保持形状和位置公差

精密零部件的形状和位置公差

在零部件制造过程中，必须满足日益严格的制造公差要求——特别是在技术性和功能性精密表面上。因此，制造商需要高精度地验证形状公差（如波纹度和平整度）以及位置公差（如平行度和倾斜度）。这确保了符合规格要求，并在规定时限内可靠交付。

在许多情况下，制造商会对零部件的完整表面形貌进行检测，以验证其是否符合形状和位置公差要求——例如在减震器零部件、汽车和航空航天行业的其他精密零部件，以及精密机械领域中。

白光干涉测量技术能够更快、更高效地测量平整度、平行度和台阶高度等形状参数，即使面对大型样品也是如此。该技术在不同反射率的材料上均表现出色，例如光亮的抛光金属或哑光陶瓷，因此成为实验室和生产环境中的灵活选择。随着几何尺寸的缩小，对元器件（例如印刷电路板）翘曲度的要求也在不断提高。

此外，许多应用涉及复杂的几何结构：待测区域可能位于深孔内部，或者不同功能区域之间存在显著的高度差异。在这些情况下，基于成熟白光干涉测量技术的Polytec 系统能够提供可靠的结果——而其他光学测量方法在此类场景中往往面临局限。

Polytec 白光干涉仪可进行可重复的、无损测量，分辨率可达几纳米——甚至具备亚纳米级测量能力。光学轮廓仪非常适合精确测定平整度和平行度等形状参数，有助于高效验证，并可轻松集成到在线检测工作流程中，以满足形状和位置公差的要求。

研讨会内容：从基于 ISO 21920 线粗糙度参数 Ra、Rq、Rz，到基于 ISO 25178 面粗糙度参数 Sa、Sq、Sz，更有实用技巧与方法…… 没时间参会？没关系 —— 立即注册观看回放！

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Polytec 提供用于测量大面积表面形貌的光学系统，其垂直分辨率可达纳米级。这种高垂直分辨率与视场无关，因此无论样品尺寸或检测配置如何，均能获得稳定的测量结果。典型的测量任务包括测定平整度、台阶高度、粗糙度、平行度以及其他满足形状和位置公差要求的表面参数。

Micro.View 系列三维光学轮廓仪专为亚纳米级分辨率测量而优化。凭借聚焦光学系统与高垂直分辨率，可对微观结构、表面光洁度及材料分布进行精细分析——在最微小的偏差都可能影响性能的场景中，提供可靠的数据支撑。

Pro.Surf 可对大型工件及多样本料盘进行平面度、台阶高度与平行度检测——非接触、数秒完成。防碰撞远心光学系统可深入深孔内部进行测量，满足生产环节对精度与重复性的严苛要求。

Metro.Lab 是一款结构紧凑、大面积测量的表面轮廓仪。它将卓越的测量性能与小巧的占地面积相结合，非常适合在空间或预算受限的情况下，仍需获取可靠三维表面数据的应用场景。

两份简明指南将带您完成关键决策：一份帮助您选择正确的测量技术，另一份帮助您确定合适的测量尺度——显微级还是宏观级。配合我们的”先试后买“服务，您还可以在实际工件上验证您的选择。

平整度、厚度和平行度（FTP）测量将顶面和底面形貌测量整合到单次测量中。

WLI 能够基于面状 3D 数据，提供快速、客观且易于使用的合格/不合格反馈。亚纳米级 Z 方向分辨率和基于工艺配方的工作流程支持在线统计过程控制（SPC）。

测量、租赁、决策——一切由您做主。自信地选择最符合您计量策略的表面轮廓仪，从而保障您的资本投资。

让我们先简要讨论您的零件、公差要求与工作流程——如果您认为有帮助，后续可选择性地追加可行性研究、PolyMeasure合约测量服务或PolyRent试用方案作为后续步骤。