Präzise Rauheitsmessung voll automatisiert
Micro.View+ erweitert die Oberflächenrauheitsprüfung auf automatisierte, bedienerunabhängige Arbeitsabläufe für die Produktion und Qualitätskontrolle. Dieses Profilometer kombiniert Präzision im Sub-Nanometerbereich, einen großen Z-Bereich von 100 mm und vollständige Motorisierung, um schnelle, wiederholbare Oberflächenmessungen zu liefern – von Mikro-Strukturen bis hin zu größeren Bauteilen.
- Zuverlässige flächige Rauheitsmessung im sub-nm Bereich auf verschiedenen Materialien dank Smart Scanning Technology und mit Color Imaging
- Flexibles Sichtfeld für flexible Rauheitsanalysen – von 0,07 mm bis 15,5 × 11,7 mm (best in class)
- True Stitching für höchste Genauigkeit bei großflächigen Bauteilen
- Hoher Z-Messbereich von 100 mm bei voller Auflösung durch Continuous Scanning Technology (CST)
- Rezeptbasierte Messabläufe und Focus Finder für reproduzierbare und wiederkehrende Messaufgaben
- Konform zu aktuellen Normen wie ISO 21920 sowie weiteren relevanten Oberflächenstandards.
- Operator-independent workflows with motorized X/Y/Z, tip/tilt, encoded turret and Focus Tracker
- Ready for full-automation by tight integration with modular design and interfaces
Micro.View+ ist spezialisiert für Anwendungen mit höheren Anforderungen an Automatisierung, Serienmessungen oder bedienerunabhängige Workflows.Falls Automatisierungsfunktionen und Farbbildgebung nicht relevant sind, könnte der Micro.View-Profiler eine attraktive Alternative sein.
Einfache Profilierung nahezu jeder Oberfläche und bereit für automatisierte Arbeitsabläufe in der Produktion oder im Labor
Messen, wo andere Schwierigkeiten haben
Viele optische Profilmessgeräte haben Schwierigkeiten mit stark reflektierenden, dunklen, kontrastarmen oder transparenten Materialien. Das Micro.View -System überwindet diese Herausforderung durch die integrierte Korrelogramm-Technologie, die mehrere Scans mit unterschiedlichen Lichtintensitäten ermöglicht. Dadurch sind auch bei komplexen Materialien zuverlässige Messungen möglich.
Das Ergebnis: präzise 3D-Daten für Topografie, Rauheit, Mikrostrukturen, Stufenhöhen und Ebenheit – selbst auf den anspruchsvollsten Oberflächen. Ein wichtiger Grund, warum Kunden zu Polytec wechseln, ist unsere Fähigkeit, spiegelglatte oder polierte Oberflächen zu messen, wo andere Systeme versagen.
Präzision durch Erfahrung
Mit jahrzehntelanger Erfahrung haben unsere Ingenieure die Phasen- und Hüllkurvenauswertung des Korrelogramms mit einem von Natur aus geringen Systemrauschen und unserer optionalen Environmental Compensation Technology (ECT) kombiniert. Das Ergebnis ist eine vertikale Auflösung im Sub-Nanometerbereich und eine hervorragende 3D-Datenklarheit.
Und mit unserem True Stitching, das fortschrittliche Algorithmen (KI) verwendet, liefern unsere Systeme und unsere Software eine unübertroffene Präzision bei breiteren Proben.
Dieses Maß an Präzision ermöglicht es Ingenieuren, enge Toleranzen zu überprüfen, die Produktion zu optimieren und langfristige Zuverlässigkeit zu gewährleisten.
Nutzung des gesamten Z-Bereichs
Mit der Continuous Scanning Technology (CST) nutzt der Micro.View den gesamten Verfahrbereich von 100 mm als nutzbaren Z-Bereich – unabhängig vom gewählten Objektiv. Dies gewährleistet eine stabile Auflösung bei hohen Teilen und macht eine Neupositionierung überflüssig.
Verschiedene Ständeroptionen unterstützen darüber hinaus größere oder höhere Proben und ermöglichen eine flexible Einrichtung von kleinen Forschungsteilen bis hin zu großen Industriekomponenten.
Einfach zu messen, solide in der Dokumentation.
Micro.View Die Systeme sind auf Benutzerfreundlichkeit ausgelegt. Focus Finder und QC-Rezeptur-Tools vereinfachen die Einrichtung, während CST und ECT für stabile Daten ohne ständige Anpassungen sorgen.
Micro.View+ kombiniert hochauflösende 3D-Topografie mit Farbbildgebung für eine intuitive Visualisierung von Defekten oder Verschleiß. Integrierte Berichtstools unterstützen die rückverfolgbare Dokumentation, um es Ihren Ingenieur-, Produktions- und Qualitätsteams so einfach wie möglich zu machen.
Plattform für zuverlässige Automatisierung
Die modulare Produktreihe „ Micro.View+ “ bietet eine Plattform mit vollständiger Motorisierung (X, Y, Z, Neigung/Kippung), Fokus-Tracker und einem motorisierten Revolver für den unbeaufsichtigten Betrieb. Mit dem QC-Rezeptmanagement können verschiedene Probentypen mit bedienerunabhängiger Qualitätskontrolle und minimalem manuellem Aufwand gemessen werden.
In Kombination mit ECT und integrierter Schwingungsisolierung ermöglicht Micro.View+ Laborpräzision direkt in der Produktionslinie – mit höherem Durchsatz und geringerem Bedienereingriff.
Überzeugen Sie sich vor dem Kauf von der Leistung eines Profilers – nutzen Sie unseren „Try before buy“ Ansatz.
Automatisierte Oberflächenmessung: Von der Rauheit bis zur Tribologie mit hoher Wiederholgenauigkeit
Nachfolgend finden Sie einige reale Ergebnisse aus Standardaufgaben (Rauheit, Ebenheit, Stufenhöhe, Textur, Tribologie) für gängige technische Werkstoffe. Diese Beispiele wurden von unseren Anwendungszentren zusammengestellt, die Machbarkeitsstudien durchführen und vertragliche Messdienstleistungen anbieten.
Wählen Sie mit Zuversicht den passenden Oberflächenprofiler – lassen Sie sich die Leistungsfähigkeit unserer Systeme live demonstrieren.
Das 3D-Profilometer für höchste Präzision mit Automatisierungsfunktionen und Farbbildgebung
Micro.View+ bietet umfangreiche Möglichkeiten zur Automatisierung von Arbeitsabläufen und ist besonders effektiv für sich wiederholende Messaufgaben. Dies gilt insbesondere in Verbindung mit dem optionalen motorisierten Revolverkopf und den optionalen motorisierten Tischen – auch mit Neige-/Kippfunktion. Einige wichtige Merkmale:
True Stitching – höchste Genauigkeit bei großflächigen Messungen
Bei Messungen, die das Einzelbild-Sichtfeld überschreiten, fügt True Stitching mehrere Aufnahmen zu einer durchgängigen, metrologisch konsistenten Topografie zusammen. Im Gegensatz zu einfachem Bildstitching bleiben Geometrie, Stufen und Kanten vollständig erhalten.
Die hohe Messqualität wird erreicht durch:
- großes Single-Shot-Sichtfeld → weniger Kacheln, geringere Fehlerakkumulation
- präzise Überlappungs- und Registrierungsalgorithmen
- messtechnisch sichere Übergänge ohne Glättung oder Verzerrung
Das Ergebnis ist eine hochgenaue, großflächige 3D-Topografie mit minimalen Artefakten und auditfähigen Restwerten – ideal für präzise Form-, Ebenheits- und Rauheitsanalysen.
Sub-Nanometer-Rauheitsmessung kombiniert mit großem Sichtfeld
Größtes Sichtfeld bis zu 15,5 x 11,7 mm - mit unserem neuen 0,6x Objektiv
Das neue und einzigartige 0,6-fach-Objektiv erweitert buchstäblich Ihr Sichtfeld: Mit der „ Micro.View ” können Sie hochauflösende Oberflächenrauheit, Textur oder Mikrostrukturen mit klassischen Vergrößerungen von 20- bis 111-fach analysieren. Ein einziger Klick mit automatischer Objektivumschaltung auf 0,6-fach ermöglicht einen nahtlosen Übergang zu großflächigen Form- oder Ebenheitsmessungen. Untersuchen Sie Mikrostrukturen in großem Maßstab ohne Stitching. Decken Sie alle strukturellen Details auf und behalten Sie gleichzeitig Formparameter, Verformungen oder großflächige Stufen im Blick.
CSI – Kohärenz-Scanning-Interferometrie für höchste Präzision.
Micro.View basiert auf CSI (auch Weißlichtinterferometrie genannt) – dem Industriestandard für berührungslose, flächige 3D-Oberflächenmesstechnik. Dabei wird eine Breitbandlichtquelle vertikal gescannt und das Interferenzsignal ausgewertet. So entstehen präzise, rückverfolgbare Topografie- und Rauheitsdaten – selbst bei anspruchsvollen Oberflächen.
• Umhüllungsauswertung: robust bei rauen, kontrastarmen oder strukturierten Oberflächen
• Phasenauswertung: Sub-Nanometer-Auflösung auf glatten, ebenen Proben
• Korrelogramm-Analyse: maximale Robustheit durch vollständige Auswertung des Interferenzmusters
Das Ergebnis: Ein System für unterschiedlichste Materialien – von polierten Optiken bis zu rauen technischen Bauteilen – ohne Technologie- oder Gerätewechsel.
CST – voller Z-Messbereich von 100 mm bei konstanter Auflösung
Die Continuous Scanning Technology (CST) verwandelt den gesamten Verfahrbereich von 100 mm in einen nutzbaren Z-Bereich mit gleichbleibender Auflösung – unabhängig vom Objektiv.
- Unterstützt große und hohe Proben ohne Neupositionierung
- Beibehaltung der Genauigkeit über den gesamten Messbereich
- Reduziert den Einrichtungsaufwand und vermeidet Stitching oder Nachfokussieren
ECT – stabile 3D-Oberflächendaten in der Fertigung.
Lärm, Vibrationen und Temperaturschwankungen können Messungen beeinträchtigen. Unsere Environmental Compensation Technology (ECT) gleicht solche Störungen aus und sorgt für konsistente Daten – selbst in der Fertigungshalle.
- Verbessert die Zuverlässigkeit in lauten oder instabilen Umgebungen
- Ermöglicht Automatisierung und Inline-Qualitätskontrolle ohne vollständige Isolierung
- Besonders hilfreich für empfindliche Komponenten (z. B. MEMS, Dünnschichten)
Fokusfinder & Fokus-Tracker – Jede Messung immer im Fokus.
Eine genaue Fokussierung ist für die Oberflächenmesstechnik von entscheidender Bedeutung.
- Focus Finder (Standard): Erkennt automatisch den optimalen Fokuspunkt, um die Einrichtungszeit zu verkürzen.
- Focus Tracker (Micro.View+): hält die Oberfläche während der Bewegung im Fokus – ideal für Stitching und Automatisierung
Dies gewährleistet einen stabilen Fokus bei allen Messungen, selbst auf unebenen oder sich bewegenden Oberflächen.
Motorisierung und Automatisierung – für Effizienz in der Fertigung.
Micro.View+ bietet vollständige Motorisierung für maximale Flexibilität und Wiederholbarkeit. Ideal für Produktionsumgebungen oder wiederkehrende Messaufgaben.
- Motorisierter Revolver für bis zu fünf kodierte Objektive
- Motorisierte X-, Y-, Z- und Neigungs-/Kipptische
- Automatisches Stitching für hochauflösende Scans über große Flächen
- QC-Rezeptsystem für bedienerunabhängige Arbeitsabläufe
Farbbildgebung (1,9- oder 5-MP-Kamera) für ein besseres Verständnis der Oberflächenmerkmale
Micro.View+ integriert eine 5-MP-Farbkamera, um 3D-Messungen mit visuellen Details zu verbessern.
- Einfachere Identifizierung von Defekten oder Verschleiß
- Unterstützt die Dokumentation und Berichterstellung
- Entspricht ISO 25178 für rückverfolgbare Ergebnisse
ECT und CST
Umgebungskompensation und kontinuierliche Scantechnologie für einfache und unbeaufsichtigte Messungen
Intelligente Scan-Technologie
SST unterstützt die Messung von reflektierenden oder matten Oberflächen.
Vielseitige Bühnen
Motorisierte Bühne mit Abmessungen von 100 x 100 oder 200 x 200 mm. Manuelle oder motorisierte Neigungs-/Kippfunktion.
Fokus-Tracker
Verwaltet den Fokus bei Verwendung von Neige-/Kippstufen, um eine optimierte Auflösung und Wiederholbarkeit zu gewährleisten.
Kodierter Turm
Motorisierter oder manueller Turm mit Fokusfinder und Fokusverfolger.
100 mm Z-Bereich (und mehr)
100 mm Z-Bereich (entspricht dem Messbereich) mit Continuous Scanning Technology (CST).
Die Höhe kann mit verschiedenen Stativen erweitert werden.
Farbbildgebung
Die 1,9-MP-Kamera (5 MP optional) liefert Farbbilder der Proben und ermöglicht umfassendere Einblicke/Funktionen.
Finden Sie das richtige Messsystem für Ihre Projekte - starten Sie mit einer Machbarkeitsstudie
Modularer Aufbau, Spezifikationen und Optionen
| Z-Bereich | 100 mm (Positionierung und Messung) |
| Vertikale Auflösung | 0,01 nm |
| Wiederholgenauigkeit RMS | 0,05 nm |
| Probenreflektivität | 0,05 bis 100 % |
| Messpunkte X-Y-Pixel | 1.352.000 (effektive Pixel) 1.352 x 1000 |
| Messgeschwindigkeit | 100 µm/s |
| Stitching | Bis zu 500 Millionen Datenpunkte |
| ISO-Parameter | ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287, ISO 13565, ISO 21920 |
Micro.View+
Micro.View+C (kompakt)
Machbarkeitsprüfung?
Senden Sie uns Ihr Muster zu, und wir führen mit unserem Profiler eine Machbarkeitsstudie durch und gehen die Ergebnisse mit Ihnen durch.
So erhalten Sie ein genaues Verständnis der Leistung des optischen Profilers an Ihren tatsächlichen Proben.
Relevante Informationen und Downloads
Unterschied zwischen den Rauheitsmessgeräten „Micro.View “ und „Pro.Surf+“
Micro.View unterstützt zwar auch Form-, Ebenheits- und Stufenhöhenmessungen, seine Kernkompetenz liegt jedoch in der hochauflösenden 3D-Oberflächenrauheits- und Texturanalyse.
Der Pro.Surf+ verfolgt den umgekehrten Ansatz. Seine Stärke liegt in der Prüfung von Ebenheit, Parallelität und Form, aber er kann auch Oberflächenrauheitsanalysen mit einer lateralen Auflösung von 2,6 µm durchführen.
Weißlichtinterferometrie
Prinzip und Vorteile der Weißlichtinterferometrie als optisches Messverfahren. Flächenhafte 3D-Messdaten, vertikale Auflösung unabhängig von der Bildfeldgröße.
Oberflächenrauheit gemäß ISO 21920
Erfahren Sie mehr über die erneuerte ISO 21929 Norm für Rauheits- und Oberflächenprofilierung, was sie für Ihre tägliche Qualitätskontrolle bedeutet und wie Sie sie umsetzen können - Polytec begleitet Sie dabei!
Messaufgaben
Übersicht über Messaufgaben in der Oberflächen- und Formprüfung wie Flächenrauheit, Stufenhöhe, Ebenheit und mehr.
Downloads
Besprechen Sie Ihre Anforderungen mit unseren Experten
Gerne erfahren wir mehr über Ihre Bauteile, Toleranzen und Herausforderungen. Basierend darauf können wir Empfehlungen zu Technologien und Systemen geben. Oder wir zeigen Ihnen in einer kurzen Demo, wie einfach und effizient Messungen mit dem passenden Polytec Profilometer durchgeführt werden – entweder an unseren Komponenten oder direkt an Ihrem Bauteil.
