orangenhaut und visuelle Textureffekte. Die 3D-Oberflächenmesstechnik der TopMap-Serie zum Beispiel visualisiert derart Oberflächendefekte schnell, optisch und flächenhaft und bietet hochaufgelöste 3D-Messdaten zur fundierten Ursachenforschung. Anhand dieser Daten lässt sich der Herstell- und Beschichtungsprozess hinsichtlich erwünschter Schichtdicke schnell optimieren und überwachen. Solch eine optische und flächenhafte Qualitätskontrolle mittels Weißlichtinterferometern verbessert sowohl die Beschichtungsprozesse als auch die Endoberfläche.
Einflussfaktoren und Charakterisierung der Schichtdicke
Messsyteme von Polytec - ob Weißlichtinterferometer oder weitere Sensorik werden außerdem in der Produktion eingesetzt, beispielsweise um die Schichtdicken von Handydisplays direkt in der Linie und zu 100% zu überprüfen und somit konstante Ergebnisse sicherzustellen. Die Wahl des optimalen Gerätes für die Schichtdickenmessung hängt von vielen Faktoren ab. Zunächst spielen die Materialien der Substrate und Beschichtungen eine wesentliche Rolle. Je nach Oberflächenbeschaffenheit und Art der Schichten setzen Anwender spezifische Messlösungen für die Bestimmung der Schichtdicke ein. Handelt es sich um eine nasse oder trockene Lackierung, eine Pulverbeschichtung, sind Folien angebracht? Sind die Schichten transparent oder undurchsichtig? Auch die Anforderungen an die Messaufgabe fallen unterschiedlich aus je nach Anwendung, beispielsweise ob punktförmig oder flächenhaft gemessen werden soll.
Messverfahren und Messtechnik zur Schichtdickenbestimmung
Polytec bietet eine große Auswahl an optischen Messsystemen zur Schichtdickenmessung und deckt sowohl mit eigenentwickelter Messtechnik sowie als Distributor weltweit anerkannter Premium-Hersteller für Schichtdicken-Messgeräte die Vielzahl an Anforderungen ab. Finden Sie hier eine Auswahl aus dem umfangreichen Polytec Portfolio an Lösungen zur Bestimmung der Schichtdicke. Für weitere Beratung stehen Ihnen unsere PolyXperts im Entscheidungsprozess jederzeit zur Seite.
Zugehörige Produkte
Fotothermische Messsysteme (Inline und Labor)
Das Enovasense-System bestimmt die Schichtdicke im Labor, bei Inline-Anwendungen und 100%-Qualitätskontrollen extrem schnell und auf fast allen Substraten. Der kompakte Messkopf eignet sich auch für beengte Stellen. Die berührungs- und zerstörungsfreie Technik vermisst zudem opake, semitransparente oder transparente Schichten. Der variable Arbeitsabstand von 5 bis 20 cm lässt sich flexibel anpassen.
Reflektrometrisches Messsystem (Inline-Prozesse)
Das PSS Schichtdickenmesssystem wurde für Dauereinsatz direkt in im Produktionsprozess entwickelt. Hersteller von Bahnwaren setzen das System ein, um Schichtdicken transparenter Schichten punkthaft und vollautomatisiert zu bestimmen. Die Messtechnik basiert auf der Kombination von Reflektometrie und Weißlichtinterferometrie und vermisst Schichtdicken von 500 nm bis 80 µm.
TopMap Micro.View
Micro.View® ist das Kompaktsystem der TopMap-Profilometer Serie als Einstieg in die optische Messung von Rauheit und Mikrostrukturen - für die kosteneffiziente Qualitätskontrolle von Toleranzen und Oberflächendetails an Präzisionsbauteilen.
TopMap Micro.View+
Micro.View®+ ist die neue Generation optischer 3D-Profilometer. Die modulare Messstation bietet Konfigurationsmöglichkeiten für die verlässliche, hochgenaue Prüfung feinster Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Focus Finder und Focus Tracker halten den optimalen Fokuspunkt, während es die vollmotorisierte Positioniereinheit ermöglicht auch automatisch und in-line Bauteile zu prüfen.
TopMap Pro.Surf+
Das neue All-in-one System von Polytec: Die Präzision eines Weisslicht-Interferometers ergänzt um chromatisch-konfokale Sensoren, um Formabweichungen und Rauheitsermittlungen mit einem Gerät zu meistern. Das TopMap Pro.Surf+ ermittelt großflächig und charakterisiert dabei Strukturen mit Nanometer-Auflösung.