光学抛光及抛光部件的质量控制
光学抛光是一种广泛应用于高精度机械和光学元件制造过程的加工技术，这些元件要求缺陷极少且微粗糙度值极低。 光学抛光是一种用于实现表面超精加工或微精加工的方法，这对后续加工、长期质量和功能至关重要。高精度光学元件由多种材料制成，从玻璃到金属不等。元件制造过程的最后一步是抛光工序，以满足光学表面光洁度要求。
各制造商在此基本抛光方法上会有细微差异，并拥有专有技术以实现特定目标。例如，不同材料参数在面对不同的主轴/研磨盘转速时会表现出不同的特性。流经光学表面的研磨浆液中，细小研磨颗粒的粒径一致性如何？时间如何影响抛光过程？较大的颗粒或外部污染物是否会导致表面划痕、瑕疵或损伤？
简而言之，许多表面参数都会影响最终表面形貌的质量结果。
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抛光、研磨或磨削表面的分析
利用TopMap 轮廓仪进行的大面积3D地形扫描测量，可高效检测抛光表面（如光学元件、透镜或反射镜），以及数控加工表面（如机械部件和密封面）。
该设备不仅能表征平整度和台阶等形状参数，还能以高达纳米级的高分辨率测量表面纹理和粗糙度。借助SSSTSmart Surface Scanning 技术，无论是在光亮、哑光、光滑还是粗糙的表面上，该设备均可对所有材料进行测量。
利用3D光学表面测量技术表征抛光表面
在此，光学和非接触式表面测量技术有助于对抛光表面进行质量控制，并收集整个抛光工艺的反馈信息。TopMap Micro.View 是一款极其先进的光学表面轮廓仪，可依据国际标准和可溯源标准样品对表面进行表征和测量。Polytec 的无损相干扫描（白光）干涉仪能够满足光学行业对质量控制的这些高要求。 该光学轮廓仪可实现全自动化运行，既适用于测量实验室，也适用于生产环境，能够可靠地评估光学平滑表面和超精加工玻璃部件。凭借其高分辨率和高重复性，它可测量各种光学材料，无论其表面是超精加工后的光亮表面还是灰色表面。
用于光学元件检测和表面处理的光学轮廓仪
表面粗糙度仪
Polytec表面粗糙度测量仪是迈入3D表面计量的入门级光学轮廓仪，Micro.View系列专为触针式用户升级打造。高性价比预配置，支持R参数与S参数评估，符合ISO标准。非接触式测量，亚纳米分辨率，可选电动载物台与以旧换新升级保障。
Micro.View
Micro.View是一款紧凑型台式光学轮廓仪，操作简便。作为高性价比的检测工具，它可对精密加工表面进行亚纳米级分辨率的检测，适用于粗糙度、微观结构及其他表面细节的评估。
Micro.View+
Micro.View+ 是一款基于显微镜平台的高端表面轮廓仪，支持自动化操作与彩色成像。其能够实现与操作人员无关的、高重复性的粗糙度与纹理分析，可同时满足实验室研发与生产现场的质量控制需求。
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