Optische Schichtdickenmessung| Polytec

Berührungslose optische Schichtdickenmessung

Wenn Sie Beschichtungen und Schichtdicken präzise analysieren möchten, unterstützen Sie die optischen Schichtmesssysteme von Polytec mit berührungsloser und zerstörungsfreier Messtechnik. Von dünnen Funktionsschichten bis zu komplexen Mehrschichtsystemen liefern unterschiedliche optische Messtechnologien zuverlässige Ergebnisse für die industrielle Schichtcharakterisierung.

Unternehmen aus der Automobilindustrie, Elektronik, Halbleitertechnik, Batterieproduktion, Kunststofftechnik sowie Forschung und Entwicklung nutzen optische Schichtmessung für Qualitätskontrolle, Prozessüberwachung und Materialanalyse.

Nass- oder Trockenmessung von Lacken und Pulverbeschichtungen

Inline measurements — Inline-Schichtdickenmessung

Anodic oxide layer thickness measurement at narrow measuring points — Eloxal-Schichtdickenmessung an engen Messstellen

Produktauswahl

Fotothermische Messsysteme

Das Enovasense-System misst die Dicke von opaken oder transparenten Beschichtungen extrem schnell im Labor und in Inline-Anwendungen auf fast allen Substraten. Der kompakte Messkopf eignet sich für beengte Platzverhältnisse.

Hyperspektrale Bildgebungs-Messsysteme

Diese Systeme nutzen eine einzigartige Kombination aus optischer Spektroskopie und Bildgebung für eine präzise Oberflächenanalyse. Je nach Materialeigenschaften können Schichtdicken in einem beeindruckenden Bereich von 1 nm bis 500 µm zerstörungsfrei gemessen werden.

Terahertz-Dickenmesssysteme

Terahertz-Dickenmessung – schnell, berührungslos, zerstörungsfrei, ideal für Mehrschichtmaterialien in industriellen Anwendungen und zur Qualitätskontrolle von Prozessen.