以奈米級精度進行驅動技術的表面檢測
具備特殊設計微結構與奈米結構的技術表面，是降低磨損與能耗的關鍵。製造商唯有採用更快速、更可靠且可隨時重複的測量技術，才有機會提升產品性能。
Polytec的表面測量系統能快速全面地記錄三維結構。您亦可在生產線中使用Polytec的專用產品。即使需要測量深達70毫米的孔洞，Polytec都能滿足您的需求。
具有最宽视场角（FoV）的表面轮廓仪
在测量组件领域，Pro.Surf系列提供最高效的光学轮廓仪，其在样品材质、尺寸及复杂度方面具备无与伦比的灵活性。欢迎通过在线演示或直接租赁系统，亲身体验Pro.Surf为您带来的卓越性能。
相關表面測量任務
表面粗糙度测量
三维表面纹理分析参数。从Sa/Sq到Str/Sal，用于验证规格与表面特征。
形位公差控制
验证波纹度、平面度、平行度、倾斜度等形位公差。光学3D表面测量即便在孔内也能提供可靠结果。
微结构表面测量技术
微结构与纳米技术的形貌与动态特性分析，涵盖三维几何结构、粗糙度与时间解析运动。
平整度、厚度与平行度
平面度、厚度与平行度（FTP）测量技术，可在单次操作中同步完成顶面与底面的表面形貌测量。
涂层与膜厚
三维涂层质量控制。评估预涂层纹理、涂层后缺陷及薄膜厚度。
摩擦学分析
采用三维表面轮廓仪进行摩擦学分析，评估摩擦、磨损与润滑性能。
合格/不合格分析
白光干涉仪（WLI）提供快速、客观且易于使用的区域性3D数据合格/不合格反馈。亚纳米级Z轴与配方驱动的工作流程支持在线SPC。
