大功率激光二极管

一次扫描实现高功率激光二极管全面检测

确保高功率激光二极管（HPLDs）稳定可靠工作，其封装外壳的平整度与台阶高度精准达标是关键因素。要达成这一检测目标，务必借助久经实践验证的前沿技术。该技术不仅要能敏锐捕捉极为细微的高度差异，还需快速、精准地输出测量数据。毋庸置疑， Polytec 的表面测量系统正是此类技术的佼佼者。

 Polytec 的 TopMap 光学 3D 表面计量系统，具备大视场面域测量能力，可全面表征激光阵列中二极管的各项特性。该系统能够直接针对半导体表面，精准分析 “微笑” 表面曲率与台阶高度。凭借大视场优势，单次测量即可完整获取所有关键细节，在保障高分辨率的同时，实现对激光二极管封装外壳便捷、全面且高效的检测流程，极大提升检测效率与质量 。