Modulare optische 3D-Messstation für Rauheit und Mikrostrukturen

Micro.View+® ist die neue Generation optischer 3D-Profilometer. Als modulare Messstation bietet sie Konfigurationsmöglichkeiten und viele Freiheitsgrade für die verlässliche, hochgenaue Prüfung selbst feinster Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Flächenhafte 3D-Messdaten sowie Farbdarstellungen erlauben aussagekräftige Visualisierungs- und Analyseformen sowie die professionelle Dokumentation von Defekten. Die 5 MP Kamera nimmt 3D-Messbilder bis ins letzte Detail auf.

Highlights

  • High-end Weißlichtinterferometer mit nm Auflösung
  • 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology
  • Focus Finder und Focus Tracker ideal für automatisierte Fertigungskontrolle
  • Kein Nachpositionieren dank motorisierter Tip-Tilt Stage und Revolver 
  • Farbmodus für die professionelle Analyse und Dokumentation von Defekten
  • Modular für anwendungsspezifische Konfigurationen
Micro.View+ is a modular optical surface profiler for profound and detailed topography analysis
Micro.View+ is a modular optical surface profiler for profound and detailed topography analysis
TopMap Micro.View+ with automated focus tracking function
Focus Finder and Focus Tracker are ideal for automation surface inspections
Detailed topography analysis of wafers, lab-on-a-chip and more
Detailed topography analysis of wafers, lab-on-a-chip and more
Color information mode for extended analysis and documentation of defects
Color information mode for extended analysis and documentation of defects
Inspection of a coated surface without contact
Inspection of a coated surface without contact
Configuration scheme of the modular optical surface profiler TopMap Micro.View+
Modularity is key to comply with challenging surface topography analysis
Micro.View+ is a modular optical surface profiler for profound and detailed topography analysis
Micro.View+ is a modular optical surface profiler for profound and detailed topography analysis
TopMap Micro.View+ with automated focus tracking function
Focus Finder and Focus Tracker are ideal for automation surface inspections
Detailed topography analysis of wafers, lab-on-a-chip and more
Detailed topography analysis of wafers, lab-on-a-chip and more
Color information mode for extended analysis and documentation of defects
Color information mode for extended analysis and documentation of defects
Inspection of a coated surface without contact
Inspection of a coated surface without contact
Configuration scheme of the modular optical surface profiler TopMap Micro.View+
Modularity is key to comply with challenging surface topography analysis

Automatisierbar auch als in-line Qualitätskontrolle

Umfangreiches Zubehör erleichtert und beschleunigt die Messvorgänge signifikant. Während Focus Finder und Focus Tracker Prüflinge unter allen Umständen stets im Fokus behalten, unterstützen voll-motorisierte Positioniereinheiten das Stitching und automatisierte Prüfprozesse.

 

 

 

Anwendungsbereiche

Ihr PolyXpert für Oberflächenmesstechnik

+49 7243 604-1780
[email protected]