Die richtige Technologie für die Messung der Flächenrauheit finden
Die Flächenrauheit kann mit unterschiedlichen Messverfahren erfasst werden – klassisch mit taktilen Tastsystemen oder berührungslos mit optischen Verfahren. Welche Technologie geeignet ist, hängt von mehreren Faktoren ab:
ob profilbasierte Parameter ausreichen, ob die Oberfläche berührt werden darf und ob flächige 3D-Informationen für Funktion, Erscheinungsbild oder Prozesssteuerung erforderlich sind.
Optische Verfahren wie die Weißlichtinterferometrie ermöglichen eine vollständige Flächenbewertung und liefern zusätzliche Informationen über Textur, Richtungsabhängigkeit und lokale Oberflächeneigenschaften.
Unterschiedliche Anforderungen erfordern unterschiedliche Messsysteme
Die Oberflächenprofiler von Polytec nutzen moderne Weißlichtinterferometrie, um aussagekräftige Rauheitsdaten über unterschiedliche Materialien und Skalen hinweg zu erfassen. Besonders bei sehr dunklen, stark reflektierenden oder fein polierten Oberflächen stoßen viele Messverfahren an ihre Grenzen.
Die berührungslose, oberflächenunabhängige Messung mit WLI ermöglicht hier eine hochpräzise flächige Analyse – unabhängig von Material, Reflexionsgrad oder Struktur. Dadurch lassen sich auch anspruchsvolle Oberflächen zuverlässig charakterisieren und vergleichen.
Polytec bietet zwei verschiedene Profiler-Technologien für die Messung von Rauheiten, da die Ansprüche, Bauteile und Strategie der Qualitätsabteilung unterschiedlich ist.
- Micro.View® line ist das mikroskopische Messsystem für kleine Messfelder und feine Oberflächenmerkmale. Es bietet eine sehr hohe laterale Auflösung und ermöglicht die detaillierte Analyse von Mikrostrukturen bis in den Nanometerbereich.
Der optische Aufbau erlaubt eine präzise Fokussierung auf kleinste Bereiche von Interesse und eignet sich besonders für Forschung, Entwicklung und Fehleranalyse. - Pro.Surf+ ist eine makroskopische Messstation mit telezentrischem optischem Aufbau. Parallel verlaufende Strahlen ermöglichen die präzise Erfassung großer Messfelder sowie von Stufen, Kanten und Vertiefungen – auch in Bohrungen.
Das System eignet sich besonders für wiederholbare Messungen in der Fertigung und kombiniert Form- und Rauheitsanalyse in einem Messvorgang.
Beispiele für typische Messaufgaben und passende Systeme
Aufgabenkontext | Anforderungen | Geeignet | Warum dies geeignet ist |
| Mikrostrukturierte Beschichten, MEMS, Durchkontaktierungen, Bondpads | Hohe laterale Auflösung; Messpunkt-Analyse/Mikrobereiche; umfangreiche 3D-Dokumentation | Micro.View | An den Bereich von Interesse (ROI) angepasste Objektive liefern detailreiche Flächenrauheit; ideal für F&E und Fehleranalyse sehr kleiner Bereiche von Interesse |
| Optische Komponenten, feine Polierspuren, Mikrokratzer | Erkennung subtiler Texturen; Korrelation von Topografie und Aussehen | Micro.View | Mikroskopische Flächendaten mit hochwertigen Bildern für eindeutige Nachweise von Defekten |
| Präzisionsgefertigte Metallflächen (geschliffen, gehont, geläppt) | Großes Sichtfeld; lange Z-Achse; wiederholbare SPC/GR&R; Form + Flächenrauheit in einem | Pro.Surf+ | Multisensor-WLI mit telezentrischer Optik und Rezeptursteuerung für die Qualitätskontrolle |
| Tiefe/vertiefte oder schwer zugängliche Oberflächen | Telezentrischer Zugang; stabile Spannvorrichtungen; kombinierte Auswertung | Pro.Surf+ | Großer Arbeitsabstand und telezentrische Optik gewährleisten Genauigkeit bei vertieften Merkmalen |
| Mehrere Teile pro Zyklus, Inline-Prüfungen | Durchsatz; bedienerunabhängige Pass/Fail-Bewertung; Datenexport | Pro.Surf+ | Rezeptbasierte Routinen mit SPC-Integration und Spannvorrichtungen für Trays |
Unsere Oberflächenmessgeräte für die flächige Rauheitsmessung
Micro.View
TopMap Micro.View® ist ein benutzerfreundlicher optischer Profiler im kompakten Tischaufbau. Micro.View® ist die kosteneffiziente Lösung zur Inspektion präzisionsgefertigter Oberflächen bis in den Sub-nm-Bereich und eignet sich für die Untersuchung von Rauheit, Mikrostrukturen und weiteren Oberflächenmerkmalen.
Micro.View+
Micro.View+ ist ein mikroskopbasierter Oberflächenprofiler mit Automatisierung und Farbkamerasystem. Er bietet reproduzierbare, anwenderunabhängige Analysen von Rauheit und Oberflächentextur und eignet sich sowohl für Laboranwendungen als auch für den Einsatz in der Produktion.
Pro.Surf+
Pro.Surf+ vereint Formmessung großer Flächen mit integrierter Rauheitsanalyse in einem Multi-Sensor-Profiler. Für schnelle, rückführbare Form- und Rauheitsergebnisse – bereit für den Einsatz in der Produktion.
Überzeugen Sie sich vor dem Kauf von der Leistung eines Profilers – nutzen Sie unseren „Try before buy“ Ansatz.
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Besprechen Sie Ihre Anforderungen mit unseren Experten
Gerne erfahren wir mehr über Ihre Bauteile, Toleranzen und Herausforderungen. Basierend darauf können wir Empfehlungen zu Technologien und Systemen geben. Oder wir zeigen Ihnen in einer kurzen Demo, wie einfach und effizient Messungen mit dem passenden Polytec Profilometer durchgeführt werden – entweder an unseren Komponenten oder direkt an Ihrem Bauteil.
