Leitfaden: Vergleich von Technologien zur Oberflächenmessung
Dieser exklusive Technologie-Leitfaden befasst sich mit den Vor- und Nachteilen von Oberflächenprofilierungsmethoden: vertikale vs. laterale Auflösung, typische Anwendungen, Profilierung auf glatten oder rauen Oberflächen, Sichtfeld und mehr, wie z. B.:
- Weißlichtinterferometrie
- Konfokalmikroskopie
- Fokusvariation
- Chromatisch-konfokale Sensoren
