Form- und Lagetoleranzen bei Präzisionskomponenten
Bei der Herstellung von Bauteilen sind immer engere Fertigungstoleranzen einzuhalten – insbesondere bei technischen und funktionalen Präzisionsflächen. Entsprechend wichtig ist es, Formtoleranzen wie Welligkeit oder Ebenheit sowie Positionstoleranzen wie Parallelität und Neigung mit hoher Genauigkeit zu prüfen. So lassen sich Spezifikationen sicher einhalten und Liefertermine zuverlässig erfüllen.
Häufig wird dafür die gesamte Oberflächentopografie eines Bauteils erfasst – etwa bei Stoßdämpferkomponenten, Präzisionsteilen in der Automobil- und Luftfahrtindustrie oder in der Feinmechanik.
Überprüfung von Form- und Lagetoleranzen
Die Weißlichtinterferometrie misst Formparameter wie Ebenheit, Parallelität und Stufenhöhe schneller und effizienter, besonders an großen Proben. Robust gegenüber unterschiedlich reflektierenden Materialien misst sie von feinpoliertem Stahl bis matter Keramik, was sie zur flexiblen Prüftechnik macht. Wo Form und Lagetoleranzen enger werden, wie Ebenheit, Position oder Verformung von Bauteilen (z. B. Leiterplatten), müssen immer präzisere Prüfmethoden her.
Viele Messaufgaben stellen zudem hohe Anforderungen an das Messverfahren: Die relevanten Flächen liegen häufig tief in Bohrungen oder weisen große Höhendifferenzen zwischen Funktionsflächen auf. Hier liefern Messsysteme auf Basis der bewährten Weißlichtinterferometrie zuverlässige Ergebnisse – selbst dort, wo andere optische Verfahren an Grenzen stoßen.
Polytec Weißlichtinterferometer ermöglichen wiederholbare, zerstörungsfreie Messungen mit einer vertikalen Auflösung von wenigen Nanometern – bis in den Sub-Nanometerbereich. Optische Profilmessgeräte eignen sich damit ideal zur präzisen Bestimmung von Formparametern wie Ebenheit und Parallelität. Zudem unterstützen sie eine effiziente Prüfroutine und lassen sich gut in Inline-Inspektionsabläufe für Form- und Positionstoleranzen integrieren.
Optische Profilmessgeräte zur Toleranzprüfung
Polytec bietet optische Systeme zur Messung der Topografie großer Oberflächen mit vertikaler Auflösung im Nanometerbereich. Diese hohe Auflösung ist unabhängig vom Messfeld und ermöglicht stabile Messergebnisse über unterschiedliche Probengrößen und Messaufbauten hinweg. Typische Aufgaben sind die Bestimmung von Ebenheit, Stufenhöhe, Rauheit, Parallelität sowie weiterer Oberflächenparameter zur Einhaltung definierter Form- und Positionstoleranzen.
Micro Profilometer
Micro.View Profilometer messen Rauheit, Textur, Mikrostrukturen und Finish mit sub-nm Auflösung. Mit fokussierter Optik und hoher vertikaler Auflösung ermöglichen sie eine detaillierte Analyse der Oberflächenbeschaffenheit und Materialverteilung und dort, wo kleinste Details den Unterschied ausmachen.
Macro Profilometer
Pro.Surf scannen großflächig und bestimmen Form und Ebenheit schneller. Die telezentrische Optik mit großem Z-Bereich meistert selbst hohe Stufen und tiefliegende Bereiche wie Bohrungen. Mit größtem Bildfeld und True Stitching misst es große Prüflinge, Trays oder mehrere Bauteile in einem Schuss. Pro.Surf+ erweitert die Möglichkeiten um eine zusätzliche Rauheitsauswertung.
Metro.Lab
Metro.Lab ist ein kompakter Tisch-Oberflächenprofiler für schnelle, großflächige 3D-Messungen. Hohe Messleistung bei geringer Stellfläche – ideal, wenn Platz oder Budget begrenzt sind, aber zuverlässige 3D-Oberflächendaten gebraucht werden.
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