Lab-on-a-Chip

Optische 3D-Messung von Lab-on-a-Chip (LoC) Komponenten um Formparameter für die Qualitätskontrolle zu erhalten: Messkanaltiefe, Stufenhöhe, Ebenheit und mehr...

Sicherung der Funktionalität von Lab-on-a-Chip-Geräten

Mikrofluidische Lab-on-a-Chip-Systeme (LoC) integrieren komplexe Analyse- und Prozessschritte auf kleinstem Raum. Für ihre zuverlässige Funktion sind präzise definierte Geometrien und reproduzierbare Fertigungsprozesse entscheidend.

Lab-on-a-Chip-Systeme werden in der biologischen, chemischen und medizinischen Analytik eingesetzt, um Flüssigkeiten in Volumina von Pico- bis Mikrolitern zu verarbeiten. Die Funktionalität dieser Systeme hängt maßgeblich von der exakten Geometrie der mikrofluidischen Strukturen ab.

Bereits geringfügige Abweichungen in Kanaltiefe, -breite oder Ebenheit können den Flüssigkeitstransport, Mischprozesse oder Detektionsmechanismen beeinträchtigen. Optische 3D-Messverfahren erlauben eine vollständige, zerstörungsfreie Erfassung dieser Strukturen und liefern belastbare Daten zur funktionalen Bewertung.

Qualitätskontrolle und Prozesskontrolle bei der Herstellung von Lab-on-a-Chip-Systemen

In der Herstellung von Lab-on-a-Chip-Systemen – beispielsweise durch Spritzguss, Heißprägen oder Laminieren – sind enge Toleranzen und reproduzierbare Prozesse erforderlich. Optische 3D-Oberflächenmesstechnik unterstützt die Prozesskontrolle durch:

  • die präzise Messung von Messkanaltiefen und -geometrien
  • die Bewertung von Stufenhöhen und Ebenheit über das gesamte Bauteil
  • die Analyse von Formabweichungen und Fertigungstoleranzen

Die berührungslose Messung verhindert mechanische Beeinflussung empfindlicher Strukturen und eignet sich sowohl für Laborumgebungen als auch für die produktionsnahe Qualitätssicherung.

Beispiel:  Tuberkolose Test

Der Experte für Forschungs- und Entwicklungsdienstleistungen Hahn-Schickard entwickelt intelligente Produkte mit Mikrosystemtechnik von der Idee bis zur Fertigung. Gemeinsam mit Industriepartnern realisiert Hahn-Schickard innovative Produkte und Technologien in den Bereichen Sensorik, intelligente eingebettete Systeme für das Internet der Dinge (IoT), künstliche Intelligenz (KI), Lab-on-a-Chip (LoC) und Analytik sowie elektrochemische Energiesysteme.

Bei ihrem Lab-on-a-Chip-Design für Tuberkulose-Tests besteht eine der Herausforderungen im Herstellungsprozess darin, die Höhe der Versiegelungswerkzeuge genau auf die Kartusche abzustimmen. Ist die Höhe zu gering, ist die Versiegelungskraft zu schwach und die Kartuschen sind nicht dicht. Ist die Höhe zu hoch, kommt es zu Druckspritzern und das Schmelzprodukt kann die feinen Messkanäle verstopfen.

Lab-on-a-Chip-System für Tuberkulose-Tests (Hahn-Schickard)
3D-Topografie und Höhenmessung der Lab-On-Chip-Kartusche (Hahn-Schickard)

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RnD engineer Raimund Rother from Hahn-Schickard about the role of whitelight-interferometry evaluating their lab-on-a-chip cartridge design

Das Aufbringen der Dichtungsfolie auf die Kartuschen unseres Lab-on-a-Chip ist eine Herausforderung: Erstens muss eine hohe Dichtungsfestigkeit erreicht werden, ohne dass die feinen Messkanäle der Kartusche beim Verkleben verschlossen werden. Zweitens lassen sich Fertigungstoleranzen hinsichtlich der Spritzgusstiefen nicht vollständig eliminieren, was beim Versiegeln kompensiert werden muss. Um das Versiegelungswerkzeug präzise einzustellen, messen wir die Höhen der Kartusche mit einem Scanning-Weißlicht-Interferometer. Diese 3D-Messdaten bilden dann die Grundlage für die Konstruktion des Versiegelungswerkzeugs.
Raimund Rother
Verfahrenstechniker bei Hahn-Schickard

Zentrale Messparameter bei Lab-on-a-Chip-Anwendungen

Zu den entscheidenden Messgrößen bei der Charakterisierung von Lab-on-a-Chip-Systemen zählen:

  • Messkanaltiefe und -breite
  • Stufenhöhe zwischen Funktionsebenen
  • Ebenheit und Parallelität
  • flächenhafte 3D-Topografie der gesamten Kartusche oder Chipstruktur

Flächenhafte 3D-Datensätze ermöglichen eine umfassende Bewertung der Geometrie und unterstützen die Optimierung von Design, Werkzeugen und Fertigungsprozessen.

Testen von Lab-on-a-Chip durch Messung der Messkanal-Tiefe, LOC-Kanalbreite, Ebenheit und Topografie
Flächenscan zur Erstellung von 3D-Topografiemessdaten aus dem gesamten Lab-on-a-Chip

Besprechen Sie Ihre Anforderungen mit unseren Experten

Gerne erfahren wir mehr über Ihre Bauteile, Toleranzen und Herausforderungen. Basierend darauf können wir Empfehlungen zu Technologien und Systemen geben. Oder wir zeigen Ihnen in einer kurzen Demo, wie einfach und effizient Messungen mit dem passenden Polytec Profilometer durchgeführt werden – entweder an unseren Komponenten oder direkt an Ihrem Bauteil.

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