Messtechnik zur Schichtcharakterisierung
Wo immer die Schichtdicke bestimmt werden soll, im Labor oder durch Atline- oder Inline-Messungen, die Messtechnologien von Polytec für die Schichtdickenmessung analysieren berührungslos und damit absolut zerstörungsfrei. Die Einsatzgebiete und Anwendungsmöglichkeiten für Schichtdickenmessungen sind so vielfältig wie das Angebot an Messlösungen bei Polytec. Daher sind die optischen Messsysteme auch in zahlreichen Branchen im Einsatz, wie beispielsweise Automotive, Elektronik, Maschinenbau, Halbleiterindustrie, Forschung und Entwicklung.
Produktauswahl
Fotothermische Messsysteme
Das Enovasense-System misst die Dicke von opaken oder transparenten Beschichtungen extrem schnell im Labor und in Inline-Anwendungen auf fast allen Substraten. Der kompakte Messkopf eignet sich für beengte Platzverhältnisse.
Hyperspektrale Bildgebungs-Messsysteme
Diese Systeme nutzen eine einzigartige Kombination aus optischer Spektroskopie und Bildgebung für eine präzise Oberflächenanalyse. Je nach Materialeigenschaften können Schichtdicken in einem beeindruckenden Bereich von 1 nm bis 500 µm zerstörungsfrei gemessen werden.
Terahertz-Dickenmesssysteme
Terahertz-Dickenmessung – schnell, berührungslos, zerstörungsfrei, ideal für Mehrschichtmaterialien in industriellen Anwendungen und zur Qualitätskontrolle von Prozessen.
Micro.View
TopMap Micro.View® ist ein benutzerfreundlicher optischer Profiler im kompakten Tischaufbau. Micro.View® ist die kosteneffiziente Lösung zur Inspektion präzisionsgefertigter Oberflächen bis in den Sub-nm-Bereich und eignet sich für die Untersuchung von Rauheit, Mikrostrukturen und weiteren Oberflächenmerkmalen.
Micro.View+
Micro.View+ ist ein mikroskopbasierter Oberflächenprofiler mit Automatisierung und Farbkamerasystem. Er bietet reproduzierbare, anwenderunabhängige Analysen von Rauheit und Oberflächentextur und eignet sich sowohl für Laboranwendungen als auch für den Einsatz in der Produktion.
Pro.Surf+
Pro.Surf+ vereint Formmessung großer Flächen mit integrierter Rauheitsanalyse in einem Multi-Sensor-Profiler. Für schnelle, rückführbare Form- und Rauheitsergebnisse – bereit für den Einsatz in der Produktion.
Know-how & Anwendungen
Optische Schichtdickenmessung: Verfahren im Vergleich
Grundlagen der Schichtdicken-Messtechnik: Vergleich optischer und berührungsloser Verfahren wie photothermische und Terahertz-Verfahren für eine präzise Inline-Analyse.
Optische Schichtdickenmessung
Beispiele für industrielle Anwendungen zur Schichtdickenmessung
Beschichten und Schichtdicke
3D-Qualitätskontrolle von Beschichtungen – vor und nach dem Prozess. Bewertung von Oberflächentextur, Defekten und Schichtdicken für funktionale und optische Anforderungen.
