Welche Lösung zur Schichtdickenmessung passt zu Ihrer Anwendung?
Sie müssen Schichtdicke zuverlässig messen, aber Material, Schichtaufbau und Ihre Prozessbedingungen machen die Technologieauswahl komplex? Polytec unterstützt Sie dabei, Ihren Anwendungsfall präzise einzuordnen und eine Lösung auszuwählen, die unter realen Bedingungen zuverlässig funktioniert.
| Typische Anwendungen | Anwendungs- umgebung | Materialien & Eigenschaften | Schichtdickenbereich | Polytec-Lösung |
|---|---|---|---|---|
| Inline Atline Labor | Opake, halbtransparente und transparente Materialien; feste, flüssige und granulare Materialien; Metalle, Keramiken, Polymere, Holz, Glas, ... | ~ 0,1 µm – 1 mm | Fotothermie |
| Mehrschichtsysteme (z. B. Automotive), Kunststoff-auf-Kunststoff-Schichten, Rohr- und Wandstärkenmessung, Schaumstoffe & Isolationsmaterialien | Inline Atline Labor | Nichtleitende Kunststoffe (PE, PP, PVC), Keramiken & Gläser, Mehrschichtsysteme | ~ 5 µm – cm-Bereich | Terahertz |
| Dünne organische Schichten, Batteriebeschichtungen, Beschichtungsuniformität, Flächenhafte Qualitätskontrolle | Inline Atline Labor | Transparente Dünnschichten, Organische Materialien, Polymere, Öle, Fette | ~ nm – 500 µm | Hyperspektrale Bildgebung |
Das richtige Mess-system gefunden?
Das richtige Mess-system gefunden?
Ob Fotothermie, Terahertz-Messung oder hyperspektrale Bildgebung: Die richtige Wahl entscheidet über Reproduzierbarkeit, Integrationsfähigkeit und Prozesssicherheit. Polytec unterstützt Sie dabei, schneller zur tragfähigen Lösung zu kommen.
Drei Messsysteme. Klare Einsatzfelder.
Fotothermie, Terahertz-Messung und hyperspektrale Bildgebung decken unterschiedliche Anforderungen in der optischen Schichtdickenmessung ab. Hier erfahren Sie mehr über die einzelnen Technologien und ihre Funktionsweise.

Fotothermische Messsysteme
Das Enovasense-System misst die Dicke von opaken oder transparenten Beschichtungen extrem schnell im Labor und in Inline-Anwendungen auf fast allen Substraten. Der kompakte Messkopf eignet sich für beengte Platzverhältnisse.

Terahertz-Dickenmesssysteme
Terahertz-Dickenmessung – schnell, berührungslos, zerstörungsfrei, ideal für Mehrschichtmaterialien in industriellen Anwendungen und zur Qualitätskontrolle von Prozessen.

Hyperspektrale Bildgebungs-Messsysteme
Diese Systeme nutzen eine einzigartige Kombination aus optischer Spektroskopie und Bildgebung für eine präzise Oberflächenanalyse. Je nach Materialeigenschaften können Schichtdicken in einem beeindruckenden Bereich von 1 nm bis 500 µm zerstörungsfrei gemessen werden.
Optische Schichtdickenmessung in der Praxis
Optische Schichtdickenmessung kommt in unterschiedlichen Anwendungen zum Einsatz – von der Analyse von Einzelschichten bis hin zur Analyse von Mehrschichtsystemen. Die folgenden Beispiele zeigen typische Einsatzfelder aus der Praxis.
Fotothermie
Laserbasierte, berührungslose Schichtdickenmessung mit dem Messsystem von Enovasense für opake, semitransparente und transparente Beschichtungen – einsetzbar im Prozess, auch bei Hitze, Bewegung und anspruchsvollen Oberflächen.
Fotothermie
Inline-Sensoren von Enovasense messen Schichtdicken berührungslos und zerstörungsfrei direkt im Produktionsprozess und überwachen Ihre Beschichtungen zuverlässig unter realen Bedingungen.
Terahertz
Nano Irys Messgeräte messen Schichtdicken direkt in der Batteriezelle während des Betriebs und liefern präzise Einblicke in Materialverhalten und Performance.
Fotothermie-Anwendungen






Terahertz-Anwendungen





Anwendungen der hyperspektralen Bildgebung





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Optische Schichtdickenmessung: Verfahren im Vergleich
Grundlagen der Schichtdicken-Messtechnik: Vergleich optischer und berührungsloser Verfahren wie photothermische und Terahertz-Verfahren für eine präzise Inline-Analyse.

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