Oberflächenkontrolle an Elektronik, Halbleitern und Solartechnik

Die vielfältigen Lösungen von Polytec in der Halbleiterindustrie, für Elektronik und Solartechnik können Sie ideal auf Ihre Anwendungen anpassen. Im Bereich der Software beispielsweise durch anwendungsspezifische Nutzeroberflächen zur OK/nOK Analyse. Auch zum Überprüfen von elektronischen Kontakten bietet Ihnen Polytec Lösungen, sowohl für die Höhenauswertung von BGAs oder „Löt-Bumps“ als auch die Auswertung der Koplanarität von IC-Beinchen. Ebenso für das Packaging von High Power Laser Dioden finden Sie bei Polytec die richtigen Systeme.

Kostenloses Webinar: Die neuen ISO-Norm zur Rauheitsmessung

In diesem praxisnahen Webinar erfahren Sie alles über die Grundlagen der Rauheitsmessung. Wir bieten Ihnen Orientierungshilfe im Normungs-Dschungel und zeigen auf, was sich mit der neuen ISO-Norm 21920 für Sie ändert. Lernen Sie, was es bei der Rauheitsmessung Ihrer Oberflächen zu beachten gibt: Kompakt und kostenlos! Wir freuen uns auf Sie am 29. Februar, 10:00 Uhr.

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