基于白光干涉测量法（WLI）的光学轮廓仪
德国 Polytec 光学轮廓仪，是创新型、高精度的非接触式传感器系统，代表着前沿科技与卓越精度的融合，其主要功能在于对工件或微观结构的整个表面进行全面的三维形貌表征。
TopMap 系列光学轮廓仪基于白光干涉测量原理，又被称作相干干涉测量法、垂直扫描干涉测量法，或是相干雷达技术。该系列产品具备显著优势：拥有大垂直测量范围，可实现 nm 级分辨率；能针对大尺寸样品开展面测量，亦或一次完成多样品测量。正因如此，它们堪称测量实验室以及生产测试场景的理想之选。
利用 TopMap 光学轮廓仪，可对大尺寸样品结构的各项表面参数，诸如平面度、台阶高度和平行度等，开展非接触式测量。整个测量过程快速且可靠，为相关领域的检测工作提供了高效且精准的解决方案 。
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TopMap Micro.View
TopMap Micro.View® 是一款易于操作、设计紧凑的光学轮廓仪。在精密工程领域的表面分析工作中，无论是检测表面粗糙度、微观结构，还是探索更多表面细节，Micro.View® 都是极具性价比的质量控制解决方案。
TopMap Micro.View+
TopMap Micro.View®+ 作为新一代光学表面轮廓仪，采用创新模块化设计，能够以超乎寻常的精度，可靠攻克有关表面光洁度与微观结构领域中最为棘手的分析难题。其配备的 “寻焦器” 和 “焦点跟踪器”，时刻确保样品处于精准聚焦状态，搭配全电动定位装置，为实现自动化检测流程提供坚实保障。更多精彩，期待您来深入探究！
TopMap Pro.Surf
Pro.Surf 是快速、专业 3D 表面特征描述的代名词：只需几秒钟就能捕捉 200 万个测量点，让您看到每个细节。 Pro.Surf 能够在短时间内完成要求苛刻的生产工作流程。 超宽视场（FOV）可一次捕捉图像区域达 33x44 mm 的大型样品，而灵活的 70 mm Z 范围可将拼接范围扩展至 230x220 mm。
TopMap Pro.Surf+
德国 Polytec 匠心打造一体化 3D 光学计量解决方案。这款超精密白光干涉仪，创新性地在多传感器系统内，融合了用于粗糙度轮廓测量的共聚焦色差传感器，以及几何参数与形状偏差的面测量技术。
Pro.Surf + 优势显著，既能凭借大视场实现大尺寸样本大面积形貌的精准测量，又能以nm 级分辨率细致刻画结构细节，无疑是相关测量需求的不二之选 。
TopMap Metro.Lab
它是一个完整的测量站，非常适合几乎所有表面的大面积外形。由于它物超所值，对于较少任务的小公司也具有吸引力。
这款紧凑且功能齐全的表面测量工作站，是大视场（FoV）光学非接触式表面表征的入门级测量系统。TopMap Metro.Lab 堪称实验室以及临近生产端质量控制的理想设备。性价比极高，适用于检测需求较少或仅偶尔有检测任务的小型企业。