拋光部件的光學拋光與品質控制
光學拋光是一種廣泛應用於高精度機械與光學元件製造的加工技術，此類元件需具備極低缺陷率與平滑的微觀粗糙度值。 光學拋光是實現表面超精加工或微精加工的工藝，此工序對後續加工、長期品質及功能性至關重要。高精度光學元件的製造材料涵蓋玻璃至金屬等多種類型，其生產流程皆需透過拋光工序完成，以滿足光學表面精度的要求。
各製造商在基本拋光方法上存在細微差異，並擁有達成特定目標的專利技術。例如：不同材料參數對主軸/拋光盤轉速的反應各異；流經光學表面的研磨漿料中，微細研磨顆粒尺寸的均勻性如何？時間如何影響拋光過程？較大顆粒/外部污染物是否會造成刮痕、瑕疵或表面損傷？
簡言之，眾多表面參數皆會影響最終表面形貌的品質結果。
轮廓仪 選擇合適的表面處理方案，請放心委託我們——讓我們為您的樣品執行可行性研究。
分析拋光、研磨或磨削表面
採用TopMap 輪廓儀進行大面積3D地形掃描測量，可高效檢測拋光表面（如光學元件、透鏡或鏡面）以及CNC加工表面（如機械零件與密封面）。該技術不僅能表徵形狀參數（如平面度與台階），更能以奈米級高解析度測量紋理與粗糙度。透過SSST智能表面掃描技術，無論光亮、霧面、平滑或粗糙材質，皆能實現全面材料檢測。
運用三維光學表面測量技術表徵拋光表面
在此，光學與非接觸式表面測量技術協助執行拋光表面的品質控管，並收集整個拋光製程的反饋數據。TopMap Micro.View 是款極為先進的光學表面轮廓仪 ，能依據國際標準及可追溯標準件對表面特性進行表徵與量測。 Polytec的非破壞性相干掃描（白光）干涉儀滿足光學產業對品質控制的嚴苛要求。光學轮廓仪 可完全自動化運作，適用於實驗室與生產環境，能可靠評估光學平滑表面及超精加工玻璃元件。憑藉其高解析度與重複性，無論超精加工後的表面呈現亮面或灰面，皆可精準測量各類光學材料。
相關表面轮廓仪s
Micro.View
TopMap Micro.View® is an easy to use optical profiler in a compact table-top setup. Choose Micro.View® as the cost-effective inspection tool for examining precision-engineered surfaces down to the sub-nm range, for inspecting roughness, microstructures and more surface details.
Micro.View+
Advanced microscope-based surface profiler with automation and color imaging. Micro.View+ enables repeatable, operator-independent roughness and texture analysis—ready for lab and production use.
Pro.Surf+
多传感器光学轮廓仪，集大面积形状测量与集成粗糙度分析于一体。Pro.Surf+系统可在单一生产就绪设备中快速提供可追溯的形状与粗糙度测量结果。
選擇合適的表面處理方案，請放心選用轮廓仪 ——透過我們的「先試用後購買」方案，讓您輕鬆獲益。
