Pro.Surf+
Profilometer für kombinierte Form- und Rauheitsmessung

Multisensor-Profilometer für großflächige 3D-Formmessung und nm-aufgelöste Rauheitsanalyse in einem produktionsreifen Messsystem.

Form- und Rauheitsmessung in einem durchgängigen, produktionsreifen Messablauf

Pro.Surf+ ist ein optischer Multisensor-Profilometer, der großflächige 3D-Formmessungen mit hochauflösender Rauheitsmessung in einem einzigen System vereint. Ebenheit, Stufenhöhe und Parallelität werden flächig erfasst, während die integrierte Rauheitsmessung detaillierte Oberflächenkennwerte liefert – ohne Umrüsten oder zusätzliche Messstationen.

Die Kombination aus telezentrischer Weißlichtinterferometrie und chromatisch-konfokaler Rauheitsmessung reduziert Messzeit, Handhabungsaufwand und Fehlerquellen. Das Ergebnis sind rückverfolgbare, reproduzierbare Messdaten für Qualitätskontrolle und produktionsnahe Prüfprozesse.

44 x 33
mm
Breites Single-Shot Sichtfeld (FoV)
70
mm
vertikaler Messbereich für große Bauteile und Stufen
< 1,45
nm
vertikale Auflösung für präzise Messungen
Höhepunkte

Multisensor-Oberflächenprofilmessgerät für schnelle Form- und kombinierte Rauheitsmessung

Überzeugen Sie sich vor dem Kauf von der Leistung eines Profilers  – nutzen Sie unseren  „Try before buy“ Ansatz.

Use our try before buy offer for surface profiler
Anwendungen

Beispiele für Form- und Rauheitsmessungen

Nachfolgend finden Sie einige reale Ergebnisse aus Standardaufgaben mit gängigen technischen Werkstoffen. Diese Beispiele wurden von unseren Anwendungszentren zusammengestellt, die Machbarkeitsstudien durchführen und vertragliche Messdienstleistungen anbieten.

Optical profilometer measurement: Sealing surface of piston
Vollflächige Topografie des Kolbens in einer einzigen Aufnahme mit großem Sichtfeld
Rauheit des Leders der Fahrzeuginnenausstattung
Optical Profilometer measurement: Flatness parallelism
Zuverlässige Form- und Ebenheitsbewertung
Pro.Surf Form and roughness measurement
Kombinierte Form- und Rauheitsmessung mit rückverfolgbaren Ergebnissen
Untersuchen Sie kegelförmige Oberflächen oder große Stufen mit telezentrischer Optik und großem Z-Bereich.

Wählen Sie mit Zuversicht den passenden Oberflächenprofiler – lassen Sie sich die Leistungsfähigkeit unserer Systeme live demonstrieren.

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Funktionen

Integrierte Funktionen unterstützen hochpräzise und effiziente Arbeitsabläufe – selbst in rauen Umgebungen.

Das Hauptmerkmal des ProSurf+ ist der zusätzliche chromatisch-konfokale Sensor mit einem vertikalen Bereich von 400 µm, einer lateralen Auflösung von ~2,6 µm, einem Arbeitsabstand von 10,8 mm und einer Verwendbarkeit bis zu einem typischen Ra-Wert von ≥ 100 nm (anwendungsabhängig). Die Rauheit wird innerhalb desselben Rezepts wie die Form erfasst.

Wie beim Pro.Surf erhalten Sie auch hier ein großes Sichtfeld von bis zu 44,9 × 33,8 mm (erweiterbar auf ~228 × 221 mm durch Stitching), automatisierungsfähigen Betrieb mit motorisierten Tischen, Rezeptsteuerung und Barcode-Start sowie telezentrisches WLI/CSI und einen Z-Bereich von 70 mm für vertikale Leistung im Nanometerbereich.

Kombinierte Form- und Rauheitsmessung in einem Vorgang

→ Messen Sie großflächige Form und Oberflächenrauheit mit dem Pro.Surf+

Der integrierte chromatisch-konfokale Sensor (400 µm Messbereich, ~2,6 µm laterale Auflösung, 10,8 mm Arbeitsabstand) ermöglicht Rauheitsmessungen in derselben Messstation. Typische Anwendungen beginnen ab Ra ≥ 100 nm.

  • Kombinieren Sie Form + Rauheit in einem Durchgang
  • Langer Arbeitsabstand für sichere Handhabung der Probe
True Stitching – Höhere Genauigkeit für breitere Muster

→ True Stitching liefert unübertroffene Präzision beim Scannen großer Flächen

Da größere Oberflächen das Sichtfeld eines einzelnen Aufnahmegeräts überschreiten, werden die einzelnen Kacheln zu einem präzisen Datensatz zusammengefügt. Die messtechnische Qualität solcher großflächigen Messungen hängt von der Optik und der Sensortechnologie, der Anzahl der Kacheln und den Stitching-Algorithmen ab.

True Stitching liefert hochpräzise großflächige Messungen, indem es Stitching-Artefakte minimiert und die Geometrie beibehält.

Ein unabhängiger Vergleichstest an einer führenden deutschen technischen Universität untersuchte sechs optische Profilometer verschiedener Hersteller. Dabei zeigte das Polytec Profilometer die höchste Stitching- und Messqualität.

  • Großes Single-Shot-Sichtfeld → weniger Kacheln und Nähte, weniger kumulativer Fehler
  • Ausgefeilte Stitching-Algorithmen → kontrollierte Überlappung, robuste Registrierung und messtechnisch sichere Überblendung, die Stufen und Kanten beibehält
  • Für Pro.Surf: Telezentrische/CSI-Optik mit Korrelogramm-Auswertung → stabile Geometrie und Höhenwiedergabe über alle Kacheln hinweg

Das Ergebnis ist eine hochpräzise, großflächige Topografie mit weniger Artefakten und auditfähigen Restwerten – was wir als „True Stitching” bezeichnen.

WLI mit telezentrischer Optik

→ Gewährleistet präzise Geometrie - selbst in Bohrungen

Das rückverfolgbar kalibrierte WLI/CSI liefert berührungslose, flächige 3D-Daten mit einer vertikalen Auflösung im Nanometerbereich. Der telezentrische optische Ansatz hält die Strahlen parallel zur optischen Achse und sorgt so für eine konstante Vergrößerung und gleichmäßige Ausleuchtung über die gesamte Höhe – sogar Messungen in Bohrlöchern sind möglich.

  • Berührungslose, wiederholbare, schnelle Flächenscans
  • Phasen-/Hüllkurvenauswertung für glatte und raue Oberflächen
  • Intelligentes Oberflächen-/adaptives Scannen für unterschiedliche Reflektivitäten
  • Langlebige 525-nm-LED
Optik mit großem Sichtfeld (FoV)

→ Reduziert die Messzeit bei Komponenten und Fehler beim Stitching

Pro.Surf bietet ein breites Single-Shot-Sichtfeld von bis zu 44,9 × 33,8 mm (mit ~1,91 Millionen Punkten), sodass breitere Proben oder mehrere Teile in einer einzigen Erfassung gemessen werden können. Mit der integrierten Stitching-Funktion erweitert sich die Abdeckung auf bis zu ~228 × 221 mm und durch das große FoV reduziert sich die Anzahl der Shots pro Stitching-Prozess (schnellere und stabilere Messung).

  • Mehrere Proben gleichzeitig messen; automatische Probenerkennung verfügbar
  • Kurze Zykluszeiten; reduzierter Aufwand, weniger Fehler beim Stitching
ECT – Environmental Compensation Technology

→ Stabilisiert die Ergebnisse in der Fertigung

Lärm, Vibrationen und Temperaturschwankungen können Messungen beeinträchtigen. ECT gleicht solche Störungen aus und sorgt für konsistente Daten – auch in der Fertigungsumgebung.

  • Verbessert die Zuverlässigkeit in lauten oder instabilen Umgebungen
  • Ermöglicht Automatisierung und Inline-Qualitätskontrolle ohne vollständige Isolierung
  • Besonders hilfreich für empfindliche Komponenten (z. B. Präzisionsbauteile, MEMS, ...)
Automatisierbare Messung für höheren Durchsatz und Wiederholgenauigkeit

→ Ermöglicht unbeaufsichtigte, wiederholbare Messungen

Dank seines modularen Aufbaus und seiner Motorisierungsoptionen lässt sich das Profilometer Pro.Surf leicht automatisieren und in bestehende Prozesse und Maschinen integrieren. Eine Reihe von Funktionen und Fähigkeiten ermöglicht hocheffiziente und unbeaufsichtigte Messabläufe:

  • Pattern Matching und Smart Scanning Technology für Erkennung von Bauteilen
  • Motorisierte X-, Y-, Z- und Neigungs-/Kipptische
  • Großes Sichtfeld und True Stitching für hochauflösende Scans über große Flächen
  • Rezepte-Management in der TopMap Software ermöglichen das Abstreichern und Aufrufen von Messabläufen
  • Robustes Design mit wenig bis keine  bewegliche Teile und
  • Kompensation durch ECT von Vibrationen und Temperatur-Effekten
"Pattern Matching" -  Erkennung von Bauteilen

Maschinelles Bildverarbeitungsprogramm, das Teile anhand einer Vorlage findet und registriert, sodass die Rezepte an den richtigen Stellen angewendet werden (auch wenn Teile verschoben oder gedreht sind). Ideal für Tabletts und Mehrfachprobenläufe; lässt sich gut mit der automatischen Probenerkennung kombinieren, um den Befestigungsaufwand zu reduzieren.

Smart Scan-Technologie zur Erfassung unterschiedlicher Oberflächen

Erfassungsmodus, der sich an unterschiedliche Reflektivität/Kontraste anpasst, sodass Sie fast jede Oberfläche zuverlässig in einer einzigen Konfiguration messen können; enthalten in der TopMap Software.

Technische Daten

Modularer Aufbau, Spezifikationen und Optionen

Kleines SichtfeldGroßes Sichtfeld
Rauheitsmessbereich

400 µm

Lateralauflösung der Rauheit

2,6 µm

Typische Rauheitsmessung

>= 100 nm

Positioniervolumen

200 x 200 x 70 mm³ = 0,028 m

Max. Anzahl von Punkten
in einer einzelnen Messung

X: 1.592, Y: 1.200
X·Y: 1.910.400

Vertikaler Bereich

70 mm

MessbereichX: 22,8 mm Y: 17,2 mm
X·Y: 392,2 mm²
X: 44,9 mm Y: 33,8 mm
X·Y: 1.517,6 mm²
MesspunktabstandX: 14,3 µm Y: 14,3 µmX: 28,2 µm Y: 28,2 µm
Berechnete laterale optische Auflösung8,4 µm16 µm
Messrauschen

< 0,5 nm (Phasenauswertung, glatte Oberflächen)

Vertikale Auflösung

< 1,45 nm (Phasenauswertung, glatte Oberflächen)

Weitere Einzelheiten und Details finden Sie im Datenblatt (siehe Abschnitt „Download“ unten).

Machbarkeitsprüfung?

Senden Sie uns Ihr Muster zu, und wir führen mit unserem Profiler eine Machbarkeitsstudie durch und gehen die Ergebnisse mit Ihnen durch.

So erhalten Sie ein genaues Verständnis der Leistung des optischen Profilers an Ihren tatsächlichen Proben.

Besprechen Sie Ihre Anforderungen mit unseren Experten

Gerne erfahren wir mehr über Ihre Bauteile, Toleranzen und Herausforderungen. Basierend darauf können wir Empfehlungen zu Technologien und Systemen geben. Oder wir zeigen Ihnen in einer kurzen Demo, wie einfach und effizient Messungen mit dem passenden Polytec Profilometer durchgeführt werden – entweder an unseren Komponenten oder direkt an Ihrem Bauteil.

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