光学元件、玻璃及透明材料的表面形貌
通过测量镜头、反射镜和光学元件等部件的形状和粗糙度参数（精度可达亚纳米级），确保其质量和制造生产率。所有这些均以高效率完成，从而保障制造吞吐量。
在TopMap 光学表面测量系列中，您可以找到用于光学元件、玻璃或其他透明材料质量检测的高效测量和测试解决方案。Polytec 的光学轮廓仪是一款灵活且易于使用的检测系统，可快速、以纳米级精度测量厚度，并确定平整度、台阶高度或平行度等形状参数。
Polytec 此外，我们还可根据您的粗糙度、距离或厚度要求提供定制化解决方案。您既可利用亚纳米分辨率数据实现高精度测量，也可通过大面积扫描覆盖更大尺寸的样品，甚至一次性检测多个样品。快速测量兼具高重复性：无论是在生产线、生产车间还是实验室环境中。
- 测量透镜和反射镜
- 设计自由曲面光学元件
- 检测衍射光学元件（DOE）
- 检测激光及其他光学设备
测量透镜、光学元件和镜面的形状、平整度及表面粗糙度
测量表面形状参数，评估光学元件、玻璃及透明介质的平整度或台阶高度。TopMap 表面轮廓仪可对透镜、光学元件、自由曲面光学元件或反射镜进行全面且快速的检测，以实现制造过程中的设计优化和质量控制。光学元件、反射镜或透镜等透明材料由于对划痕或缺陷（接触式测量）以及反射率（光学测量）的敏感性，其测量具有较高难度。 通过采用非接触式光学测量技术，可避免划痕及接触式测量探针的影响。Polytec 的大面积表面形貌扫描功能，可一次性捕获整个工件或更大区域。经过精心开发的SST智能扫描技术还能应对不同且具有挑战性的表面反射率，在哑光、磨砂、镀膜和光亮表面上均能提供可靠的测量性能。
白光干涉仪的典型光学测量任务及“光学应用”
- 镜面的平整度测量
- 透镜和自由曲面光学元件的完整三维表征
- 薄膜或层状结构的翘曲测量
- 层厚测量
- 形状、波纹和纹理的独立检测
- 亚纳米级粗糙度与微观结构分析
- 划痕测试中的缺陷检测与评估
- 对精密机械部件（如镜片和透镜支架）的台阶高度测量
- 光学精密设备（激光器、干涉仪等）的形状公差检查
- 一次性完成上下表面平整度、厚度和平行度的组合测量
