Form- und Lagetoleranzen bei Präzisionskomponenten
Bei der Herstellung von Bauteilen sind immer engere Fertigungstoleranzen einzuhalten – insbesondere bei technischen und funktionalen Präzisionsflächen. Entsprechend wichtig ist es, Formtoleranzen wie Welligkeit oder Ebenheit sowie Positionstoleranzen wie Parallelität und Neigung mit hoher Genauigkeit zu prüfen. So lassen sich Spezifikationen sicher einhalten und Liefertermine zuverlässig erfüllen.
Häufig wird dafür die gesamte Oberflächentopografie eines Bauteils erfasst – etwa bei Stoßdämpferkomponenten, Präzisionsteilen in der Automobil- und Luftfahrtindustrie oder in der Feinmechanik.
Überprüfung von Form- und Lagetoleranzen
Die Weißlichtinterferometrie ermöglicht eine schnelle und hochpräzise Analyse von Keramikkomponenten, Aufdrucken, Sicherheitsmerkmalen und sogar forensischen Beweismitteln. Gleichzeitig steigen die Anforderungen an die Verformung (Warpage) von Bauteilen, etwa bei Leiterplatten, weiter an – insbesondere durch immer kleinere Geometrien.
Viele Messaufgaben stellen zudem hohe Anforderungen an das Messverfahren: Die relevanten Flächen liegen häufig tief in Bohrungen oder weisen große Höhendifferenzen zwischen Funktionsflächen auf. Hier liefern Systeme auf Basis bewährter Weißlichtinterferometrie zuverlässige Ergebnisse – auch dort, wo andere optische Verfahren an physikalische oder messtechnische Grenzen stoßen.
Polytec Weißlichtinterferometer ermöglichen wiederholbare, zerstörungsfreie Messungen mit einer vertikalen Auflösung von wenigen Nanometern – bis in den Sub-Nanometerbereich. Optische Profilmessgeräte eignen sich damit ideal zur präzisen Bestimmung von Formparametern wie Ebenheit und Parallelität. Zudem unterstützen sie eine effiziente Prüfroutine und lassen sich gut in Inline-Inspektionsabläufe für Form- und Positionstoleranzen integrieren.
Optische Profilmessgeräte zur Toleranzprüfung
Polytec bietet optische Systeme zur Messung der Topografie großer Oberflächen mit vertikaler Auflösung im Nanometerbereich. Diese hohe Auflösung ist unabhängig vom Messfeld und ermöglicht stabile Messergebnisse über unterschiedliche Probengrößen und Messaufbauten hinweg. Typische Aufgaben sind die Bestimmung von Ebenheit, Stufenhöhe, Rauheit, Parallelität sowie weiterer Oberflächenparameter zur Einhaltung definierter Form- und Positionstoleranzen.
Micro Profiler
Micro.View-Systeme wurden für ultrahochauflösende Messungen bis in den Sub-Nanometerbereich entwickelt. Die Kombination aus fokussierter Optik und hoher vertikaler Auflösung erlaubt eine präzise Analyse von Mikrostrukturen, Oberflächenbeschaffenheit und Materialverteilung, insbesondere bei Anwendungen, bei denen selbst minimale Abweichungen relevant sind.
Macro Profiler
Pro.Surf-Systeme liefern schnelle, flächenbasierte 3D-Topografiemessungen mithilfe telezentrischer Optik. Damit lassen sich Ebenheit, Formabweichung, Parallelität und Stufenhöhen zuverlässig prüfen – sowohl über weite Messfelder als auch bei Innenmerkmalen in Bohrungen.
Metro.Lab
Metro.Lab ist ein kompakter Tisch-Oberflächenprofiler für schnelle, großflächige 3D-Messungen. Hohe Messleistung bei geringer Stellfläche – ideal, wenn Platz oder Budget begrenzt sind, aber zuverlässige 3D-Oberflächendaten gebraucht werden.
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