Entfalten Sie Ihr Potenzial in Bezug auf Leistung und Qualität
Unser Metro.Lab-Weißlichtinterferometer ist ein kompaktes optisches Messsystem, das die flächige 3D-Topografie mit einer vertikalen Genauigkeit im Nanometerbereich (<2,85 nm) erfasst.
Telezentrische Optiken sorgen für eine konstante Vergrößerung und einen sicheren Arbeitsabstand. Mit dieser Technologie eignet sich das Metro.Lab-Messsystem ideal für die Messung von Ebenheit, Stufenhöhen und Parallelitäten großer Oberflächen und Strukturen, selbst auf weichen und empfindlichen Materialien – sogar in Bohrungen.
Die rezeptgesteuerte Software unterstützt wiederholbare QS-Routinen und die Berichterstellung.
Weißlichtinterferometer für eine effiziente Qualitätsprüfung
Identifizieren Sie ganz einfach Ihren Ertrag und mögliche Mängel
Einzelnes Feld 37 × 28 mm (~1,24 Mpts) mit erweiterter seitlicher Abdeckung bis zu 87 × 78 mm; geeignet für mehrere Teile und schnelle Gut/Schlecht-Prüfungen.
In vertikaler Richtung (Z-Achse) kann die Höhe der Probe zwischen 0 und 70 mm liegen.
Tiefes und schwer zugängliches Oberflächenprofil
Mit der telezentrischen Optik und einem großen Arbeitsabstand ermöglicht Metro.Lab Messungen in der Nähe von steilen Kanten und in Merkmalen wie Bohrlöchern, während ein sicherer Abstand zum Teil gewahrt bleibt.
Dies ist besonders hilfreich bei makroskopischen Bauteilen mit Bohrungen oder Aussparungen, bei denen herkömmliche Optiken an ihre Grenzen stoßen.
Die Genauigkeit, die Sie benötigen, mit einer Reproduzierbarkeit, der Sie vertrauen können
Ein vertikaler Messbereich von 70 mm bewältigt große Stufen und Formabweichungen, während die Leistung im Nanometerbereich enge Toleranzen unterstützt: <2,85 nm vertikale Auflösung (Phasenauswertung).
Die robuste Konstruktion ohne bewegliche Teile zeichnet sich durch ein sehr geringes Messrauschen und eine hohe Wiederholgenauigkeit aus. Zusätzlich ist ein Schwingungsdämpfungssystem für rauere Umgebungen integriert.
ISO-konforme Messung mit Rezepturen und Dokumentation
TMS ermöglicht rezeptbasierte Messungen für wiederholbare Routinen. Bediener können vordefinierte Sequenzen per Barcode-Scan starten, wobei Proben-/Rezept-IDs automatisch protokolliert werden.
Die Auswertungen erfolgen gemäß DIN/ISO-Normen (z. B. ISO 25178, ISO 4287/4288). Die Ergebnisse werden mit einer klaren Pass/Fail-Anzeige visualisiert, und die Berichte können archiviert oder zur SPC in QS-STAT™ exportiert werden – dies unterstützt die Effizienz, Wiederholbarkeit und Rückverfolgbarkeit im Labor oder in der Produktion.
Messtechnikaufgaben und Visualisierungen
Nachfolgend finden Sie einige reale Ergebnisse aus Standardaufgaben mit gängigen technischen Werkstoffen. Diese Beispiele wurden von unseren Anwendungszentren zusammengestellt, die Machbarkeitsstudien durchführen und vertragliche Messdienstleistungen anbieten.
Wählen Sie mit Zuversicht den passenden Oberflächenprofiler – lassen Sie sich die Leistungsfähigkeit unserer Systeme live demonstrieren.
WLI mit telezentrische Linse und großem Sichtfeld (FoW)
Die Metro.Lab-Plattform kombiniert großflächige Optik, einen großen Z-Bereich und ISO-konforme Software für präzise, wiederholbare Messungen.
- Ein großes Sichtfeld (37 × 28 mm mit Stitching 87 × 78 mm) ermöglicht die Analyse von Chargen oder großen Proben.
- Telezentrische WLI/CSI (Michelson) vermeidet Schattenbildung und ermöglicht Bohrungs-/Flankenmessungen
- 70 mm vertikaler Z-Bereich mit einer Auflösung im Nanometerbereich
- Unterstützung des Bedieners durch Rezepturen und Barcode-Scanner-Konnektivität
Telezentrische Optik
Erfasst auch tief liegende Messpositionen ohne Verschattung.
Intelligente Scan-Technologie
SST unterstützt die Messung von reflektierenden oder matten Oberflächen.
Entkoppelte Messtechnik
Integrierte Schwingungsdämpfung für robuste Messungen in raueren Umgebungen.
Großes Sichtfeld (FoV)
One-Shot-Messfeld von 37 x 28 mm. Mit Stitching bis zu 87 x 78 mm.
Positionierung der Probe
Automatisieren Sie die Mehrfachmessung und das Zusammenfügen großer Komponenten mit einer Größe von bis zu 87 x 78 mm.
Flexibler vertikaler Bereich
Für Probenhöhen von 0 bis 70 mm
Die Leistungsfähigkeit von Metro.Lab in Zahlen
| Vertikaler Bereich | 70 mm |
| Reproduzierbarkeit der Stufenhöhe (5 µ – 5000 µ) | 8 % – 0,005 |
| Vertikale Auflösung | 2,83 nm |
| Sichtfeld (FoV) | 37 x 28 mm |
| Sichtfeld mit Stitching | 87 x 78 mm |
| XY-Pixel | 1284 x 966 |
| Digitale XY-Abtastung | 29,3 µm |
| Reproduzierbarkeit | 20 nm |
| Ebenheit | <0,375 µm |
Wenn Sie mehr benötigen, ist Pro.Surf die richtige Wahl für Sie.
Sowohl Metro.Lab als auch Pro.Surf sind makroskopische, telezentrische WLI/CSI-Profilometer mit einem Z-Bereich von 70 mm. Die Pro.Surf-Reihe ist möglicherweise die bessere Wahl in folgenden Fällen:
- Die zu messenden Komponenten und Chargen sind größer
- Eine höhere Auflösung und Wiederholgenauigkeit erforderlich ist
- Form- und Rauheitsparameter gemessen werden müssen
- ein höherer Durchsatz und eine engere Produktionsintegration erforderlich sind
In solchen Fällen ist Pro.Surf möglicherweise die bessere Wahl.
Relevante Artikel und Downloads
Ebenheit, Dicke und Parallelität
Kombinierte Messung von Ebenheit, Dicke und Parallelität in einem Messvorgang. Flächige Topografie von Ober- und Unterseite für präzise Form- und Lagetoleranzen.
Messung der Flächenrauheit
3D-Analyse der Oberflächenrauheit zur Bewertung funktionaler und prozessrelevanter Eigenschaften. Von Sa und Sq bis zu Str und Sal.
Try before buy
Vor dem Kauf 3D Messtechnik ausführlich bewerten: Finden Sie den richtigen Oberflächenprofiler mit "try before buy" von Polytec.
Downloads
Besprechen Sie Ihre Anforderungen mit unseren Experten
Gerne erfahren wir mehr über Ihre Bauteile, Toleranzen und Herausforderungen. Basierend darauf können wir Empfehlungen zu Technologien und Systemen geben. Oder wir zeigen Ihnen in einer kurzen Demo, wie einfach und effizient Messungen mit dem passenden Polytec Profilometer durchgeführt werden – entweder an unseren Komponenten oder direkt an Ihrem Bauteil.
