Prinzip der chromatisch-konfokale Messtechnik
Die chromatisch-konfokale Technologie zur optischen Messung von Abstand und Dicke hat sich in Industrie und Forschung als ausgereifte Methode etabliert. Die chromatisch-konvokalen Sensoren, die Polytec einsetz, basieren auf diesem Messprinzip. Einfallendes Weißlicht wird durch ein chromatisches Objektiv in ein Kontinuum monochromatischer Abbildungen entlang der Z-Achse abgebildet. Dadurch entsteht ein „color coding” entlang der optischen Achse.
Wenn sich in diesem Farbfeld ein Objekt befindet, wird eine einzelne Wellenlänge auf dessen Oberfläche fixiert und in das optische System reflektiert. Der zurückgeworfene Strahl geht durch eine Filter-Lochblende in einen Spektrometer. Die spezifische Wellenlänge des Strahls wird berechnet, um die Position des Objekts im Messfeld genau zu bestimmen. Die chromatisch-konfokale Abbildung liefert verlässliche, genaue, reproduzierbare und hochaufgelöste dimensionale Messungen.

Erfahren Sie in unserem Technologievergleich mehr über die Stärken und Grenzen der verschiedenen gängigen Oberflächenmessverfahren hinsichtlich vertikaler und lateraler Auflösung, Anwendungs-Sweet-Spots auf glatten Oberflächen oder Rauheitsmessung mit oder ohne Stitching.
- Weißlichtinterferometrie
- Konfokalmikroskopie
- Fokusvariation
- Chromatische konfokale Sensoren

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Micro Profiler
Micro.View-Systeme wurden für ultrahochauflösende Messungen bis in den Sub-Nanometerbereich entwickelt. Die Kombination aus fokussierter Optik und hoher vertikaler Auflösung erlaubt eine präzise Analyse von Mikrostrukturen, Oberflächenbeschaffenheit und Materialverteilung, insbesondere bei Anwendungen, bei denen selbst minimale Abweichungen relevant sind.

Macro Profiler
Pro.Surf-Systeme liefern schnelle, flächenbasierte 3D-Topografiemessungen mithilfe telezentrischer Optik. Damit lassen sich Ebenheit, Formabweichung, Parallelität und Stufenhöhen zuverlässig prüfen – sowohl über weite Messfelder als auch bei Innenmerkmalen in Bohrungen.

Metro.Lab
Metro.Lab ist ein kompakter Tisch-Oberflächenprofiler für schnelle, großflächige 3D-Messungen. Hohe Messleistung bei geringer Stellfläche – ideal, wenn Platz oder Budget begrenzt sind, aber zuverlässige 3D-Oberflächendaten gebraucht werden.
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