Technologie
Grundlagen der Oberflächentopographie
Weißlichtinterferometrie
Moderne Weißlichtinterferometer nutzen die Interferenzeffekte, die bei der Überlagerung des vom Messobjekt reflektierten Lichts mit dem von einem hochgenauen Referenzspiegel zurückgestreuten Licht auftreten. Das Messverfahren der Weißlichtinterferometrie basiert auf dem Prinzip des Michelson-Interferometers, wobei der optische Aufbau eine Lichtquelle mit einer Kohärenzlänge im μm-Bereich enthält.
Chromatisch konfokale Messmethode
Die chromatisch-konfokale Technologie zur optischen Messung von Abstand, Rauheitsprofil bzw. Linienprofil und Dicke hat sich als eine der ausgereiften Methoden etabliert, Industrie und Forschung zur Verfügung stehen. Chromatisch konfokale Sensoren von Polytec basieren auf hierin erläuterten Messprinzip.
Oberflächenparameter
Die Evaluierung von Formparametern wie Ebenheit, Parallelität und Welligkeit sowie die Charakterisierung einer Werkstückoberfläche anhand ihrer Textur und ihres Rauheitsprofils sind die Kenngrößen, welche die Oberflächenmesstechnik für eine zuverlässige Qualitätskontrolle im Labor und in der Produktion so wertvoll machen. Sehen Sie hier einige Beispiele dafür, was TopMap Oberflächenmesstechnik für Sie berührungslos prüfen kann.