Technologiewissen

Prinzip und Vorteile der Weißlichtinterferometrie als optisches Messverfahren. Flächenhafte 3D-Messdaten, vertikale Auflösung unabhängig von der Bildfeldgröße.

Formabweichung optisch messen: Oberflächenbeschaffenheit anhand Formparameter charakterisieren durch wiederholgenaue 3D-Messung.

Erfahren Sie mehr über die erneuerte ISO 21929 Norm für Rauheits- und Oberflächenprofilierung, was sie für Ihre tägliche Qualitätskontrolle bedeutet und wie Sie sie umsetzen können - Polytec begleitet Sie dabei!

Sensorik nach dem chromatisch-konvokalen Messprinzip setzt Polytec als Lösungen zur Schichtdickenmessung, sowie zur punktuellen und linienhaften Höhen- und Rauheitsmessung ein.

Optische Charakterisierung von technischen Oberflächen anhand Formparameter wie Ebenheit, Welligkeit, Stufenhöhe, Parallelität, Rauheit und mehr.

Die Oberflächenstruktur definiert die Topografie eines Materials hinsichtlich Flächenrauheit, Welligkeit und Lage. Wir messen 3D-Strukturen, die das Aussehen und die Korrosionsbeständigkeit beeinflussen.

Erfahren Sie, was Oberflächenrauheit ist, wie Ra, Rz, Sa und Sq definiert sind und welche Normen wann gelten.

Ebenheit messen und Werkstücktopografie hinsichtlich Ebenheitstoleranzen gemäß ISO 1101, ISO 12781 charakterisieren

Stufen & Höhe messen an Präzisionsoberflächen und Werkstücken: Wie berechnet man die Stufenhöhe? Wo sind Unterschiede zwischen profilbasierter und flächenhafter Stufenhöhenmessung?

Schichtdickenmessung im Labor oder im Produktionsprozess durch at-line/ in-line Messungen berührungslos, hochgenau & zerstörungsfrei.