硬盘驱动上的读/写头

硬盘读写头表面参数评估

硬盘读写头构造精密复杂，研发时检测表面参数极为关键，这是后续稳定工作、精准读写数据的基础。

Polytec 的表面测量系统优势显著，单次操作就能全面扫描读写头表面。这既大幅提升检测效率，又能精准分析部件高度差异，轻松完成平整度检测。

用户可按需灵活选择测量设备。检测大区域选大面积测量系统；探究微观细节、测粗糙度等，则用显微镜系统，获取精准数据。