确保芯片实验室设备的功能可靠性
微流控芯片实验室系统（简称LoC）能在极小的空间内实现多种过程。 芯片实验室可在紧凑的芯片上对液体进行分析，用于生物、化学或物理过程的工艺分析和在线诊断。芯片实验室设备利用毛细管力输送极微量的流体，其体积范围在几皮升（pL）或微升（mL）之间。
借助TopMap 3D表面测量等非接触式测量技术，您可以检测芯片实验室微流体通道的尺寸精度，高精度地评估LoC通道深度或通道宽度，并测定芯片实验室设备整个表面的体积或平整度。
芯片实验室生产的质量与工艺控制
研发服务专家 Hahn-Schickard 利用微系统技术，将智能产品的构思转化为现实，并完成从概念到制造的全流程开发。哈恩-希卡德与行业合作伙伴携手，在传感器技术、物联网（IoT）智能嵌入式系统、人工智能（AI）、芯片实验室（LoC）与分析技术以及电化学能源系统等领域，共同实现创新产品与技术的落地。
在其用于结核病检测的芯片实验室设计中，芯片实验室生产过程中的一大挑战在于将封口工具的高度与卡匣高度精确匹配。如果高度过低，封口力不足，卡匣无法紧密密封；如果高度过高，则会产生压力飞溅，熔融材料可能堵塞微通道。
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将密封膜应用于我们的芯片实验室卡匣上是一项挑战：首先，需要在粘接过程中既要确保高密封强度，又不能堵塞卡匣内的微细通道。 其次，注塑成型厚度方面的生产公差无法完全消除，因此在密封时必须对此进行补偿。为了精确调整密封模具，我们使用扫描式白光干涉仪测量卡匣的高度。随后，这些三维测量数据便成为设计密封模具的基础。
芯片实验室的关键参数：台阶高度、通道深度和平整度
TopMap 光学轮廓仪凭借其宽广的视场（FoV）和高的垂直分辨率，能够通过单次测量直接检测芯片实验室（Lab-on-a-chip）通道的深度，并对整个芯片实验室进行几何检测，仅需几秒钟即可生成数百万个数据点。 白光干涉仪采用同轴光学设计，光路呈平行状态，从而能够捕捉芯片实验室器件的通道底部，避免因阴影效应导致测量数据中出现盲点。TopMap 系列基于显微镜的轮廓仪专注于微系统或结构细节的检测、粗糙度评估等应用。TopMap 光学轮廓仪在保持Z轴分辨率恒定的同时，只需更换镜头，即可快速、轻松地根据不同的测量任务调整横向分辨率。
Suitabel 3D 表面轮廓仪
三维光学轮廓仪
Micro.View 系列三维光学轮廓仪专为亚纳米级分辨率测量而优化。凭借聚焦光学系统与高垂直分辨率，可对微观结构、表面光洁度及材料分布进行精细分析——在最微小的偏差都可能影响性能的场景中，提供可靠的数据支撑。
大视场三维光学轮廓仪
Pro.Surf 可对大型工件及多样本料盘进行平面度、台阶高度与平行度检测——非接触、数秒完成。防碰撞远心光学系统可深入深孔内部进行测量，满足生产环节对精度与重复性的严苛要求。
Metro.Lab
Metro.Lab 是一款结构紧凑、大面积测量的表面轮廓仪。它将卓越的测量性能与小巧的占地面积相结合，非常适合在空间或预算受限的情况下，仍需获取可靠三维表面数据的应用场景。
不确定哪款轮廓仪适合您的任务？两份指南助您决策。
两份简明指南将带您完成关键决策：一份帮助您选择正确的测量技术，另一份帮助您确定合适的测量尺度——显微级还是宏观级。配合我们的”先试后买“服务，您还可以在实际工件上验证您的选择。
